基本情報
| ブース | J3153 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | www.raditech.com.tw |
会社概要
Radiation Technology Co., Ltd. は顧客志向の経営理念を掲げ、電子、光学イメージング、CD-R、半導体、TFT-LCD、LED、タッチスクリーン、太陽電池、Touch Panel、Epaper、太陽光発電などの学術・産業分野に対応しています。同社は 1993 年に台湾で設立され、2005 年に上海支社の致東光電科技上海有限公司を設立しました。Radiation Technology Co., Ltd. は、Spectroscopic Ellipsometer、Spectroscopic Reflectometer、エリプソメータ、反射計、積分型粗面反射率測定器の専門サプライヤーと位置付けています。また、国内唯一の自社開発検査装置メーカーと説明し、半導体、TFT-LCD 企業、国内主要研究機関や研究室を顧客対象としています。同社は約 20 年の光学検出経験を蓄積し、その経験を活用して用途別の光学装置を自社開発してきたとしています。自社製光学装置は数百台を超える実績があり、膜厚測定や太陽電池の光学測定用途を含みます。顧客志向、革新、サービスを重視し、経験ある人材を採用して顧客ニーズと密接に連携し、信頼性のある付加価値支援を提供します。「Customer satisfaction is our goal」を掲げ、高い機動性、高効率、高い行動力の三要素に基づき、高技術製品、技術助言、アフターサービス、効率的な支援を提供します。将来ビジョンは、着実に成長して良好な経営基盤を築き、顧客と取扱メーカーに認められる総合企業へ発展することです。
展示製品
Radiation Technology Co., Ltd. は Spectroscopic Reflectometer（SR）、Spectroscopic Ellipsometer（SE）、Single Wavelength Ellipsometer（SWE）、二波長エリプソメータ（DWE）、Diffusion 8° Integration Sphere Spectroscopic Reflectometer（D8SR）、Combo Equipment（SWE+D8）、分光器を供給します。UV-VIS-NIR 全波長エリプソメータは膜厚測定用に自社開発され、UV-VIS-NIR 全波長反射式膜厚測定器は自社開発の反射計です。高精度膜厚測定向けには、全波長 Spectroscopic Ellipsometer（SE）、全波長 Spectroscopic Reflectometer（SR）、単波長・二波長エリプソメータ（SWE/DWE）を開発しています。太陽光産業の結晶シリコンおよび非結晶シリコン用途向けには D8 反射計を開発し、製品説明では Taiwan、TAR、HAZE と識別される関連光学装置も挙げています。D8SR は太陽電池測定専用に開発された太陽光反射式光学効率測定器です。顧客の測定要求に対応するカスタマイズ可能な光学測定装置を提供します。装置はインライン測定と統合でき、工程品質のリアルタイム監視に対応します。これらの製品群は、コーティングおよび膜厚測定、反射・エリプソメトリによる光学特性評価をカバーし、電子、半導体、ディスプレイ、太陽光発電の製造環境に対応します。
対応領域・製品
- 分光エリプソメータ（SE）
- 分光反射計（SR）
- 単・二波長エリプソメータ（SWE/DWE）
- 積分型粗面反射率測定器
- 太陽電池反射式光学効率測定器
- 分光器
- カスタマイズ光学測定装置
- インライン測定統合・工程リアルタイム監視