기본 정보
| 부스 | T9210 |
| 국가 | CN |
| 웹사이트 | www.hkyq.com.cn |
회사 소개
Zhejiang Hangke Instrument Co., Ltd.는 ATiS HangKe로도 표기되며 1984년에 설립된 Hangzhou Reliability Instrument Factory를 기원으로 하고 중국 항저우에 본사를 두고 있습니다. 오랜 역사와 축적된 기술력을 가진 고급 장비 제조업체로서 반도체 신뢰성 시험과 특수 전원 분야에 집중한다고 설명합니다. 사업은 시험 솔루션, 효율적인 시험 시스템 서비스 및 전자 전원 장비 개발을 중심으로 구성됩니다. 수십 년의 혁신 축적을 통해 전자 부품 전 시리즈를 포괄하는 번인 스크리닝 장비와 시험 시스템을 갖췄다고 설명합니다. 성숙한 판매 체계와 사후 서비스 팀으로 고객 요구에 신속히 대응하며 제품과 서비스를 폭넓은 시장의 고객에게 공급한다고 밝힙니다. 연구개발 역량은 성·부급 과학기술진보상을 여러 차례 수상했습니다.2020년에 Zhejiang Hangke Instrument Co., Ltd.로 사명을 변경했습니다.2026년에는 주식 코드 688006으로 표기된 Hangke Technology Co., Ltd.의 지배 자회사가 되었습니다. 반도체 산업에서 품질, 기술, 고객을 중시하며 고품질, 고효율, 고속의 발전 전략을 제시합니다. 또한 에너지 절감, 소비 저감 및 환경 조화를 지속가능한 발전을 위한 접근의 일부로 설명합니다.
전시 제품
웨이퍼 레벨 신뢰성 시험 시스템은 JEDEC 신뢰성 시험 표준을 기반으로 설계되었으며 6인치와 8인치 웨이퍼 레벨 소자를 제어 가능한 고온에서 통전 신뢰성 시험하는 데 적합합니다. CWBS1000은 고정밀 고전압 출력을 제공하고 고정밀 전류와 제어 온도 등의 파라미터를 장기간 기록하며 기록된 시험 데이터로 여러 형식의 실험 표와 MAP 도표를 출력합니다. 맞춤형 프로브 스테이션은 최대 3장의 웨이퍼를 동시에 번인 시험할 수 있고 각 웨이퍼 Die에 독립 보호 기능을 제공해 과전류와 과전압 한계 초과를 제어합니다. 웨이퍼 산화를 막는 질소 보호, 가스 충전 시 과압 보호, 서로 다른 패키지 소자용 프로브 카드 교체 및 웨이퍼 설치 시 접점 도달 감지를 지원합니다. 실시간 온도와 압력 감지와 함께 HTGB, HTRB 등의 번인 기능 및 Vth, Idss, Igss 파라미터 자동 시험과 데이터 분석을 제공합니다. CWBS1000은 웨이퍼 배치 MAP 설정, 실시간 데이터 표시, 이력 데이터 조회, SECS-II, 중앙 제어 스테이션 연결 및 MES 맞춤 연동을 지원합니다. 동작 범위로 실온~200°C, SiC 등의 6인치와 8인치 웨이퍼, 온도 오버슈트 2°C 미만, 게이트 전압 ±60V, 정확도 0.1%+10mV를 제시합니다. 게이트 전류 사양은 단일 스테이션 HTGB 0.1nA~0.1mA, 정확도 1%±5LSB와 Vth 20mA, 정확도 0.1%±20uA를 포함합니다. 드레인 측은 2000V, 정확도 0.5%*Vmax±1000mV와 단일 스테이션 드레인 전류 1nA~1mA, 정확도 1%±2LSB를 제시합니다. HTRB 오버슈트 2% 미만, HTGB 오버슈트 200mV 미만, TCP/UDP 네트워크 또는 485 직렬 통신, Windows10 이상 및 SECS-II를 통한 제3자 시스템과 데이터 연동을 제시합니다. CWBS1000은 중량 760kg±10%, 외형 2050mm(W) x 1400mm(D) x 1750mm(H), 단일 챔버 1920mm(W) x 1250mm(D) x 303mm(H)이며 AEC Q101, JEP 183, IEC 60749-23 및 JESD 22-A108F를 적용 표준으로 제시합니다. SiC 등의 웨이퍼에 대한 고온·고전압 신뢰성 시험을 대상으로 하며 Vth, Igss 및 Idss 파라미터의 자동 측정과 데이터 분석을 지원합니다. 대규모 집적회로 번인 시험 시스템은 RT~+150°C에서 칩의 HTOL 시험을 수행하고 번인 중 부품 출력 신호를 실시간 모니터링하며 벡터를 자동 비교합니다. 또 다른 대규모 집적회로 번인 구성은 듀얼 온도 존을 지원하며 RT~+150°C HTOL 번인에서 출력 신호를 실시간 검출하고 벡터를 자동 비교합니다. 더 넓은 신뢰성 시험 제품군에는 IGBT 전력 사이클 시험 시스템도 포함됩니다. MCT-3600V-S 번인 소켓은 PPS+gf30 검정 본체, BeCu 접점 및 Ni-base 위 Au plating을 사용합니다. 정격 전류 1A, 절연 저항 1000mΩ min. at 500V DC, 접촉 저항 100mΩ max. at 100mA max, 사용 온도 -55℃~+175℃로 제시됩니다. MCT-3600V-S의 피로 내구 사양은 50000 cycle이며 시험 조건에 따라 결과가 달라질 수 있다는 주석이 있습니다. TQFP-64-0.5-01 번인 소켓은 PEI+gf30 검정 본체, BeCu 접점 및 Ni-base 위 Au plating을 사용합니다. 이 제품도 정격 전류 1A, 절연 저항 1000mΩ min. at 500V DC, 접촉 저항 100mΩ max. at 100mA max, 사용 온도 -55℃~+175℃로 제시됩니다. 피로 내구 사양은 50000 cycle이며 서로 다른 시험 조건에서 결과가 달라질 수 있다고 명시합니다.
역량 및 제품
- 정적 신뢰성 시험 시스템
- 동적 신뢰성 시험 시스템
- 전력 모듈 신뢰성 시험 시스템
- 파워 사이클 시험 시스템
- 커패시터 신뢰성 시험 시스템
- 집적회로 신뢰성 시험 시스템
- 웨이퍼 레벨 신뢰성 시험 시스템
- 대규모 집적회로 번인 시험 시스템
- IGBT 파워 사이클 시험 시스템
- 자동 로딩·언로딩 장비
- 자동 생산라인 솔루션
- 번인 소켓
- 테스트 소켓
- 커넥터
- 고신뢰 프로그래머블 시험 전원
- 환경 시험 챔버
- 제3자 시험 서비스