基本情報
| ブース | T9508 |
| 国 | JP |
| 製品カテゴリ | Burn-In Systems · Functional Test Systems · Handlers; Positioner Systems · Memory Test Systems · Optical Test Systems · Package Test Systems · Parametric Test Systems · Probe Card Maintenance and Analysis Systems · Probing Equipment incl. Analytical; Circuit; Manual; E-Beam; Optical; Wafer Probers · Wireless, non-contact Test Systems |
| ウェブサイト | yonata.co.jp/en |
会社概要
未来を形づくる次世代計測ソリューション 当社は、高速な光学／電気計測技術とウェハ／チップレベルのハンドリング技術を活用し、CPO やチップレットといった先端半導体向けの最先端テストソリューションを提供するサプライヤーです。当社の「未来を形づくる次世代計測ソリューション」——YONATA Electronic は、高速な光学／電気計測技術とウェハ／チップレベルのハンドリング技術を活用し、CPO やチップレットといった先端半導体向けの最先端テストソリューションを提供するサプライヤーです。当社の三つのコアコンピタンス：－高速信号処理 －先進ハンドリング －高精度アナログ信号処理 により、研究開発から量産まで包括的なテストソリューションを提供できます。顧客とともに未来を共創する技術パートナーとして、私たちはあらゆる段階で先見性のある価値を提供することに尽力しています。YONATA Electronic が提供するテストシステムは次のとおりです：－PIC、OE、CPO のウェハおよびダイテスト用 1.6T 光トランシーバテスタ。－CPO テストソリューション －レーザテスタ（Die-CoC Tester） －CoC BI テスタ －メモリ（DRAM HBM NAND）テスタ －WAT パラメトリック、HV パラメトリックおよびパラレルパラメトリックテスタ。三つのコアコンピタンス——高速信号処理、先進ハンドリング、高精度アナログ信号処理——により、研究開発から量産まで包括的なテストソリューションを提供できます。顧客とともに未来を共創する技術パートナーとして、私たちはあらゆる段階で先見性のある価値を提供することに尽力しています。
対応領域・製品
- CPO Test Solutions
- CPO および chiplets 向け試験ソリューション
- Laser Tester（Die-CoC Tester）
- Memory（DRAM HBM Nand）Tester
- PIC、OE、CPO のウェハおよび die 試験向け 1.6T Optical Transceiver Tester
- WAT Parametric、HV Parametric、Parallel Parametric Tester
- wafer/chip-level handling 技術
- 半導体試験向け高精度アナログ信号処理
- 半導体試験向け高速信号処理
- 高速光・電気測定技術