基本情報
| ブース | T9508 |
| 国 | JP |
| ウェブサイト | yonata.co.jp/en |
会社概要
Yonata Electronics 株式会社は、高速光／電気測定技術とウェハ・チップレベルのハンドリング技術を組み合わせ、CPO や chiplet などの先端半導体向けに次世代テストソリューションを提供しています。3つの中核能力は高速信号処理、先進ハンドリング、高精度アナログ信号処理で、これらによって研究開発から量産までの包括的なテストソリューションを支えるとしています。Yonata Electronics 株式会社は、顧客と将来価値を共創する技術パートナーとして、蓄積した知見を活用し、多様な要望へ柔軟に対応すると説明しています。技術相談から導入までのサービスを提供し、製品に関する質問、技術相談、システム導入検討段階での協議まで幅広く対応します。東京・江東区を拠点とし、経験を持つスタッフが広い地域の顧客へ迅速に対応し、顧客ニーズに合わせた提案を行うとしています。高速信号処理では高速 ASIC 設計、PCB 設計技術、製造プロセスの知見を持ち、プローブとハンドラの能力では die handler 技術とノウハウを有しています。製品・ソリューションには、co-packaged-optics KGD test systems、Silicon Photonics PIC Wafer Test System、WAT & RDL Test Systems、HBM KGSD Test System が含まれます。Yonata Electronics 株式会社は、先端 AI 産業向けの Optical x Electrical Test Solutions を重点領域として掲げ、豊富な知見を活用して提案し、多様な要望へ柔軟に対応するとしています。テストシステムのポートフォリオには、PIC、OE、CPO のウェハ・ダイ試験向け 1.6T Optical Transceiver Tester、CPO Test Solutions、Laser Tester (Die-CoC Tester)、CoC BI Tester、DRAM・HBM・Nand 向け Memory tester、WAT Parametric、HV Parametric、Parallel Parametric tester も挙げられています。
展示製品
光電子デバイス向けに、Yonata Electronics 株式会社は高速光／電気信号処理とチップレベルのハンドリングを組み合わせ、量産テストソリューションを提供します。PIC、OE、CPO のウェハ・ダイ試験向けに、異なるデバイス形状とテスト要件へ合わせたカスタムテストシステムを開発します。自社で BERT ボードを設計・製造してフル RF テスト機能を提供し、マルチサイトテストによって大量生産時のテスト効率を高めます。ビッグデータ、クラウドコンピューティング、5G/AI インフラの発展に伴い、Yonata Electronics 株式会社は高速通信テストを次世代ネットワークの品質と性能を支える基盤として位置付けています。高速通信テストソリューションは DCA、CDR、BERT を中心とし、光トランシーバー、CPO、高速ケーブルに対応します。電気特性評価および WAT テストソリューションは、トライアキシャル SMU 設計によって fA/nV レベルの高精度を提供します。システムリーク電流を 0.5 pA 未満に抑えることで、WAT や SiPh などの先端デバイス用途に最適化されています。システムは標準 PXIe アーキテクチャを採用し、ATE 装置と統合できます。AI データセンター、高帯域スイッチ、高速インターコネクトが急速に発展する中、CPO は次世代の光電子統合と高密度パッケージングを支える技術として位置付けられています。Yonata Electronics 株式会社は、シリコンフォトニクスのウェハ試験、OE のダイレベル試験、CPO モジュール機能試験をカバーするトータル CPO テストソリューションを提供します。
対応領域・製品
- CPO／Chiplet先端半導体テストソリューション
- 高速光電気計測
- Wafer／Chipハンドリング
- 1.6T光トランシーバPIC／OE／CPOウェーハ・ダイ試験
- Silicon Photonics PIC Wafer Test System
- WAT／RDLテストシステム
- HBM KGSDテストシステム
- Laser Die-CoCテスト
- CoCバーンイン試験
- DRAM／HBM／Nandメモリテスト
- WAT／HV／Parallel Parametric試験
- PIC／OE／CPOカスタムウェーハ・ダイテストシステム
- 自社BERTボードによるフルRFテスト
- Multi-Site量産テスト
- DCA／CDR／BERT高速通信試験
- fA／nV Triaxial SMU高精度WAT計測
- CPO総合テストソリューション