基本情報
| ブース | J3153 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Chromatograph · Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Flat; Notch Finding System · Instruments; Bench Top Test · Microscopes: Optical Microscopes · Resistivity Measurement; 4 point probe; Sheet resistance · Spectrometers; Fourier Transform Infrared (FTIR); Attenuated Total Reflectance FTIR (ATR-FTIR); Auge · Stress; Refractive Index; Reflectivity & Conductivity Measurement · Equipment, Nanotechnology Tools · Inspection and Metrology · Thin Film · Coat; Develop; Resist Processing; Track Equipment · Deposition; Chemical Vapor (CVD); MOCVD; PECVD; LPCVD; ALD; REALD; MVD · Deposition; Physical Vapor (PVD); Sputtering; Evaporation Equipment · Epitaxy Equipment; Epi Reactors; Molecular Beam Epitaxy (MBE); Atomic Layer Epitaxy (ALE) · Etching; Stripping; Ashing - Dry and Wet Equipment · Handlers; Positioner Systems · Optical Test Systems · Color Filter Materials · Polarizer Materials · Materials, Nanotechnology · Ingots, Wafers · Lamps (non Lithography), all type UV; LED and other · Motors; Fans; Electric Rotary Spindles · Sensors |
| ウェブサイト | www.raditech.com.tw |
会社概要
Raditech は顧客志向の経営理念を掲げ、お客様は電子、光学イメージング、CD-R、半導体、TFT-LCD、LED、タッチスクリーン、太陽電池などの学術・産業関連分野に及びます。製品には、分光反射計（SR）、分光エリプソメーター（SE）、単一波長エリプソメーター（SWE）、拡散 8 度積分球分光反射計（D8SR）、コンボ装置（SWE+D8）が含まれます。約 20 年にわたる光学検出経験の蓄積を経て、当社は関連する応用光学デバイスを自社開発し、太陽光産業の結晶シリコンおよびアモルファスシリコン向けに D8 反射計、コンボ機 Taiwan、TAR、HAZE を提供し、高精度な膜厚計測向けには、自社開発の全スペクトルエリプソメーター（SE）、全スペクトル反射式膜厚測定器（SR）、単一／二重波長エリプソメーター（SWE/DWE）を発売しました。お客様の称賛と信頼を得て、お客様のニーズと市場の変化に応じて製品を絶えずアップグレードし、お客様とともに win-win を築いています。当社は「人間本位」の理念を堅持し、経験豊富で品質に優れ、活力にあふれた有能な人材を採用し、お客様のニーズと緊密に結びつき、優れた信頼性の高い付加価値サービスを提供します。「顧客満足が私たちの目標」であり、当社は「高い機動性、高い効率、高い行動力」の三大要素に従い、お客様に最高品質のハイテク製品、技術的アドバイス、アフターサービスを効率的に提供し、強力なサポートとサービスを提供します。
対応領域・製品
- Diffusion 8° Integration Sphere Spectroscopic Reflectometer (D8SR)
- Single Wavelength Ellipsometer (SWE)
- Spectroscopic Ellipsometer (SE)
- Spectroscopic Reflectometer (SR)
- 全スペクトル反射式膜厚測定
- 膜厚測定向け全スペクトルエリプソメトリー