기본 정보
| 부스 | K3367 |
| 국가 | JP |
| 웹사이트 | www.tesec.co.jp/en |
회사 소개
Tesec Corporation은 1969년 12월 22일 설립된 전력반도체 시험 장비 제조업체이며 2026년 3월 기준 직원 수는 211명입니다. 도쿄에 본사, 나가노에 Ina Factory, 구마모토에 사무소를 두고 있습니다. 주요 사업은 반도체 제조 장비, handlers, testers, 통합 시스템 제조이며 회사는 전력반도체 시험 분야에서 50년이 넘는 경험을 제시합니다. 고전압 및 대전류 측정 기술은 웨이퍼와 칩에서 패키지와 모듈까지 다양한 전력 소자 형태를 대상으로 하며 정적 및 동적 특성 평가를 모두 지원합니다. 시험 시스템과 함께 여러 종류의 handler를 제공하며 Film Frame Test Handler, Die Sorter, Gravity Handler, MEMS Handler, TAB Handler, Discrete Device Test System, IPD/IPM Test System, Thermal Resistance Tester, Inductive Load Tester, Dynamic Test System을 장비 범주로 제시합니다. 해외 운영은 미국 TESEC, INC.의 California 및 Arizona 거점, Malaysia의 TESEC (M) SDN. BHD., China의 TESEC CHINA (Shanghai) CO., LTD.를 포함해 국제 반도체 장비 사업을 지원합니다.
전시 제품
471-TT Version LA는 SiC/GaN 전력반도체용 완전 자동 웨이퍼 레벨 CP 공정 시험 시스템으로 SiC MOSFET, GaN FET, Si MOSFET, IGBT를 대상으로 DC 정적 특성과 유도 부하 UIS/Avalanche Ruggedness 시험을 한 시스템에서 수행합니다. DC 측정 항목은 breakdown voltage Vds/Vdss, leakage current IDSS, threshold voltage Vgs(th), on-resistance Rds(on)을 포함하며 웨이퍼 공정에서 여러 칩을 동시에 측정할 수 있습니다. 표준 사양은 1.2 kV / 65 A, C-E 130 A이고 2.2 kV / 65 A, C-E 200 A로 확장할 수 있으며 옵션 유닛을 사용하면 최대 10 kV / 1200 A 측정이 가능합니다. Tesec Corporation은 다중 칩 동시 측정 개념을 기존 tester 대비 생산성 향상에 활용하면서 고전압 및 대전류 측정 기술을 디스크리트 반도체 정적 특성 평가에 적용합니다. 530-IT IPD/IPM Test System은 IC tester 개념과 회사의 전력 소자 측정 기술을 결합해 Logic IC와 Power Devices가 결합된 IPD/IPM 및 다양한 소자를 시험합니다. Gravity Handler LT4530 시리즈는 두 구성으로, LT4530T는 8 sites, 냉온 시험, high-frequency contacts, 고처리량을 지원하고 LT4530D는 4 sites와 고온 시험을 지원합니다. 0 test time 조건에서 LT4530T는 0.9초 index time과 8 sites로 최대 28,000 UPH, LT4530D는 0.6초 index time과 4 sites로 최대 18,000 UPH를 제공하며 loader/unloader 중단 시간이 없습니다. LT4530T 온도 범위는 -55 °C에서 155 °C이고 30 °C에서 155 °C 구간은 ±2 °C이며, LT4530D는 30 °C에서 155 °C, ±2 °C입니다. 두 모델은 TSSOP, SOP, MSOP 패키지를 대상으로 하고 magazine carrier와 socket contact를 사용하며 tester interface는 TTL Parallel, GP-IB, RS-232C/P849를 포함합니다. handler는 jam과 lead deformation을 방지해 가동률을 높이고 LT4530T는 이를 8-site 처리량과 넓은 냉온 시험 범위에 결합합니다.
역량 및 제품
- 필름 프레임 테스트 핸들러
- 다이 소터
- 그래비티 핸들러
- MEMS 핸들러
- TAB 핸들러
- 디스크리트 소자 테스트 시스템
- IPD/IPM 테스트 시스템
- 열저항 테스터
- 유도 부하 테스터
- 동적 테스트 시스템