基本資料
| 攤位 | K3367 |
| 國別 | JP |
| 產品分類 | Device Handling; Feeding Systems · Die Sorter; Pick & Place; Flip Chip Placement Systems · Vision; ID; Bar Code Systems · Discrete Component Test Systems · Environmental Stress Systems - Temperature; Humidity; Pressure; HAST · Failure Analysis Systems · Functional Test Systems · Handlers; Positioner Systems · Linear Test Systems · Logic Test Systems · Package Test Systems · System on a Chip (SOC); Mixed Signal Test Systems · Test Contactor Cleaning; Conditioning Systems · Test Head Manipulators and Docking Stations · Test Services or Consulting |
| 網站 | www.tesec.co.jp/en |
公司簡介
Tesec 是功率半導體測試領域的全球先驅，深受信賴逾 50 年。我們在高電壓與大電流量測方面的尖端技術，可提供高效率、高品質的測試機，涵蓋從晶圓、晶片到封裝與模組的完整功率元件型態。無論是靜態或動態特性量測，Tesec 的解決方案都專為滿足當今功率半導體市場的嚴苛需求而設計。搭配我們種類繁多、可靠且彈性的分選機（handler），我們協助製造商提升生產力並加速創新。Tesec 經實證的專業能力與前瞻性解決方案，持續推動全球半導體產業的未來。◆ TESEC 提供：・薄膜框架測試分選機 ・晶粒分選機 ・重力式分選機 ・MEMS 分選機 ・TAB 分選機 ・分離式元件測試系統 ・IPD/IPM 測試系統 ・熱阻測試機 ・感應負載測試機 ・動態測試系統。期待在我們的攤位歡迎您的蒞臨！
能力與產品項目
- Die Sorter
- Dynamic Test System
- Film Frame Test Handler
- Inductive Load Tester
- MEMS Handler
- Thermal Resistance Tester
- 功率元件靜態與動態特性分析
- 功率半導體測試
- 用於晶圓、晶片、封裝與功率模組的測試機
- 高壓與大電流量測測試機