기본 정보
| 부스 | N1170 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.utechzone.com.tw |
회사 소개
Utechzone Co., Ltd.는 1992년에 설립되어 ‘We Serve with Vision’을 핵심 정신으로 PCB, 반도체 및 디스플레이 제조사를 지원하며, Machine Vision을 핵심 기술로 하는 Automatic Optical Inspection 시스템을 30년 넘게 개발해 왔다. 회사는 AOI 시스템이 기존의 사람에 의한 검사를 대체하도록 설계되었으며, machine vision을 이용해 주관성과 피로를 줄이는 동시에 높은 정밀도와 효율을 달성한다고 설명한다. Utechzone Co., Ltd.는 optics, image-processing algorithm, automation, mechanics, motion control을 통합하며, AOI 정의에서는 시스템을 optic sensor, software, mechanism, electronic control로 구분한다. optic sensor 계층에는 CCD Camera, Lens, Lighting이, software 계층에는 Algorithm, Communication, Image Processing이, mechanism 계층에는 Robotic Arm, Mechanical Design, Motion Interface가, electronic control 계층에는 PLC와 Control PC가 포함된다. 회사가 제시한 AOI 응용에는 Quality Control, Scientific Inspection, Safety Check가 포함되며 고객 초점은 PCB, 반도체 및 디스플레이 제조를 포괄한다. Utechzone Co., Ltd.는 맞춤형 기술과 경험 많은 인력이 합리적인 비용으로 높은 품질과 효율을 달성하는 목표를 지원하며, 오랜 Automated Optical Inspection 연구 경험을 바탕으로 서비스를 반도체 검사로 확장했다고 설명한다. 제품 구조는 PCB 검사 장비, IC 기판 검사 장비, roll-to-roll 검사 장비, LCD 및 LCM 자동 광학 검사 장비, OLED 및 TP 자동 광학 검사 장비, 반도체 자동 광학 검사 장비, COF 검사 장비, 기타 검사 장비를 포함해 이러한 확장을 반영한다. 반도체 검사에서는 8”~12” Wafer 자동 광학 검사에 white-light OM, fluorescence OM, film-thickness measurement, stress 및 residual analysis, CESA (coating edge status analysis), optional Bevel inspection을 제시한다.
전시 제품
flexible, rigid, rigid-flex board용으로 Utechzone Co., Ltd.는 독자적인 고해상도 조명 구성과 매끄러운 기구 설계를 결합해 단면과 양면 외관 검사를 빠르게 수행할 수 있는 자동 외관 검사 장비를 제공한다. 같은 board 검사 장비는 높은 검사 품질과 높은 생산 속도를 동시에 제공하고 다양한 크기의 회로기판에 적용할 수 있다. PCB 및 HDI board 외관 검사에서 Utechzone Co., Ltd.는 AI 자동 결함 분류, 재판정, hot-spot analysis를 매끄러운 infeed mechanism 설계와 결합하고 이를 높은 안정성과 높은 검사 속도를 갖는 자동 외관 검사 장비로 설명한다. HDI 회로 검사기는 HDI board 전용으로 설계되며 가장 미세한 20um 검사 능력, 대형 stage 기구 설계, 검사 capacity를 높이기 위한 system online-inspection setting을 제시한다. 다기능 검사 및 측정 복합 시스템은 3D measurement, short-distance measurement, expansion/shrinkage measurement를 한 장비에 결합하고 AI 자동 결함 분류와 재판정도 제공한다. 외관 검사에서 이 다기능 시스템은 최소 검사 능력 15um를 제시하며 cost-effective한 검사 및 측정 장비로 설명된다. 더 넓은 제품 카탈로그는 PCB 검사, IC 기판 검사, roll-to-roll 검사, LCD 및 LCM AOI, OLED 및 TP AOI, 반도체 AOI, COF 검사, 기타 검사 장비를 포함해 회사가 명시한 여러 기판, 디스플레이, 반도체 형식에 검사 기술을 적용한다. 반도체 wafer용으로 Utechzone Co., Ltd.는 8”~12” Wafer 검사에 white-light OM과 fluorescence OM 기능을 제시해 wafer 검사에 명시된 광학 모드를 추가한다. 같은 반도체 검사 장비는 film-thickness measurement, stress 및 residual analysis, CESA (coating edge status analysis), optional Bevel inspection을 포함해 wafer platform을 표면 imaging에서 명시된 측정 및 분석 기능으로 확장한다. 이들 시스템 전반에서 Utechzone Co., Ltd.의 Machine Vision 접근법은 optical sensing, algorithm과 image processing, automation, mechanical design, motion control, electronic control을 통합하고, 전시 수준 기능으로 AI 지원 defect handling, 고해상도 illumination, online inspection setting, 여러 measurement mode를 PCB, HDI, 디스플레이 관련 및 반도체 검사 환경에 추가한다.
역량 및 제품
- PCB 자동 광학 검사 장비
- IC 기판 검사 장비
- 롤투롤 검사 장비
- LCD/LCM 자동 광학 검사 장비
- OLED/TP 자동 광학 검사 장비
- 반도체 자동 광학 검사 장비
- COF 검사 장비
- HDI 보드 20um 회로 검사
- 3D/단거리/신축 복합 측정
- 8”~12” 웨이퍼 백색광·형광 OM 검사
- 웨이퍼 막 두께 측정
- 웨이퍼 응력 및 잔류 분석
- 웨이퍼 코팅 엣지 상태 분석(CESA)
- 웨이퍼 Bevel inspection