기본 정보
| 부스 | T9508 |
| 국가 | JP |
| 웹사이트 | yonata.co.jp/en |
회사 소개
미래를 만드는 차세대 측정 솔루션. 당사는 고속 광/전기 측정 기술과 웨이퍼/칩 레벨 핸들링 기술을 활용하여 CPO 및 칩렛과 같은 첨단 반도체용 최첨단 테스트 솔루션을 공급합니다. 당사의 미래를 만드는 차세대 측정 솔루션 YONATA Electronic은 고속 광/전기 측정 기술과 웨이퍼/칩 레벨 핸들링 기술을 활용하여 CPO 및 칩렛과 같은 첨단 반도체용 최첨단 테스트 솔루션을 공급합니다. 당사의 세 가지 핵심 역량: - 고속 신호 처리 - 첨단 핸들링 - 고정밀 아날로그 신호 처리 이러한 역량을 통해 연구개발부터 양산까지 포괄적인 테스트 솔루션을 제공할 수 있습니다. 고객과 함께 미래를 공동 창조하는 기술 파트너로서, 모든 단계에서 미래지향적 가치를 제공하기 위해 최선을 다하고 있습니다. YONATA Electronic이 제공하는 테스트 시스템은 다음과 같습니다: - PIC, OE 및 CPO 웨이퍼와 다이 테스트용 1.6T Optical Transceiver Tester - CPO Test Solutions - Laser Tester (Die-CoC Tester) - CoC BI Tester - Memory (DRAM HBM Nand) Tester - WAT Parametric, HV Parametric and Parallel Parametric Tester 고속 신호 처리, 첨단 핸들링, 고정밀 아날로그 신호 처리라는 세 가지 핵심 역량을 통해 연구개발부터 양산까지 포괄적인 테스트 솔루션을 제공할 수 있습니다. 고객과 함께 미래를 공동 창조하는 기술 파트너로서, 모든 단계에서 미래지향적 가치를 제공하기 위해 최선을 다하고 있습니다.
전시 제품
고속 광/전기 신호 처리 기술과 칩 레벨 핸들링 역량을 결합하여 광전자 소자용 양산 테스트 솔루션을 제공합니다. 다양한 소자 형상과 테스트 요구사항에 맞춰 PIC, OE 및 CPO 웨이퍼와 다이 테스트용 맞춤형 테스트 시스템을 개발합니다. 자체 BERT 보드를 설계·제조하여 완전한 RF 테스트 기능을 구현합니다. 멀티사이트 테스트를 통해 테스트 효율을 극대화하고 대량 양산에 최적화된 솔루션을 제공합니다. 빅데이터, 클라우드 컴퓨팅, 5G/AI 인프라의 발전과 함께 고속 통신 테스트는 차세대 네트워크의 품질과 성능을 뒷받침하는 핵심 기반이 되었습니다. Yonata는 광 트랜시버, CPO 및 고속 케이블을 위한 DCA, CDR, BERT 중심의 종합 고속 통신 테스트 솔루션을 제공합니다. YONATA의 전기적 특성 평가 및 WAT 테스트 솔루션은 fA/nV 수준의 고정밀도와 트라이액셜 SMU 설계가 특징입니다. 시스템 누설 전류를 0.5 pA 미만으로 억제하여 WAT 및 SiPh와 같은 첨단 소자 응용에 최적화되어 있습니다. 시스템은 표준 PXIe 아키텍처를 채택하여 ATE 장비와 원활하게 통합할 수 있습니다. AI 데이터센터, 고대역폭 스위치 및 고속 인터커넥트가 빠르게 발전하면서 CPO(Co-Packaged Optics)는 차세대 광전자 통합과 고밀도 패키징을 지원하는 핵심 기술로 주목받고 있습니다. Yonata는 실리콘 포토닉스 웨이퍼 테스트, OE 다이 레벨 테스트 및 CPO 모듈 기능 테스트를 포괄하는 토털 CPO 테스트 솔루션을 제공합니다.
역량 및 제품
- PIC/OE/CPO 웨이퍼·다이 맞춤형 테스트 시스템
- 1.6T 광 트랜시버 테스터
- BERT 보드 및 RF 테스트
- DCA/CDR/BERT 고속 통신 테스트
- fA/nV급 WAT 전기적 특성 측정
- CPO 종합 테스트 솔루션