기본 정보
| 부스 | K2043 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.se-group.com |
회사 소개
첨단 장비, 신속한 지원. 엔지니어에서 출발하여 엔지니어의 관점에서 테스트 요구사항을 바라보는 SE는 고객에게 더욱 완성도 높은 첨단 장비와 전문 서비스를 제공하기 위해 노력합니다. SE 소개: Jan. 1st, 1993에 설립된 SE는 엔지니어에서 출발했으며 엔지니어의 요구를 이해합니다. RF/Microwave, Semiconductors, High Precision Electronics, Opto-Electronics부터 최근의 MEMS 및 Nano Technologies에 이르기까지 SE는 세계 선도 솔루션을 중화권 엔지니어에게 소개합니다. 엔지니어가 성공할 수 있도록 최적의 도구를 찾는 것은 30년 동안 SE의 사명이자 영예였습니다. SE Technologies는 RF/Microwave, Semiconductors, Optoelectronics 및 Electronics 분야의 세계적인 선도 솔루션 공급업체입니다. SE 제공 ■ 웨이퍼 레벨 고정밀 프로브 스테이션 및 관련 주변장치 ■ 마이크로-나노 피치 프로브, 프로브 카드, 로케이터(프로브 홀더) ■ PCB 신호 무결성 테스트 및 고주파 프로브 ■ ESD 정전기 방전 테스트 장비 ■ 고급 채널 시뮬레이터(시뮬레이터) ■ 지상 및 위성 무선 시스템 RF 링크 시뮬레이션 ■ RF/마이크로웨이브 테스트 픽스처, PCB 테스트 픽스처 HsinChu Mail： [email protected]
전시 제품
반도체 프로브 스테이션. 웨이퍼 프로빙용 고성능 분석 프로브 스테이션으로 비용을 절감하면서 공정 성능을 향상합니다. 밀리미터파 웨이퍼 RF 프로빙. 수동, 반자동, 4-inch, 6-inch, 8-inch, 12 inch 정밀 DC/RF 프로브 스테이션. 사점 프로브 비저항 측정 시스템. 선택 가능한 측정 범위: 1 μ Ω~10G Ω. 반도체, 박막, LED 및 포토닉스 테스트의 차세대 영역이 열렸습니다. SAKYIWA NanoProber 시리즈는 마이크로 및 나노 스케일에서 시트 저항, 4선식 Kelvin 저항 및 FET 특성을 고속으로 추출합니다. 신뢰성 ESD 테스트. 고전압 공급 전압 범위 50 V~8kV, (250 V~16kV 옵션). BGA, PGA, LGA, QFN, LCC, QFP, TSSOP,PQFP, Flat Pack 및 WLCSP용 웨이퍼 레벨 칩 패키징 테스트. 초미세 피치: 최저 0.3mm. 디바이스 핀 수: 3700핀 초과
역량 및 제품
- 웨이퍼급 고정밀 프로브 스테이션 및 주변기기
- 마이크로·나노 피치 프로브/프로브 카드/프로브 홀더
- PCB 신호 무결성 테스트 및 고주파 프로브
- ESD 정전기 방전 테스트 장비
- 첨단 채널 시뮬레이터
- 지상／위성 무선 RF 링크 시뮬레이션
- RF/마이크로파 및 PCB 테스트 지그
- 4–12인치 정밀 DC／RF 프로브 스테이션
- 4점 프로브 1 μΩ–10 GΩ 비저항 측정
- 시트 저항/Kelvin 저항/FET 측정
- 0.3 mm 초미세 피치 테스트
- 50 V–8 kV ESD 고전압 테스트