德技先進有限公司台灣分公司

SEMICON Taiwan 2026 參展廠商 · 攤位 I2430

攤位 I2430國別 TW45 個產品主題
展會資訊

基本資料

攤位I2430
國別TW
網站www.quatek.com.tw
展商資料

公司簡介

德技先進有限公司台灣分公司是電子精密量測系統的領導代理商,產品應用於通訊、太陽能技術、LED/LCD、國防、電子工業與機械工業,也服務半導體、奈米科技、物理及高科技材料領域的實驗室與工廠。 其合作原廠來自美國、加拿大、英國、瑞士、德國與日本。 隨著業務成長,德技先進有限公司台灣分公司陸續在台北、新竹、高雄、上海、深圳、北京、廈門、西安、成都與蕪湖設立分公司,服務台灣與中國客戶,並持續將服務延伸至日本與東南亞。 公司將自身定位為先進儀器的專業代理商,同時也是具經驗的解決方案與售後服務供應商。 其銷售與服務工程師提供儀器安裝、產品培訓、產品維護與維修、研發、產品設計及製造等服務。 德技先進有限公司台灣分公司也持續尋找符合客戶需求的先進與合適儀器,透過既有銷售通路提供服務,並以協助客戶提升市場競爭力為目標。

展商資料

展出產品

產品組合涵蓋電阻率、PN 性與少子壽命量測,晶圓厚度、薄膜厚度與應力量測,以及探針台、探針卡與其他半導體相關設備。 產品也包括先進封裝 PVD 設備、保護玻璃類金剛石鍍膜,以及非接觸式面電阻與超高阻量測。 半導體檢測與特性分析項目包括晶圓表面缺陷、幾何尺寸與形貌掃描、深能級瞬態譜測試,以及 PL 熒光光譜與電致發光。 列出的製程設備包括電漿輔助化學氣相沉積系統。 光學量測項目包括反射率與穿透率量測,以及標準光源與積分球。 產品組合亦列有符合最新 SID 與 IEC 標準的 AR/VR 產線測試系統,以及用於 SiC 晶體內部缺陷檢測的 2D 雙折射測試系統。 半導體器件測試產品包括 SLIC-AC 3015 SiC 模組動態測試機、採用 731 Pulse Generator 加 5081-P Ramp Module 的共模瞬態抗擾度測試系統、TRd 2015 汽車級 IGBT 模組低電感動態測試系統、TP0620 便攜式功率器件測試儀、DMS 二極體動態特性測試儀、PRO AC Series 與 PRO DC Series 中功率器件測試系統,以及 TRd Series 大功率 IGBT/MOSFET 動態測試系統。 平板顯示應用涵蓋光學檢測、電阻率與膜厚量測、耗材及塗布機噴嘴、液晶阻值量測、觸控螢幕檢測、保護玻璃類金剛石鍍膜、AMOLED、MicroLED/MiniLED 與矽基 OLED;設備包括 VDU-1160 2D 光譜成像色度計、PG202/191FL 半自動保護玻璃 AR Coating 量測系統、NED-LMD M Series 近眼顯示測試系統、VT200 全自動光學測試及視覺檢測設備、NED-LMD W200-Series 產線用近眼顯示光學量測系統、NED-LMD E100 與 E101 實驗室近眼系統、GS-1160 光譜儀,以及 GS-191FA-1045 全自動反射率測試儀。 電阻率與面電阻產品包括 RT-3000/RG-2000(3000) 高精度半自動四探針電阻率測試儀、WS-3000 全自動四探針面電阻量測系統、Cresbox 半自動 Mapping 測試儀、RT-70V series 手動四點探針系統、NC-80MAP 非接觸多點面電阻量測系統、EC-80P 手持式非接觸測試儀、EC-80 非接觸式面電阻測試儀,以及 NC-10 非接觸式電阻值與電阻率量測儀。 晶圓與薄膜量測產品包括 WPA-300 寬範圍 2D 雙折射量測系統、PA-300 用於 SiC 內部缺陷檢測的 2D 雙折射系統、SE-101 單點高速橢偏儀、ME-210 半自動高速橢偏儀、TIM-10TFV-SR 半自動薄膜量測分析儀、TIM-10/30TFV 薄膜厚度量測分析儀、TIM-10/30TFV-MSXG 晶圓級半自動薄膜厚度量測分析儀,以及 NanoSpec II 全自動膜厚測試儀。 平板顯示與薄膜應用產品包括 NanoSpec II、RT-3000 / RG-1000F 全自動四探針面電阻量測系統、DUORES 手持式面電阻測試設備、NC-60F / RS-1300N 全自動非接觸電阻值量測系統、NC-700 與 NC-600 線上式非接觸面電阻量測模組、FilmTek 3000M 微區光譜透反射量測,以及 FilmTek 1000 光譜反射儀。 化合物半導體產品涵蓋薄膜厚度與電阻率量測、PL 熒光光譜與電致發光、霍爾效應、電化學 CV、外延層厚度、非接觸式面電阻與超高阻、晶圓表面缺陷及幾何與形貌掃描、深能級瞬態譜、LED 光學測試、探針台與探針、電漿輔助化學氣相沉積與曝光設備,並列有 NanoSpec II、Cresbox、FilmTek 3000M、FilmTek 1000、RT-70V series、5601TSR / QT-50、FilmTek 1500 與 FilmTek 2000M 等儀器。 探針台產品包括 FAPG150D 全自動雙面探針台、FAPG150 全自動單面探針台、PG101WIS 晶圓級光電元件檢測設備、PG101-RF 手動高頻探針台、PG3000 12 吋半自動探針台、A200D 8 吋全自動雙面晶圓探針台、A200 8 吋全自動晶圓探針台,以及 S300 12 吋半自動晶圓探針台。 晶圓分選設備包括 NC-3000F 全自動機械手加皮帶式分選機、NC-2000FLA 全自動機械手式分選機、NC-6800 非接觸式傳送帶分選系統、NC-3000R 非接觸式機械手分選系統、UltraMap C200L 全自動晶圓分選系統,以及 WS-8800 全自動四探針晶圓分選系統。 化合物半導體探針台選項包括 A200D 與 A200 8 吋全自動系統、S300 與 S200 半自動系統、M200FA 手動晶圓分析探針台、S200FA-HV 半自動高壓晶圓探針台、S300FA 12 吋半自動晶圓分析探針台,以及 S200FA 8 吋半自動晶圓分析探針台。 LED 光學測試產品包括 TV200 全自動光學測試及視覺檢測系統、VI500 全自動 LED 外觀光學電性測試機、LED 測試機、AT100 全自動 COB LED 測試機、RT800 LED 可靠度測試機、940LED Goniometer 高精度 LED 視角機、GS-1220 LED 分光光譜儀,以及 SRI-PL-6000 LED 植物燈量測計。 太陽能製程產品涵蓋薄膜厚度與反射率量測、電阻率、PN 性、少子壽命及碳氧含量量測、太陽能模擬器、聚焦太陽能設備、離子注入與光伏 PVD 設備,並列有 Qphoton-L 雷射光譜橢偏儀、NanoSpec II 全自動膜厚測試儀、FilmTek 3000M、FilmTek 1000、FilmTek 1500、FilmTek 2000M、FilmTek 3000 與 FilmTek 4000。 PL 與電致發光產品包括 YWafer RD8-CP 熒光光譜儀、RPMBlue FS 光致發光快速圖譜儀、Imperia 極致光致發光快速圖譜儀、VerteX 超高精密光致發光譜測試系統,以及 M2442 發光二極體磊晶片電激發光特性測試系統。

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