基本情報
| ブース | N0592 |
| 国 | JP |
| 製品カテゴリ | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Weight measurement; precision scales · X-ray; XRF; 3-D X-Ray; LEXES Systems · Equipment, Nanotechnology Tools · Inspection and Metrology · Thin Film · Wafers · Optics; Lens Products; Auto-Focus Systems |
| ウェブサイト | www.rigaku.com/index_world.html |
会社概要
Rigaku は 1951 年に日本の東京で創業し、分析機器および産業機器のリーダーです。数多くのイノベーションにより、Rigaku グループは現在、X 線回折（XRD）、薄膜分析（XRF、XRD、XRR）、蛍光 X 線分光分析（TXRF、EDXRF、WDXRF）、小角 X 線散乱（SAXS）、タンパク質および低分子の X 線結晶学、ラマン分光法、X 線光学、半導体メトロロジー（TXRF、XRF、XRD、XRR）、X 線トポグラフィイメージング、X 線源、コンピューター断層撮影、非破壊検査、熱分析など、いくつもの分野で世界的な権威となっています。X 線および関連技術は Rigaku の事業の基盤ですが、その真の強みはお客様との協働へのこだわりにあります。パートナーシップを育み、イノベーションを推進することで、Rigaku は新たな視点とオーダーメイドのソリューションを生み出し、産業界、学術界、政府の多様なニーズに応えます。グローバルな拠点と世界で 2,000 名を超える従業員を擁し、Rigaku はユーザーと従業員の協働を重視し、お客様のニーズと市場動向との整合を確保しています。その製品とサービスは、半導体チップ設計、創薬、ナノテクノロジー研究といった多様な分野でイノベーションを推進します。私たちはお客様を大切にし、人を大切にし、技術を大切にします。当社の使命は、科学技術の発展を通じて人類の向上に貢献することです。
対応領域・製品
- Raman 分光
- TXRF、XRF、XRD、XRR による半導体計測
- X-ray Topography Imaging
- X-ray diffraction (XRD)
- X-ray fluorescence spectrometry (TXRF、EDXRF、WDXRF)
- XRF、XRD、XRR による薄膜分析
- computed tomography と非破壊検査
- small-angle X-ray scattering (SAXS)