基本資料
| 攤位 | K2043 |
| 國別 | TW |
| 網站 | www.se-group.com |
公司簡介
SE Technologies Corp. 成立於 1993 年 1 月 1 日，起源於工程師，並以工程師的角度看待測試需求，服務 RF/Microwave、半導體、高精密電子、光電、MEMS 與奈米技術領域，並向大中華地區工程師導入解決方案。其供應項目包括晶圓級高精密探針台與相關周邊設備、微奈米間距探針、探針卡與探針座、PCB 信號完整性測試與高頻探針、ESD 靜電放電測試設備、先進信道模擬器、地面與衛星無線系統 RF 鏈路模擬，以及 RF／微波與 PCB 測試夾具。公司的產品類別亦包括無線通信 RF 測試設備、ICM RF／微波組件測試夾具、微波與 RF 生產測試、半導體電性測試探針台、四點探針電阻率量測系統、大功率測試設備、奈米級量測、PCB／基板信號完整性測試、RF 探針、電子光學與電子設計測試自動化、Microvue 自動化測試軟體、SCS-Parylene Deposition、Ionograph 系列離子汙染測試與 Spin Coater Series。其列出的檢測設備周邊與通訊相關項目包括 micropositioners、Probe Tips & Holders、Socket & Fixtures、GTL RF probe and positioner series、差分探針、RF／microwave probe、無線通信 RF 測試設備、Prognostic Health Management (PHM)、Adaptive Remaining Useful Life Estimator，以及電源供應器壽命預估與健康管理。SE Technologies Corp. 列出的應用包括 Automatic Tuner System、Reliability Test System、Failure Analysis、TDR/TDT 與半導體電性量測，並表示長期目標是整合亞洲行銷服務網。其企業文化表示，以提供員工簡潔舒適的工作環境為目標，長期希望成為 EMPLOY OWNED COMPANY，並強調事前完整嚴謹的計畫、事後客觀確實的績效評量，以及生活與工作的平衡。
展出產品
半導體探針台範圍包括手動與半自動的 4 吋、6 吋、8 吋及 12 吋精密 DC/RF probe station，以及 millimeter-wave on-wafer RF probing。四點探針電阻率量測系統列出的選配量測範圍為 1 μ Ω~10G Ω。SAKYIWA NanoProber Series 可在微米與奈米尺度高速擷取 sheet resistance、4-wire Kelvin resistance 與 FET properties，應用於半導體、薄膜、LED 與光子測試。可靠度 ESD 測試項目列有 50 V to 8kV, (250 V to 16kV optional) 的高壓供應範圍；晶圓級晶片封裝測試支援 BGA、PGA、LGA、QFN、LCC、QFP、TSSOP、PQFP、Flat Pack 與 WLCSP，超細間距最低 0.3mm，元件 pin count 超過 3700 pins。POGO PIN BLOCKS 與 connector-saver interface 可將複雜 DUT board 或 breakout board 轉換為通用 motherboard-style interface，支援不同實體與電性測試需求，可對接多種 industry-standard board-to-board connector，並藉由替換耗損的 connector saver 而非整片電路板來降低連接器磨耗造成的成本。
能力與產品項目
- 4至12吋DC/RF探針台
- 毫米波晶圓RF探測
- 四點探針電阻率量測
- 晶圓級封裝ESD測試