基本情報
| ブース | I2430 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | www.quatek.com.tw |
会社概要
Quatek International Limited Taiwan Branch は電子精密計測システムの主要代理店で、通信、太陽光技術、LED/LCD、防衛、電子産業、機械産業に加え、半導体、ナノテクノロジー、物理、高機能材料の研究所や工場へ製品を提供しています。 取扱メーカーは米国、カナダ、英国、スイス、ドイツ、日本にあります。 事業拡大に伴い、Quatek International Limited Taiwan Branch は台北、新竹、高雄、上海、深圳、北京、厦門、西安、成都、蕪湖に順次拠点を設け、台湾と中国の顧客にサービスを提供するとともに、日本および東南アジアへサービス範囲を広げています。 同社は、先進機器の専門代理店であると同時に、ソリューションとアフターサービスを提供する経験豊富な企業であると説明しています。 営業・サービスエンジニアは、機器設置、製品トレーニング、保守・修理、研究開発、製品設計、製造を提供します。 Quatek International Limited Taiwan Branch は顧客ニーズに適した先進機器を探し、確立された販売チャネルを通じてサービスを提供し、顧客の競争力向上を支援することを目標としています。
展示製品
製品群は、抵抗率、PN 型、少数キャリア寿命の測定、ウエハ厚さ、薄膜厚さ、応力測定、さらにプローバ、プローブカード、その他の半導体関連装置をカバーします。 先進パッケージング用 PVD 装置、保護ガラス向けダイヤモンドライクカーボンコーティング、非接触シート抵抗および超高抵抗測定も含まれます。 半導体検査・特性評価には、ウエハ表面欠陥、幾何寸法、トポグラフィのスキャン、深準位過渡分光試験、PL 蛍光分光、エレクトロルミネッセンスが含まれます。 掲載されているプロセス装置にはプラズマ支援化学気相成長システムがあります。 光学測定には反射率・透過率測定、標準光源、積分球が含まれます。 さらに、最新の SID および IEC 規格に適合する AR/VR 生産ライン試験システムと、SiC 結晶内部欠陥検査用の 2D 複屈折試験システムが掲載されています。 半導体デバイス試験では、SLIC-AC 3015 SiC モジュール動的試験機、731 Pulse Generator と 5081-P Ramp Module を用いるコモンモード過渡イミュニティ試験システム、TRd 2015 車載 IGBT モジュール低インダクタンス動的試験システム、TP0620 携帯型パワーデバイステスタ、DMS ダイオード動特性テスタ、PRO AC Series と PRO DC Series の中電力デバイス試験システム、TRd Series の大電力 IGBT/MOSFET 動的試験システムが掲載されています。 フラットパネル用途では、光学検査、抵抗率・膜厚測定、消耗品・コーターノズル、液晶抵抗測定、タッチスクリーン検査、保護ガラス向けダイヤモンドライクカーボンコーティング、AMOLED、MicroLED/MiniLED、シリコンベース OLED を扱い、装置には VDU-1160 2D 分光イメージング色度計、PG202/191FL 半自動保護ガラス AR Coating 測定システム、NED-LMD M Series ニアアイディスプレイ試験システム、VT200 全自動光学・外観検査装置、NED-LMD W200-Series 生産ライン向けニアアイ光学測定システム、NED-LMD E100 と E101 の研究室向けシステム、GS-1160 分光器、GS-191FA-1045 自動反射率測定器があります。 