基本資料
| 攤位 | T9508 |
| 國別 | JP |
| 產品分類 | Burn-In Systems · Functional Test Systems · Handlers; Positioner Systems · Memory Test Systems · Optical Test Systems · Package Test Systems · Parametric Test Systems · Probe Card Maintenance and Analysis Systems · Probing Equipment incl. Analytical; Circuit; Manual; E-Beam; Optical; Wafer Probers · Wireless, non-contact Test Systems |
| 網站 | yonata.co.jp/en |
公司簡介
形塑未來的新世代量測解決方案 我們是先進半導體（如 CPO 與 chiplet）尖端測試解決方案的供應商，運用高速光學／電氣量測技術與晶圓／晶片級的處置技術。我們的「形塑未來的新世代量測解決方案」——YONATA Electronic 是先進半導體（如 CPO 與 chiplet）尖端測試解決方案的供應商，運用高速光學／電氣量測技術與晶圓／晶片級的處置技術。我們的三項核心能力：－高速訊號處理 －先進處置技術 －高精度類比訊號處理，使我們能夠提供從研發到量產的完整測試解決方案。作為與客戶共創未來的技術夥伴，我們致力於在每一步提供具前瞻性的價值。YONATA Electronic 提供的測試系統包括：－用於 PIC、OE 與 CPO 晶圓及裸晶測試的 1.6T 光收發器測試機。－CPO 測試解決方案 －雷射測試機（Die-CoC Tester） －CoC BI 測試機 －記憶體（DRAM HBM NAND）測試機 －WAT 參數、HV 參數與平行參數測試機。三項核心能力——高速訊號處理、先進處置技術與高精度類比訊號處理——使我們能夠提供從研發到量產的完整測試解決方案。作為與客戶共創未來的技術夥伴，我們致力於在每一步提供具前瞻性的價值。
能力與產品項目
- CPO Test Solutions
- CPO 與 chiplets 測試解決方案
- Laser Tester（Die-CoC Tester）
- Memory（DRAM HBM Nand）Tester
- PIC、OE 與 CPO 晶圓及 die 測試用 1.6T Optical Transceiver Tester
- WAT Parametric、HV Parametric 與 Parallel Parametric Tester
- wafer/chip-level handling 技術
- 半導體測試用高精度類比訊號處理
- 半導體測試用高速訊號處理
- 高速光電量測技術