기본 정보
| 부스 | K3367 |
| 국가 | JP |
| 웹사이트 | www.tesec.co.jp/en |
회사 소개
Tesec은 50년 이상 신뢰받아 온 전력 반도체 테스트 분야의 글로벌 개척자입니다. 고전압 및 대전류 측정을 위한 최첨단 기술을 바탕으로 웨이퍼와 칩부터 패키지와 모듈까지 전 범위의 전력 디바이스 형식에 대응하는 고효율·고품질 테스터를 제공합니다. 정적 특성 평가든 동적 특성 평가든 Tesec 솔루션은 오늘날 전력 반도체 시장의 까다로운 요구를 충족하도록 설계되었습니다. 신뢰성과 유연성을 갖춘 다양한 핸들러와 함께 제조업체의 생산성 향상과 혁신 가속화를 지원합니다. Tesec의 검증된 전문성과 미래 지향적 솔루션은 글로벌 반도체 산업의 미래를 계속 이끌어 가고 있습니다. ◆ TESEC 제공: ・필름 프레임 테스트 핸들러 ・다이 소터 ・중력식 핸들러 ・MEMS 핸들러 ・TAB 핸들러 ・디스크리트 디바이스 테스트 시스템 ・IPD/IPM 테스트 시스템 ・열저항 테스터 ・유도 부하 테스터 ・동적 테스트 시스템 부스에서 만나 뵙기를 기대합니다!
전시 제품
SiC/GaN 전력 반도체용 DC 정적 특성 및 유도 부하(UIS/Avalanche Ruggedness) 원패스 테스트 시스템입니다. 471-TT Version LA는 SiC MOSFETs, GaN FETs, Si MOSFETs 및 IGBTs를 포함한 전력 반도체용 완전 자동 웨이퍼 레벨(CP 공정) 테스트 시스템입니다. 항복 전압(Vds/Vdss), 누설 전류(IDSS), 임계 전압(Vgs(th)), 온저항(Rds(on)) 등의 DC 정적 특성 측정에 더해, 471-TT는 웨이퍼 공정에서 여러 칩을 동시에 측정하는 새로운 개념을 구현한 DC 테스터입니다. TESEC이 강점을 가진 고전압 및 대전류 측정 기술을 계승하여 여러 칩을 동시에 측정함으로써 기존 테스터 대비 생산성을 크게 높였습니다. 이 테스트 시스템은 디스크리트 반도체 디바이스의 정적 특성을 측정하도록 설계되었습니다. 표준으로 1.2 kV / 65 A (C-E의 경우 130 A) 측정이 가능하며, 2.2 kV / 65 A (C-E의 경우 200 A)까지 확장할 수 있습니다. 옵션 유닛을 사용하면 최대 10 kV / 1200 A 측정이 가능합니다. IPD/IPM Test System 530-IT는 TESEC이 오랜 기간 축적해 온 전력 디바이스 측정 기술에 IC 테스터의 개념을 결합한 새로운 설계 개념을 적용했습니다. Logic ICs와 Power Devices의 조합인 IPD/IPM 및 다양한 기타 디바이스에 최적화된 테스트 솔루션을 제공합니다.
역량 및 제품
- 전력 반도체 고전압·대전류 측정
- 전력 반도체 정적·동적 특성 측정
- 필름 프레임 테스트 핸들러
- 다이 분류기
- MEMS 핸들러
- 디스크리트 소자 테스트 시스템
- IPD/IPM 테스트 시스템
- 열저항 테스터
- 유도성 부하 테스터
- 동적 테스트 시스템
- SiC/GaN 웨이퍼 레벨 완전 자동 테스트
- 웨이퍼 다중 칩 동시 측정