基本資料
| 攤位 | J3153 |
| 國別 | TW |
| 網站 | www.raditech.com.tw |
公司簡介
里華科技股份有限公司秉持以客戶為導向的經營理念，服務電子、光學影像、CD-R、半導體、TFT-LCD、LED、觸控螢幕、太陽能電池、Touch Panel、Epaper 與光伏等學術及工業領域。公司於 1993 年在台灣創立，並於 2005 年成立上海分公司致東光電科技上海有限公司。里華科技股份有限公司自述為 Spectroscopic Ellipsometer、Spectroscopic Reflectometer，以及橢偏儀、反射儀與積分式粗糙面反射率量測儀的專業供應商。公司也自述為唯一國內自製檢測儀器生產商，服務半導體、TFT-LCD 企業，以及國內各大研究機構與實驗室。公司表示已累積近 20 年光學檢測經驗，並以這些經驗開發各類應用型光學設備。其自製光學設備已有超過數百台實績，涵蓋膜厚與太陽能電池光學量測等用途。里華科技股份有限公司強調客戶導向、創新與服務，並招募具經驗的人才，緊密結合客戶需求以提供可靠的加值支援。公司以「Customer satisfaction is our goal」為目標，並依循高機動、高效率與高行動三項要素，提供高科技產品、技術諮詢、售後服務與有效率的支援。其未來願景是以穩健踏實的步伐持續成長，建立良好經營基礎，並朝顧客與原廠認同的全方位企業發展。
展出產品
里華科技股份有限公司供應 Spectroscopic Reflectometer（SR）、Spectroscopic Ellipsometer（SE）、Single Wavelength Ellipsometer（SWE）、雙波長橢圓儀（DWE）、Diffusion 8° Integration Sphere Spectroscopic Reflectometer（D8SR）、Combo Equipment（SWE+D8）與光譜儀。其 UV-VIS-NIR 全光譜橢圓偏光測量儀為自研產品，用於膜厚量測；UV-VIS-NIR 全光譜反射式膜厚測量儀則為自研反射儀。針對高精度膜厚量測，公司開發全光譜橢圓儀（SE）、全光譜反射儀（SR），以及單、雙波長橢圓儀（SWE/DWE）。太陽能產業的晶矽與非晶矽應用方面，公司開發 D8 反射儀，並在產品描述中列出 Taiwan、TAR 與 HAZE 等相關光學設備。D8SR 是專為太陽能電池量測開發的太陽能反射式光學效率量測儀。公司提供可客製化的光學量測設備，以解決客戶量測需求。設備可搭配線上量測整合，以即時監控製程品質。整體產品涵蓋鍍膜與膜厚量測，以及以反射與橢偏技術進行的光學特性分析，對應電子、半導體、顯示與光伏製造環境。
能力與產品項目
- 全光譜橢圓儀（SE）
- 全光譜反射儀（SR）
- 單／雙波長橢圓儀（SWE/DWE）
- 積分式粗糙面反射率量測儀
- 太陽能反射光學效率量測儀
- 光譜儀
- 客製化光學量測設備
- 線上量測整合與製程即時監控