抵抗率・シート抵抗製品には、RT-3000/RG-2000(3000) 高精度半自動四探針抵抗率テスタ、WS-3000 全自動四探針シート抵抗測定システム、Cresbox 半自動マッピングテスタ、RT-70V series 手動四探針システム、NC-80MAP 非接触多点システム、EC-80P ハンディ非接触テスタ、EC-80 非接触シート抵抗テスタ、NC-10 非接触抵抗・抵抗率測定システムがあります。 ウエハ・薄膜測定製品には、WPA-300 広範囲 2D 複屈折測定システム、SiC 内部欠陥検査用 PA-300 2D 複屈折システム、SE-101 高速単点エリプソメータ、ME-210 半自動高速エリプソメータ、TIM-10TFV-SR 半自動薄膜測定アナライザ、TIM-10/30TFV 薄膜厚さアナライザ、TIM-10/30TFV-MSXG ウエハレベル半自動薄膜厚さアナライザ、NanoSpec II 全自動膜厚テスタがあります。 フラットパネルおよび薄膜用途には、NanoSpec II、RT-3000 / RG-1000F 全自動四探針シート抵抗測定システム、DUORES ハンディシート抵抗装置、NC-60F / RS-1300N 全自動非接触抵抗測定システム、NC-700 と NC-600 のインライン非接触シート抵抗モジュール、FilmTek 3000M 微小領域分光透過・反射測定、FilmTek 1000 分光反射計があります。 化合物半導体向けには、薄膜厚さ・抵抗率、PL 蛍光分光・エレクトロルミネッセンス、ホール効果、電気化学 CV、エピ層厚さ、非接触シート抵抗・超高抵抗、ウエハ表面欠陥・幾何形状・トポグラフィ、深準位過渡分光、LED 光学、プローブステーション・プローブ、プラズマ支援化学気相成長、露光装置を扱い、NanoSpec II、Cresbox、FilmTek 3000M、FilmTek 1000、RT-70V series、5601TSR / QT-50、FilmTek 1500、FilmTek 2000M などが掲載されています。 プローブステーション製品には、FAPG150D 全自動両面プローブステーション、FAPG150 全自動片面プローブステーション、PG101WIS ウエハレベル光電デバイス検査装置、PG101-RF 手動 RF プローブステーション、PG3000 12 インチ半自動プローブステーション、A200D 8 インチ全自動両面ウエハプローブステーション、A200 8 インチ全自動ウエハプローブステーション、S300 12 インチ半自動ウエハプローブステーションがあります。 ウエハソーティング装置には、NC-3000F ロボット＋ベルト式全自動ソータ、NC-2000FLA ロボット式全自動ソータ、NC-6800 非接触コンベヤ式ソータ、NC-3000R 非接触ロボット式ソータ、UltraMap C200L 全自動ウエハソーティングシステム、WS-8800 全自動四探針ウエハソーティングシステムがあります。 化合物半導体向けプローブステーションには、A200D と A200 の 8 インチ全自動システム、S300 と S200 の半自動システム、M200FA 手動ウエハ解析プローブステーション、S200FA-HV 半自動高電圧プローブステーション、S300FA 12 インチ半自動ウエハ解析プローブステーション、S200FA 8 インチ半自動ウエハ解析プローブステーションがあります。 LED 光学試験製品には、TV200 全自動光学・外観検査システム、VI500 全自動 LED 外観光学・電気テスタ、LED テスタ、AT100 全自動 COB LED テスタ、RT800 LED 信頼性テスタ、940LED Goniometer 高精度 LED 視野角システム、GS-1220 LED 分光器、SRI-PL-6000 LED 植物育成灯メータがあります。 太陽光プロセス向けには、薄膜厚さ・反射率、抵抗率、PN 型、少数キャリア寿命、炭素・酸素含有量の測定、ソーラーシミュレータ、集光型太陽光装置、イオン注入、太陽光発電 PVD 装置があり、Qphoton-L レーザー分光エリプソメータ、NanoSpec II、FilmTek 3000M、FilmTek 1000、FilmTek 1500、FilmTek 2000M、FilmTek 3000、FilmTek 4000 が掲載されています。 PL およびエレクトロルミネッセンス製品には、YWafer RD8-CP 蛍光分光器、RPMBlue FS 高速フォトルミネッセンスマッピングシステム、Imperia 高性能高速フォトルミネッセンスマッピングシステム、VerteX 超高精度フォトルミネッセンス分光試験システム、M2442 LED エピウエハ電気励起発光特性試験システムがあります。
