基本資料
| 攤位 | N1170 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection |
| 網站 | www.utechzone.com.tw |
公司簡介
由田新技（Utechzone Co., Ltd.）成立於 1992 年，秉持「We Serve with Vision」的核心精神，支援 PCB、半導體與顯示器製造商。多年來，由田專注於生產精密的自動光學檢測（AOI）系統，用以取代傳統的人眼檢測。由田的客製化技術與經驗豐富的團隊，協助以合理成本達成高品質與高效率的目標。基於多年在自動光學檢測領域的紮實研究，我們已將服務拓展至半導體檢測，期望為客戶提供高品質、高效率的自動光學檢測系統，使由田成為全球領先的 AOI 專家。
能力與產品項目
- Automatic Optical Inspection 系統
- 半導體檢測用 Automatic Optical Inspection 系統