基本資料
| 攤位 | J3153 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | Chromatograph · Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Flat; Notch Finding System · Instruments; Bench Top Test · Microscopes: Optical Microscopes · Resistivity Measurement; 4 point probe; Sheet resistance · Spectrometers; Fourier Transform Infrared (FTIR); Attenuated Total Reflectance FTIR (ATR-FTIR); Auge · Stress; Refractive Index; Reflectivity & Conductivity Measurement · Equipment, Nanotechnology Tools · Inspection and Metrology · Thin Film · Coat; Develop; Resist Processing; Track Equipment · Deposition; Chemical Vapor (CVD); MOCVD; PECVD; LPCVD; ALD; REALD; MVD · Deposition; Physical Vapor (PVD); Sputtering; Evaporation Equipment · Epitaxy Equipment; Epi Reactors; Molecular Beam Epitaxy (MBE); Atomic Layer Epitaxy (ALE) · Etching; Stripping; Ashing - Dry and Wet Equipment · Handlers; Positioner Systems · Optical Test Systems · Color Filter Materials · Polarizer Materials · Materials, Nanotechnology · Ingots, Wafers · Lamps (non Lithography), all type UV; LED and other · Motors; Fans; Electric Rotary Spindles · Sensors |
| 網站 | www.raditech.com.tw |
公司簡介
Raditech 秉持以客戶為導向的經營理念，客戶遍及電子、光學影像、CD-R、半導體、TFT-LCD、LED、觸控螢幕、太陽能電池等學術與工業相關領域。產品包括光譜反射儀（SR）、光譜橢圓偏振儀（SE）、單波長橢圓偏振儀（SWE）、擴散 8 度積分球光譜反射儀（D8SR）以及複合機台（SWE+D8）。歷經近 20 年光學檢測經驗的累積，公司自製相關應用光學裝置，針對太陽能產業的晶體矽與非晶矽推出 D8 反射儀及複合機台 Taiwan、TAR、HAZE；針對高精度薄膜厚度量測，推出自行開發的全光譜橢圓偏振儀（SE）、全光譜反射式薄膜厚度量測儀（SR）以及單／雙波長橢圓偏振儀（SWE/DWE）。產品贏得客戶的讚譽與信賴，並依客戶需求與市場變化持續升級，與客戶齊心協力創造雙贏。公司秉持「以人為本」的理念，招募經驗豐富、品質優良、充滿活力且具才能的人才，與客戶需求緊密結合，提供卓越且可靠的加值服務。「客戶滿意是我們的目標」，公司遵循「高機動、高效率、高行動」三大要素，以高效率為客戶提供最高品質的高科技產品、技術諮詢與售後服務，並為客戶提供強力的支援與服務。
能力與產品項目
- Diffusion 8° Integration Sphere Spectroscopic Reflectometer (D8SR)
- Single Wavelength Ellipsometer (SWE)
- Spectroscopic Ellipsometer (SE)
- Spectroscopic Reflectometer (SR)
- 全光譜反射式薄膜厚度量測
- 用於薄膜厚度量測的全光譜橢偏儀