基本資料
| 攤位 | L0400 |
| 國別 | JP |
| 產品分類 | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Die Inspection; Die Shear · Line Width; Critical Dimension (CD) Measurement · Overlay Measurement · Package Inspection; Lead Scanners · Particle Monitors; Analyzers - Airborne or Liquid · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Weight measurement; precision scales |
| 網站 | takano-net.com.tw |
公司簡介
TAKANO 為先進封裝提供檢測與量測解決方案！！台灣：https://takano-net.com.tw 日本：https://www.takano-kensa.com ・半導體檢測與量測系統 ①［WM-7SR］無圖案表面檢測系統（2 吋～8 吋）②［WM-10R］無圖案表面檢測系統（4 吋～12 吋）③［Vi 系列］晶圓圖案檢測系統 ④［ALTAX］凸塊高度高速量測系統 ⑤［Thinspector］晶圓表面薄膜分析檢測系統。期待在 SEMICON Taiwan 2024 與您相見。
展出產品
檢查 檢查判定處理、降噪處理、空間濾波、缺陷圖顯示 複檢 缺陷列表（地圖 / 座標數據）、缺陷圖像顯示、趨勢圖、統計處理等
能力與產品項目
- ALTAX 凸塊高度高速檢查系統
- Thinspector 晶圓表面薄膜分析檢查系統
- Vi Series 晶圓圖案檢查系統
- WM-10R 4-to-12-inch 晶圓非圖案表面檢查系統
- WM-7SR 2-to-8-inch 晶圓非圖案表面檢查系統
- 具缺陷圖與座標資料的半導體檢查複檢