基本情報
| ブース | N1170 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | www.utechzone.com.tw |
会社概要
Utechzone Co., Ltd.は1992年設立で、「We Serve with Vision」を中核精神としてPCB、半導体、ディスプレイメーカーを支援し、Machine Visionを中核技術とするAutomatic Optical Inspectionシステムを30年以上にわたり開発してきた。同社は、AOIシステムが従来の人による検査を置き換えることを目的とし、machine visionによって主観性と疲労を抑えながら高精度と高効率を実現すると説明している。Utechzone Co., Ltd.は光学、画像処理アルゴリズム、自動化、機構、モーション制御を統合し、AOIの定義ではシステムをoptic sensor、software、mechanism、electronic controlに分けている。optic sensor層にはCCD Camera、Lens、Lighting、software層にはAlgorithm、Communication、Image Processing、mechanism層にはRobotic Arm、Mechanical Design、Motion Interface、electronic control層にはPLCとControl PCが含まれる。同社が示すAOI用途にはQuality Control、Scientific Inspection、Safety Checkがあり、顧客分野はPCB、半導体、ディスプレイ製造をカバーする。Utechzone Co., Ltd.は、カスタマイズ技術と経験豊富なスタッフが合理的なコストで高品質・高効率を実現する目標を支え、長年のAutomated Optical Inspection研究経験によってサービスを半導体検査へ拡張したとしている。製品構成にはPCB検査装置、IC基板検査装置、ロールツーロール検査装置、LCDおよびLCM自動光学検査装置、OLEDおよびTP自動光学検査装置、半導体自動光学検査装置、COF検査装置、その他の検査装置が含まれ、この拡張を反映している。半導体検査では、8”~12” Wafer向け自動光学検査に白色光OM、蛍光OM、膜厚測定、応力／残留分析、CESA (coating edge status analysis)、オプションのBevel inspectionを挙げている。
展示製品
フレキシブル基板、リジッド基板、リジッドフレックス基板向けに、Utechzone Co., Ltd.は独自の高解像度照明構成と滑らかな機構設計を組み合わせ、片面・両面の外観検査を高速に行える自動外観検査装置を提供する。同じ基板検査装置は、高品質検査と高い生産速度を両立し、さまざまなサイズの回路基板に適用できる。PCBおよびHDI基板の外観検査では、AI自動欠陥分類、再判定、ホットスポット解析を滑らかな投入機構設計と組み合わせ、高い安定性と高い検査速度を持つ自動外観検査装置として説明している。HDI回路検査機はHDI基板専用に設計され、最細20umの検査能力、大型ステージの機構設計、検査能力を高めるシステムのオンライン検査設定を備える。多機能検査・測定複合機は3D測定、短距離測定、伸縮測定を1台に統合し、AI自動欠陥分類と再判定も提供する。外観検査では、この多機能システムは最小検査能力15umを示し、コスト効率の高い検査・測定装置として提示されている。より広い製品カタログにはPCB検査、IC基板検査、ロールツーロール検査、LCDおよびLCM AOI、OLEDおよびTP AOI、半導体AOI、COF検査、その他の検査装置があり、会社が明示した複数の基板、ディスプレイ、半導体形式に検査技術を適用できる。半導体ウェハ向けには、8”~12” Wafer検査に白色光OMと蛍光OM機能を挙げ、ウェハ検査用として明示された光学モードを提供する。同じ半導体検査装置は膜厚測定、応力／残留分析、CESA (coating edge status analysis)、オプションのBevel inspectionも含み、ウェハプラットフォームを表面画像から明示された測定・分析機能へ拡張する。これらのシステム全体で、Utechzone Co., Ltd.のMachine Visionアプローチは光学センシング、アルゴリズムと画像処理、自動化、機構設計、モーション制御、電子制御を統合し、展示レベルの機能としてAI支援の欠陥処理、高解像度照明、オンライン検査設定、複数の測定モードをPCB、HDI、ディスプレイ関連、半導体検査環境へ追加する。
対応領域・製品
- PCB自動光学検査装置
- IC基板検査装置
- ロール・ツー・ロール検査装置
- LCD/LCM自動光学検査装置
- OLED/TP自動光学検査装置
- 半導体自動光学検査装置
- COF検査装置
- HDI基板20um配線検査
- 3D・短距離・伸縮複合測定
- 8”~12”ウェハー白色光・蛍光OM検査
- ウェハー膜厚測定
- ウェハー応力・残留分析
- ウェハーcoating edge status analysis（CESA）
- ウェハーBevel inspection