基本資料
| 攤位 | K3367 |
| 國別 | JP |
| 網站 | www.tesec.co.jp/en |
公司簡介
Tesec Corporation 成立於 1969 年 12 月 22 日，是功率半導體測試設備製造商；截至 2026 年 3 月員工人數為 211 人，並在東京設有公司總部、長野設有 Ina Factory、熊本設有辦公室。公司業務為半導體製造設備、handlers、testers 與整合系統等產品的製造，並描述其在功率半導體測試領域已有超過 50 年經驗。Tesec 的高電壓與大電流量測技術支援從晶圓、晶片到封裝與模組等不同功率元件形式，涵蓋靜態與動態特性量測。公司並將測試系統與多種 handler 搭配，列出的設備類別包括 Film Frame Test Handler、Die Sorter、Gravity Handler、MEMS Handler、TAB Handler、Discrete Device Test System、IPD/IPM Test System、Thermal Resistance Tester、Inductive Load Tester 與 Dynamic Test System。海外營運據點包括美國的 TESEC, INC.，在 California 與 Arizona 設有據點，以及 Malaysia 的 TESEC (M) SDN. BHD. 與 China 的 TESEC CHINA (Shanghai) CO., LTD.，形成國際半導體設備業務網路。
展出產品
471-TT Version LA 是 SiC/GaN 功率半導體用全自動晶圓級 CP 製程測試系統，適用 SiC MOSFET、GaN FET、Si MOSFET 與 IGBT，將 DC 靜態特性量測與感性負載 UIS／Avalanche Ruggedness 測試整合在同一系統。DC 量測項目包括 breakdown voltage Vds/Vdss、leakage current IDSS、threshold voltage Vgs(th) 與 on-resistance Rds(on)，並可在晶圓製程中同時量測多顆晶片。標準規格可量測 1.2 kV / 65 A，C-E 為 130 A；可擴充至 2.2 kV / 65 A，C-E 為 200 A，搭配選配單元最高可達 10 kV / 1200 A。Tesec 將多晶片同步量測設計用於提高相較傳統 tester 的生產力，同時延續其高電壓與大電流量測能力。530-IT IPD/IPM Test System 將 IC tester 的概念與 Tesec 累積的 power-device measurement 技術結合，用於含 Logic IC 與 Power Devices 的 IPD/IPM 及其他元件。Gravity Handler LT4530 系列提供兩種配置：LT4530T 為 8 sites，支援冷熱溫測試與 high-frequency contacts；LT4530D 為 4 sites，支援高溫測試。LT4530T 在 0 test time 條件下，以 0.9 秒 index time 與 8 sites 達到最高 28,000 UPH；LT4530D 以 0.6 秒 index time 與 4 sites 達到最高 18,000 UPH，loader/unloader 無停機時間。LT4530T 溫度範圍為 -55 °C 至 155 °C，其中 30 °C 至 155 °C 精度 ±2 °C；LT4530D 為 30 °C 至 155 °C、±2 °C。兩種配置均面向 TSSOP、SOP、MSOP 封裝，使用 magazine carrier 與 socket contact，tester interface 包括 TTL Parallel、GP-IB 與 RS-232C/P849。Handler 設計透過抑制卡料與 lead deformation 維持高稼動率，其中 LT4530T 將此設計與 8-site 高吞吐量及更寬的冷熱測試範圍結合。
能力與產品項目
- Film Frame Test Handler
- Die Sorter
- Gravity Handler
- MEMS Handler
- TAB Handler
- 離散元件測試系統
- IPD／IPM 測試系統
- 熱阻測試機
- 感性負載測試機
- 動態測試系統