기본 정보
| 부스 | J3153 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.raditech.com.tw |
회사 소개
Radiation Technology Co., Ltd.는 고객 지향 경영 철학을 바탕으로 전자, 광학 영상, CD-R, 반도체, TFT-LCD, LED, 터치스크린, 태양전지, Touch Panel, Epaper 및 태양광 등 학술·산업 분야를 지원합니다. 회사는 1993년 대만에서 설립되었고 2005년 상하이 지사인 Zhidong Optoelectronics Technology (Shanghai) Co., Ltd.를 설립했습니다. Radiation Technology Co., Ltd.는 Spectroscopic Ellipsometer, Spectroscopic Reflectometer, 엘립소미터, 반사계 및 적분식 거친 표면 반사율 측정기의 전문 공급업체라고 설명합니다. 또한 국내에서 자체 개발 검사 장비를 생산하는 유일한 업체라고 밝히며 반도체, TFT-LCD 기업과 주요 국내 연구기관 및 실험실을 서비스 대상으로 합니다. 회사는 약 20년의 광학 검출 경험을 축적했고 이를 바탕으로 응용별 광학 장비를 자체 개발해 왔다고 설명합니다. 자체 제작 광학 장비는 수백 대 이상의 실적을 보유하며 막 두께와 태양전지 광학 측정 용도를 포함합니다. 회사는 고객 지향, 혁신 및 서비스를 강조하고 경험 있는 인력을 채용해 고객 요구와 긴밀히 연계된 신뢰성 높은 부가가치 지원을 제공합니다. 「Customer satisfaction is our goal」을 목표로 높은 기동성, 높은 효율, 높은 실행력의 세 요소를 따르며 첨단 제품, 기술 자문, 애프터서비스 및 효율적인 지원을 제공합니다. 향후 비전은 안정적이고 착실하게 성장해 건전한 경영 기반을 다지고 고객과 원 제조사가 인정하는 종합 기업으로 발전하는 것입니다.
전시 제품
Radiation Technology Co., Ltd.는 Spectroscopic Reflectometer(SR), Spectroscopic Ellipsometer(SE), Single Wavelength Ellipsometer(SWE), 이중 파장 엘립소미터(DWE), Diffusion 8° Integration Sphere Spectroscopic Reflectometer(D8SR), Combo Equipment(SWE+D8) 및 분광기를 공급합니다. UV-VIS-NIR 전 스펙트럼 엘립소미터는 막 두께 측정용 자체 개발 장비이며 UV-VIS-NIR 전 스펙트럼 반사식 막 두께 측정기는 자체 개발 반사계입니다. 고정밀 막 두께 측정을 위해 전 스펙트럼 Spectroscopic Ellipsometer(SE), 전 스펙트럼 Spectroscopic Reflectometer(SR), 단일·이중 파장 엘립소미터(SWE/DWE)를 개발했습니다. 태양광 산업의 결정질 실리콘과 비결정질 실리콘 응용에는 D8 반사 장비를 개발했으며 제품 설명에는 Taiwan, TAR, HAZE로 식별된 관련 광학 장비도 포함됩니다. D8SR은 태양전지 측정을 위해 특별히 개발된 태양광 반사식 광학 효율 측정기입니다. 회사는 고객의 측정 요구를 해결하기 위한 맞춤형 광학 측정 장비를 제공합니다. 장비는 인라인 측정과 통합되어 공정 품질을 실시간으로 모니터링할 수 있습니다. 전체 포트폴리오는 코팅과 막 두께 측정, 반사 및 엘립소미트리 기반 광학 특성 분석을 포함하며 전자, 반도체, 디스플레이 및 태양광 제조 환경에 대응합니다.
역량 및 제품
- 전분광 타원계(SE)
- 전분광 반사계(SR)
- 단/이중 파장 타원계(SWE/DWE)
- 적분식 거친 표면 반사율 측정기
- 태양전지 반사식 광학효율 측정기
- 분광기
- 맞춤형 광학 측정 장비
- 인라인 측정 통합 및 공정 실시간 모니터링