基本情報
| ブース | K3367 |
| 国 | JP |
| ウェブサイト | www.tesec.co.jp/en |
会社概要
株式会社テセックは1969年12月22日に設立されたパワー半導体試験装置メーカーで、2026年3月時点の従業員数は211人です。東京に本社、長野に伊那工場、熊本にオフィスを置いています。事業内容は半導体製造装置、ハンドラ、テスタ、統合システムなどの製造で、パワー半導体試験では50年を超える経験を持つとしています。高電圧・大電流測定技術により、ウエハ、チップ、パッケージ、モジュールまで幅広いパワーデバイス形態を対象とし、静特性と動特性の双方に対応します。試験システムに加えて多様なハンドラを展開し、Film Frame Test Handler、Die Sorter、Gravity Handler、MEMS Handler、TAB Handler、Discrete Device Test System、IPD/IPM Test System、Thermal Resistance Tester、Inductive Load Tester、Dynamic Test Systemを製品カテゴリーとして挙げています。海外では米国のTESEC, INC.がCaliforniaとArizonaに拠点を置き、MalaysiaのTESEC (M) SDN. BHD.、ChinaのTESEC CHINA (Shanghai) CO., LTD.とともに国際的な半導体装置事業を支えています。
展示製品
471-TT Version LAはSiC/GaNパワー半導体向けの全自動ウエハレベルCP工程テストシステムで、SiC MOSFET、GaN FET、Si MOSFET、IGBTを対象に、DC静特性と誘導負荷UIS／Avalanche Ruggedness試験を一つのシステムで実施します。DC測定はbreakdown voltage Vds/Vdss、leakage current IDSS、threshold voltage Vgs(th)、on-resistance Rds(on)を含み、ウエハ工程で複数チップを同時測定できます。標準で1.2 kV / 65 A、C-E 130 Aに対応し、2.2 kV / 65 A、C-E 200 Aへ拡張でき、オプションユニットでは最大10 kV / 1200 Aまで測定可能です。株式会社テセックは、この複数チップ同時測定を従来テスタに対する生産性向上につなげ、高電圧・大電流測定技術をディスクリート半導体の静特性測定に適用しています。530-IT IPD/IPM Test SystemはICテスタの考え方と同社のパワーデバイス測定技術を組み合わせ、Logic ICとPower DevicesからなるIPD/IPMや各種デバイスに対応します。Gravity HandlerのLT4530シリーズは2構成で、LT4530Tは8 sites、冷熱温度試験、高周波コンタクト、高スループットに対応し、LT4530Dは4 sitesと高温試験に対応します。0 test time条件でLT4530Tは0.9秒index time、8 sitesにより最大28,000 UPH、LT4530Dは0.6秒index time、4 sitesにより最大18,000 UPHを実現し、loader/unloaderでの停止時間がありません。LT4530Tの温度範囲は-55 °Cから155 °Cで、30 °Cから155 °Cは±2 °C、LT4530Dは30 °Cから155 °C、±2 °Cです。両モデルはTSSOP、SOP、MSOPを対象とし、magazine carrier、socket contact、TTL Parallel、GP-IB、RS-232C/P849のtester interfaceを使用します。ハンドラはジャムとlead deformationの防止によって稼働率を高め、LT4530Tでは8-site処理と広い冷熱試験範囲を組み合わせています。
対応領域・製品
- フィルムフレームテストハンドラ
- ダイソーター
- グラビティハンドラ
- MEMSハンドラ
- TABハンドラ
- ディスクリートデバイステストシステム
- IPD／IPMテストシステム
- 熱抵抗テスター
- 誘導負荷テスター
- 動的テストシステム