基本情報
| ブース | N1170 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection |
| ウェブサイト | www.utechzone.com.tw |
会社概要
由田新技（Utechzone Co., Ltd.）は 1992 年に設立され、「We Serve with Vision」という中核精神のもと、PCB・半導体・ディスプレイメーカーを支援してきました。長年にわたり、由田は従来の目視検査に代わる精密な自動光学検査（AOI）システムの製造に注力してきました。由田のカスタマイズ技術と経験豊富なスタッフは、合理的なコストで高品質・高効率という目標の達成を支援します。長年にわたる自動光学検査分野の研究に基づき、当社はサービスを半導体検査にまで拡大し、お客様に高品質・高効率の自動光学検査システムを提供することを目指して、由田を世界をリードする AOI のエキスパートにしています。
対応領域・製品
- Automatic Optical Inspection システム
- 半導体検査向け Automatic Optical Inspection システム