기본 정보
| 부스 | J3034 |
| 국가 | KR |
| 웹사이트 | www.tse21.com |
회사 소개
TSE의 30년은 혁신과 과감한 도전의 역사입니다. 지속적인 발전을 통해 당사는 한국 반도체 테스트 산업의 개척자가 되었습니다. 현재의 한계를 넘어서는 첨단 기술의 창조자이자 긍정적인 미래를 만들어가는 비전 제시자로 발전해 왔습니다. TSE의 30년 혁신 유산은 다양한 고객 경험, 입증된 역량 및 탁월한 실적을 통해 확인됩니다. 당사는 기술을 단순히 따라가지 않고 새로운 기준을 세우며 업계를 선도합니다. 당사는 MEMS 기술을 활용한 LC 부품을 개발했으며, 고성능 반도체 소자의 세 가지 핵심 테스트 InterconneXion 하드웨어 구성요소인 프로브 카드, 인터페이스 보드 및 테스트 소켓을 위한 통합 인터페이스 솔루션 i3unify를 제공하는 세계 유일의 기업이 되었습니다. TSE의 지속적인 혁신과 도전에 대한 헌신은 고유한 가치를 형성하며, 이를 바탕으로 고객과 함께 미래로 나아갑니다.
전시 제품
TSE는 초고속 테스트용 고성능 프로브 카드, 인터페이스 보드, 테스트 소켓 및 Loop Back 장치를 모두 사내에서 제공하는 세계 유일의 기업입니다. 수직 통합으로 구축한 강력한 공급망을 통해 탁월한 가치를 제공합니다. Probe Card는 DRAM/NAND/Flash 웨이퍼 내 칩의 기능을 테스트하는 데 사용되는 장비입니다. 테스터와 칩을 전기적으로 연결하고 입출력 신호 연결을 통해 반도체 칩의 결함을 검출합니다. 메모리 테스트 인터페이스 보드는 DDR, LPDDR 및 GDDR과 같은 고속 메모리 소자의 성능과 신뢰성을 검증하기 위한 최적의 솔루션을 제공합니다. 고속 신호 무결성과 전력 무결성을 기반으로 다양한 테스트 환경에서 안정적인 테스트 결과를 보장합니다. 기존 테스트 인프라를 활용하여 개별 HBM 또는 다이 레벨 소자를 검사하는 KGD (Known Good Die) 테스트 솔루션입니다.
역량 및 제품
- MEMS LC 부품 개발
- 테스트 인터커넥트 통합 인터페이스 솔루션
- DRAM/NAND/Flash 웨이퍼 프로브 카드
- DDR/LPDDR/GDDR 메모리 테스트 인터페이스 보드
- 고성능 반도체 테스트 소켓
- 초고속 테스트용 Loop Back 소자
- HBM/베어다이 KGD 테스트 솔루션