基本情報
| ブース | R7312 |
| 国 | KR |
| ウェブサイト | www.yjsys.co.kr |
会社概要
YUJEONG SYSTEM は、蓄積したシステム開発の経験と独自の研究開発力に基づき、半導体テストの効率を最大化する最適化ソリューションを提供しています。主要製品：メモリテストソリューションは、モバイル FLT（フィールドレベルテスト）分野で世界第 1 位であり、フィールドレベルテスター、テストボード、AP キット、DUT ブロック、ソケットで構成されます。シングルおよびマルチ並列のフィールドレベルテスターは、AP／CPU ベースの実使用環境において、モバイル、PC、サーバー各プラットフォーム向けのメモリ部品またはモジュールを OS レベルで検証します。熱制御ソリューション：温度制御ラックと超低温チャンバーからなり、熱電モジュールに対して高効率かつ応答の速い非線形ロバスト制御を適用し、MFC（マイクロフロークーリング）を用いた高効率水冷放熱ジャケットと組み合わせることで、高温・低温の試験条件を実現します。テスト自動化ソリューションは、世界で唯一のハンドラ一体型 FLT です。ハンドラ一体型オートテスターとセミオートテスターで構成され、当社の特許取得済み温度制御ソリューションを備えた統合型自動試験装置として、テスターとハンドラの統一的な設計・制御により高い効率と稼働安定性を実現します。HBM Cube SLT ソリューションは、世界初のオールピン・実速度テスターです。HBM SIP レベルテスター、HBM オールピンテスター、HBM ダイレベルテスター、HBM 実速度テスターで構成され、HBM のオールピンテストが可能な世界初のシステムレベルテスターとして、実速度の HBM 動作条件下でフル I/O の機能テストをサポートします。ファイナルテストソリューション：DDR コンポーネントファイナルテスター、フラッシュコンポーネントファイナルテスター、DDR モジュールファイナルテスターからなり、後工程における最終テストに対応します。メモリ部品およびモジュールに対する DC・機能・実速度テストを行い、DSA（Device Specific Adaptor：デバイス専用アダプター）を交換することで多様な品種をカバーする汎用性を高めています。
対応領域・製品
- 半導体テスト効率化の最適化ソリューション
- フィールドレベルテスターによるメモリテスト
- OS レベルのメモリ検証
- HBM オールピン・システムレベルテスター
- 実速度 HBM 条件でのフル I/O 機能テスト
- 熱電モジュールの非線形ロバスト制御
- MFC マイクロフロークーリング水冷放熱ジャケット
- ハンドラ一体型自動試験装置
- DDR コンポーネント・モジュール ファイナルテスター
- DSA 交換による多品種対応
- 温度制御ラックと超低温チャンバー
- HBM ダイレベル・SIP レベルテスター