기본 정보
| 부스 | T9508 |
| 국가 | JP |
| 웹사이트 | yonata.co.jp/en |
회사 소개
Yonata Electronics는 고속 광학／전기 측정 기술과 웨이퍼·칩 레벨 핸들링 기술을 결합해 CPO 및 chiplet 같은 첨단 반도체용 차세대 테스트 솔루션을 제공합니다. 세 가지 핵심 역량은 고속 신호 처리, 첨단 핸들링 및 고정밀 아날로그 신호 처리이며, 회사는 이를 통해 연구개발부터 양산까지 포괄적인 테스트 솔루션을 지원한다고 설명합니다. Yonata Electronics는 고객과 미래 가치를 공동 창출하는 기술 파트너로서 축적된 지식을 활용해 다양한 요청에 유연하게 대응한다고 설명합니다. 회사는 기술 상담부터 도입까지 서비스를 제공하며 제품 문의, 기술 상담, 시스템 도입 검토 단계의 논의까지 폭넓게 대응합니다. 도쿄 고토구를 거점으로 하며, 경험을 갖춘 직원이 넓은 지역의 고객에게 신속하게 대응하고 고객 요구에 맞는 제안을 제공한다고 설명합니다. 고속 신호 처리 역량에는 고속 ASIC 설계, PCB 설계 기술 및 제조 공정에 대한 전문성이 포함되며, 프로브와 handler 역량은 die handler 기술과 know-how를 기반으로 합니다. 제품 및 솔루션 항목에는 co-packaged-optics KGD test systems, Silicon Photonics PIC Wafer Test System, WAT & RDL Test Systems 및 HBM KGSD Test System이 포함됩니다. Yonata Electronics는 최첨단 AI 산업을 위한 Optical x Electrical Test Solutions를 중점 영역으로 제시하며, 풍부한 지식을 활용해 솔루션을 제안하고 다양한 요청에 유연하게 대응한다고 설명합니다. 테스트 시스템 포트폴리오에는 PIC, OE 및 CPO 웨이퍼·다이 테스트용 1.6T Optical Transceiver Tester, CPO Test Solutions, Laser Tester (Die-CoC Tester), CoC BI Tester, DRAM·HBM·Nand용 Memory tester, WAT Parametric, HV Parametric 및 Parallel Parametric tester도 포함됩니다.
전시 제품
광전자 소자를 위해 Yonata Electronics는 고속 광학／전기 신호 처리와 칩 레벨 핸들링을 결합해 양산 테스트 솔루션을 제공합니다. PIC, OE 및 CPO 웨이퍼·다이 테스트용으로 다양한 소자 형상과 테스트 요구에 맞춘 맞춤형 테스트 시스템을 개발합니다. 자체 BERT 보드를 설계·제조해 완전한 RF 테스트 기능을 제공하고 멀티사이트 테스트를 통해 대량 생산의 테스트 효율을 높입니다. 빅데이터, 클라우드 컴퓨팅 및 5G/AI 인프라가 발전함에 따라 Yonata Electronics는 고속 통신 테스트를 차세대 네트워크의 품질과 성능을 뒷받침하는 기반으로 제시합니다. 고속 통신 테스트 솔루션은 DCA, CDR 및 BERT를 중심으로 하며 광 트랜시버, CPO 및 고속 케이블을 지원합니다. 전기적 특성 평가 및 WAT 테스트 솔루션은 트라이액셜 SMU 설계를 통해 fA/nV 수준의 고정밀을 제공합니다. 시스템 누설 전류를 0.5 pA 미만으로 억제해 WAT 및 SiPh 같은 첨단 소자 응용에 최적화됩니다. 시스템은 표준 PXIe 아키텍처를 채택해 ATE 장비와 통합할 수 있습니다. AI 데이터센터, 고대역폭 스위치 및 고속 인터커넥트가 빠르게 발전하면서 CPO는 차세대 광전자 통합과 고밀도 패키징을 지원하는 기술로 제시됩니다. Yonata Electronics는 실리콘 포토닉스 웨이퍼 테스트, OE 다이 레벨 테스트 및 CPO 모듈 기능 테스트를 포함하는 토털 CPO 테스트 솔루션을 제공합니다.
역량 및 제품
- CPO/Chiplet 첨단 반도체 테스트 솔루션
- 고속 광전 측정
- Wafer/Chip 핸들링
- 1.6T 광트랜시버 PIC/OE/CPO 웨이퍼·다이 테스트
- Silicon Photonics PIC Wafer Test System
- WAT/RDL 테스트 시스템
- HBM KGSD 테스트 시스템
- Laser Die-CoC 테스트
- CoC 번인 테스트
- DRAM/HBM/Nand 메모리 테스트
- WAT/HV/Parallel Parametric 테스트
- PIC/OE/CPO 맞춤 웨이퍼·다이 테스트 시스템
- 자체 BERT 보드 기반 전체 RF 테스트
- Multi-Site 양산 테스트
- DCA/CDR/BERT 고속 통신 테스트
- fA/nV Triaxial SMU 정밀 WAT 측정
- CPO 전체 테스트 솔루션