기본 정보
| 부스 | I2430 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.quatek.com.tw |
회사 소개
Quatek은 전자 정밀 측정 시스템의 선도적인 대리점입니다. 당사 제품은 통신, 태양광 기술, LED/LCD, 국방, 전자 산업 및 기계 산업에서 폭넓게 사용됩니다. 또한 반도체, 나노기술, 물리학 및 첨단 소재 분야의 연구실과 공장에서도 활용됩니다. 당사의 공급업체는 미국, 캐나다, 영국, 스위스, 독일 및 일본 등에서 옵니다. 사업 성장에 따라 대만과 중국 고객에게 더 나은 서비스를 제공하기 위해 타이베이, 신주, 가오슝, 상하이, 선전, 베이징, 샤먼, 시안, 청두 및 우후 등에 지사를 순차적으로 개설했습니다. 또한 Quatek은 일본과 동남아시아로 서비스 범위를 확대하기 위해 노력하고 있습니다. Quatek은 첨단 정밀 계측기의 전문 대리점일 뿐만 아니라 다양한 솔루션과 우수한 애프터서비스를 제공해 온 경험 많은 공급업체이기도 합니다. 기술 배경을 갖춘 영업 및 서비스 엔지니어를 통해 Quatek은 계측기 설치, 제품 교육, 제품 유지보수 및 수리부터 R &D, 제품 설계 및 제조에 이르기까지 다양한 서비스를 제공합니다. 고객의 요구에 부합하는 더 첨단이고 적합한 계측기를 찾기 위해 Quatek은 성숙한 영업 채널을 바탕으로 고객에게 효율적이고 고품질의 서비스를 제공합니다. 당사의 모든 활동은 경쟁이 점점 치열해지는 시장에서 고객이 더욱 유리한 위치를 확보하도록 하는 것을 목표로 합니다.
전시 제품
비저항/PN형/소수 캐리어 수명 · 웨이퍼 두께/박막 두께/응력 측정 · 프로브 스테이션/프로브 카드/반도체 관련 장비 · 첨단 패키징 PVD 장비 · 보호 유리용 다이아몬드 유사 코팅 · 비접촉식 면저항/초고저항 측정 · 웨이퍼 표면 결함/기하 치수/형상 스캐닝 · 딥 레벨 트랜지언트 분광 측정 · PL 형광 분광계/전계발광 · 플라즈마 강화 화학 기상 증착 시스템 · 반사율/투과율 측정 · 표준 광원/적분구 · SID 및 IEC 최신 표준을 준수하는 AR/VR 생산라인 테스트 시스템 · 2D 복굴절 테스트 시스템(SiC 결정 내부 결함 검사)
역량 및 제품
- 비저항/PN형/소수 캐리어 수명 측정
- 웨이퍼 두께／박막 두께／응력 측정
- 프로버 및 프로브 카드
- 첨단 패키징 PVD 장비
- 비접촉식 면저항／초고저항 측정
- 웨이퍼 표면 결함／기하／형상 스캐닝
- 심준위 과도 분광 테스트
- PL 형광 분광／전기발광
- 플라즈마 강화 화학기상증착 시스템
- 반사율／투과율 측정 및 표준 광원／적분구
- SID／IEC AR/VR 생산라인 테스트 시스템
- SiC 내부 결함 2D 복굴절 검사