対応領域・製品
- PN導電型測定装置の供給
- 少数キャリア寿命測定装置の供給
- ウェーハ厚さ測定装置の供給
- 薄膜厚さ測定装置の供給
- ウェーハ応力測定装置の供給
- プローブカードの供給
- 超高抵抗測定装置の供給
- ウェーハ表面欠陥検査装置の供給
- ウェーハ形状寸法・表面形状走査装置の供給
- 深準位過渡分光測定装置の供給
- PECVDプラズマ支援化学気相成長装置の供給
- 標準光源の供給
- 積分球の供給
- AR/VRニアアイディスプレイ試験システムの供給
- SiC結晶欠陥向け2D複屈折測定システムの供給
- 炭素・酸素含有量測定装置の供給
- 露光装置の供給
- 塗布装置用ノズルの供給
- 液晶抵抗測定装置の供給
- タッチパネル検査装置の供給
- カバーガラス用ダイヤモンドライクコーティングソリューションの供給
- ソーラーシミュレーターの供給
- イオン注入装置の供給
- ホール効果測定装置の供給
- 電気化学C-V測定装置の供給
- エピタキシャル層厚さ測定装置の供給
- テストプローブの供給
- 分光計の供給
- 暗視装置の供給
- 光パワーメーターの供給
- 画像品質試験装置の供給
- 多機能校正器の供給
- 高精度デジタルマルチメーターの供給
- 標準電力源の供給
- 抵抗・容量・インダクタンス標準器の供給
- 安全規格試験器・標準源の供給
- 高精度LCRメーター・ブリッジの供給
- 静電気監視装置の供給
- 静電気測定装置の供給
- 除電装置の供給
- 帯電防止性能試験装置の供給
- クリーンルーム用浮遊粒子計数器の供給
- 高電圧源およびパルス源の供給
- ピコ秒電圧パルス源の供給
- 任意波形発生器の供給
- SMT部品検査装置の供給
- 基板自動試験・故障検出装置の供給
- 電力品質監視装置の供給
- 電力解析装置の供給
- 電磁干渉プリコンプライアンス試験器の供給
- 道路安全用反射材料試験装置の供給
- トナーQ/M帯電量測定器の供給
- 高電圧電源の供給
- 低電圧電源の供給
- エンジニアリングプラスチック添加剤の供給
- エンジニアリングプラスチックペレットの供給
- エンジニアリングプラスチック形材の供給
- コモンモード過渡耐性試験システムの供給
- パワーデバイス静特性試験器の供給
- パワーデバイス動特性試験装置の供給
- 帯電防止消耗品の供給
- 帯電防止エンジニアリング材料の供給
- 元素分析装置の供給
- 2D分光イメージング色度計の供給
- 四探針抵抗率・シート抵抗測定装置の供給
- 非接触シート抵抗・抵抗率測定装置の供給
- エリプソメーターの供給
- 微小領域分光透過・反射測定装置の供給
- インライン非接触シート抵抗測定モジュールの供給
- 分光透過・反射測定装置の供給
- ウェーハプローバーの供給
- ウェーハレベル光電子デバイス検査装置の供給
- ウェーハ選別装置の供給
- LED外観・光学・電気特性試験装置の供給
- COB LED試験装置の供給
- LED信頼性試験装置の供給
- LED視野角測定装置の供給
- LED植物育成灯用測定器の供給
- 微小領域分光屈折率測定器の供給
- フォトルミネセンス分光・マッピング装置の供給
- LEDエピタキシャルウェーハ電界発光試験システムの供給
- 先端パッケージング・太陽光発電向けPVD装置の供給
- 計測器の設置
- 計測器の保守・修理
- 計測器の操作研修