기본 정보
| 부스 | K2043 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.se-group.com |
회사 소개
SE Technologies Corp.는 1993년 1월 1일 설립되었고 엔지니어에서 출발해 엔지니어 관점으로 테스트 요구사항을 바라보며 RF/Microwave, 반도체, 고정밀 전자, 광전자, MEMS, 나노 기술 분야를 대상으로 Greater China area 엔지니어에게 솔루션을 소개합니다. 제공 항목에는 wafer-level high-precision probe station 및 관련 주변장치, micro-nano pitch probe, probe card, probe holder, PCB signal-integrity testing 및 high-frequency probe, ESD electrostatic-discharge test equipment, advanced channel simulator, 지상 및 위성 무선 시스템용 RF-link simulation, RF/microwave 및 PCB test fixtures가 포함됩니다. 제품 카테고리에는 wireless communications용 RF test equipment, ICM RF/microwave component test fixtures, microwave and RF production test, semiconductor electrical test probe stations, four-point probe resistivity systems, high-power test equipment, nanoscale measurement, PCB and substrate signal-integrity test, RF probes, electronic-optics and electronic-design test automation, Microvue automated test software, SCS-Parylene Deposition, Ionograph series ionic-contamination testing, Spin Coater Series도 포함됩니다. 검사 장비 주변기기 및 통신 관련 항목에는 micropositioners, Probe Tips & Holders, Socket & Fixtures, GTL RF probe and positioner series, differential probes, RF/microwave probes, wireless-communication RF test equipment, Prognostic Health Management (PHM), Adaptive Remaining Useful Life Estimator, power-supply life estimation and health management가 포함됩니다. SE Technologies Corp.는 Automatic Tuner System, Reliability Test System, Failure Analysis, TDR/TDT, semiconductor electrical measurement를 적용 분야로 제시하며 장기 목표로 아시아 마케팅 및 서비스 네트워크 통합을 밝힙니다. 기업 문화에서는 직원에게 간결하고 편안한 근무 환경을 제공하는 것을 목표로 하고 장기적으로 EMPLOY OWNED COMPANY를 지향하며, 업무 전의 완전하고 엄격한 계획, 업무 후의 객관적이고 확실한 성과 평가, work-life balance를 강조한다고 설명합니다.
전시 제품
반도체 probe station 제품군에는 4인치, 6인치, 8인치, 12인치 웨이퍼용 수동 및 반자동 precision DC/RF probe station과 millimeter-wave on-wafer RF probing이 포함됩니다. four-point probe resistivity measurement system의 선택 측정 범위는 1 μ Ω~10G Ω입니다. SAKYIWA NanoProber Series는 반도체, 박막, LED, photonics test에서 마이크로 및 나노 스케일의 sheet resistance, 4-wire Kelvin resistance, FET properties를 고속으로 추출합니다. Reliability ESD test는 50 V to 8kV, (250 V to 16kV optional)의 high-voltage supply range를 제공하며, BGA, PGA, LGA, QFN, LCC, QFP, TSSOP, PQFP, Flat Pack, WLCSP의 wafer-level chip-packaging testing을 지원하고 ultra-fine pitch는 0.3mm까지, device pin count는 3700 pins를 초과합니다. POGO PIN BLOCKS와 connector-saver interfaces는 복잡한 DUT board 또는 breakout board를 universal motherboard-style interface로 전환하고 다양한 물리·전기 테스트 요구사항을 수용하며 여러 industry-standard board-to-board connectors와 연결할 수 있고, 마모된 connector saver만 교체해 전체 보드를 교체하는 것보다 connector wear에 따른 비용을 줄입니다.
역량 및 제품
- 4~12인치 DC/RF 프로브 스테이션
- 밀리미터파 온웨이퍼 RF 프로빙
- 4점 프로브 비저항 측정
- 웨이퍼 레벨 패키지 ESD 시험