基本資料
| 攤位 | N0592 |
| 國別 | JP |
| 產品分類 | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Weight measurement; precision scales · X-ray; XRF; 3-D X-Ray; LEXES Systems · Equipment, Nanotechnology Tools · Inspection and Metrology · Thin Film · Wafers · Optics; Lens Products; Auto-Focus Systems |
| 網站 | www.rigaku.com/index_world.html |
公司簡介
Rigaku 於 1951 年創立於日本東京，是分析與工業儀器領域的領導者。憑藉眾多創新，Rigaku 集團如今在多個領域成為全球權威，包括 X 光繞射（XRD）、薄膜分析（XRF、XRD 與 XRR）、X 光螢光光譜術（TXRF、EDXRF 與 WDXRF）、小角度 X 光散射（SAXS）、蛋白質與小分子 X 光結晶學、拉曼光譜術、X 光光學、半導體量測（TXRF、XRF、XRD 與 XRR）、X 光形貌成像、X 光源、電腦斷層掃描、非破壞性檢測，以及熱分析。雖然 X 光及相關技術是 Rigaku 業務的基礎，但其真正的優勢在於對與客戶合作的堅持。透過建立夥伴關係並推動創新，Rigaku 帶來嶄新觀點與量身打造的解決方案，以滿足產業、學術界與政府的多元需求。Rigaku 在全球設有據點，員工逾 2,000 人，重視使用者與員工之間的協作，以確保與客戶需求及市場趨勢保持一致。其產品與服務在半導體晶片設計、藥物探索、奈米科技研究等各式各樣的領域推動創新。我們重視客戶、重視人才、也重視技術。公司的使命是透過科學與技術發展，為人類福祉的提升做出貢獻。
能力與產品項目
- Raman 光譜
- X-ray Topography Imaging
- X-ray diffraction (XRD)
- X-ray fluorescence spectrometry (TXRF、EDXRF 與 WDXRF)
- computed tomography 與非破壞檢測
- small-angle X-ray scattering (SAXS)
- 以 TXRF、XRF、XRD 與 XRR 進行半導體量測
- 以 XRF、XRD 與 XRR 進行薄膜分析