기본 정보
| 부스 | R7312 |
| 국가 | KR |
| 웹사이트 | www.yjsys.co.kr/en/product/index.php |
회사 소개
Yujeong System Co., Ltd.는 반도체 테스트 장비, IoT 솔루션 및 기타 제품을 공급하며 반도체 테스트 효율을 극대화하기 위한 최적화 솔루션을 제시합니다. 회사는 축적된 시스템 개발 경험과 독자적인 연구개발 역량을 바탕으로 제품과 서비스를 제공하고 고객 만족을 넘어 새로운 고객 가치를 창출한다고 설명합니다. 테스트 대상 메모리 단품 또는 모듈을 소켓에 착탈하여 모바일, PC, 서버용 AP/CPU 기반의 실제 사용자 환경의 OS 레벨에서 테스트하는 싱글/멀티 파라 실장검사기입니다.
전시 제품
Memory Test Solution은 Field Level Tester, Test Board, AP Kit, DUT Block, Socket으로 구성되며 싱글/멀티 파라 Field Level Tester는 모바일, PC, 서버용 AP/CPU 기반 실제 사용자 환경에서 메모리 단품 또는 모듈을 OS 레벨로 검증합니다. Thermal Control Solution은 Temperature Control Rack과 Ultra Low Temp. Chamber를 포함하며 열전 모듈에 빠른 응답의 비선형 강인 제어를 적용하고 MFC（Micro-Flow Cooling）를 사용하는 고효율 수냉식 방열 재킷과 결합해 고온·저온 테스트 조건을 구현합니다. Test Automation Solution은 Handler Integrated Auto Tester와 Semi-Auto Tester를 포함하며 특허 온도 제어 솔루션과 tester·handler의 통합 설계 및 제어를 결합해 높은 효율과 운전 안정성을 갖춘 자동 테스트를 제공합니다. HBM Cube SLT Solution은 HBM SIP Level Tester, HBM All-Pin Tester, HBM Die Level Tester, HBM Real Speed Tester로 구성되며 실제 HBM 동작 속도 조건에서 전체 I/O 기능 테스트가 가능한 HBM all-pin System Level tester로 설명됩니다. Final Test Solution은 DDR Component Final Tester, Flash Component Final Tester, DDR Module Final Tester를 포함하며 반도체 후공정의 최종 테스트를 지원합니다. 최종 테스트 기능은 메모리 단품과 모듈의 DC, 기능, 실제 속도 테스트를 포함하며 DSA（Device Specific Adaptor）를 변경해 여러 종류의 디바이스를 지원하도록 설계되었습니다. 전체 제품군은 실제 사용 환경의 메모리 테스트, 고온·저온 테스트, 자동 검사와 핸들링, HBM all-pin 및 real-speed 시스템 레벨 테스트, 반도체 후공정 최종 테스트를 포괄합니다. 메모리 테스트는 독립 부품 수준의 전기 검사만이 아니라 AP/CPU 기반 모바일, PC, 서버 실제 사용자 환경을 강조하며 온도 제어 시스템은 열전 제어와 수냉 방열을 결합해 온도 조건 시험을 수행합니다. 통합 자동 테스트 장비는 회사의 특허 온도 제어 솔루션과 tester·handler 통합 아키텍처를 사용하며 HBM 시스템 레벨 플랫폼은 실제 HBM 속도에서 전체 I/O 동작까지 테스트 범위를 확장합니다. 제품 페이지는 Memory, Thermal Control, Test Automation, HBM, Final Test 솔루션을 단품, 모듈, 시스템 레벨, 후공정 단계에서 반도체 테스트의 효율과 안정성을 높이기 위한 통합 도구로 제시합니다. 제품 구조는 장비를 Memory Test Solution, Thermal Control Solution, Test Automation Solution, HBM Cube SLT Solution, Final Test Solution의 5개 솔루션 제품군으로 구분합니다.
역량 및 제품
- AP/CPU 기반 실제 사용 환경 메모리 OS 레벨 테스트
- 고온·저온 시험용 온도 제어 시스템
- 핸들러 통합 자동 테스트 장비
- HBM 올핀 실속도 시스템 레벨 테스트
- 메모리 부품·모듈 DC/기능/실속도 최종 테스트