기본 정보
| 부스 | K2882 |
| 국가 | CN |
| 웹사이트 | www.powertechsemi.com |
회사 소개
PowerTech Co., Ltd.는 1998년 12월에 설립되었으며 반도체 조립, 후공정 패키징 및 테스트 장비의 연구개발, 제조와 판매에 집중하고 있고 반도체 패키징 테스트 분야에서 20년 이상 활동해 왔습니다. 회사는 실제 생산의 다단계 요구와 확장 응용에 대응하는 IC 및 개별 소자 테스트 토털 솔루션을 개발하며, 테스터 R&D 팀에는 테스트 경험이 풍부한 엔지니어, 중국 항공우주 과학기술 산업 전문가, 석사 학위를 가진 선임 엔지니어가 포함됩니다. 주요 사업은 반도체 자동 테스트 시스템, 레이저 마킹 장비 및 기타 메카트로닉스 장비이며 더 넓은 제품군에는 Handler, Prober와 관련 테스트 모듈도 포함됩니다. 장비는 전기자동차, 태양광, 풍력, 에너지 저장 등 신에너지 분야와 데이터센터용 전원관리 칩 및 모듈의 기능과 성능 테스트에 사용됩니다. PowerTech Co., Ltd.는 국가 고신기술기업, 광둥성 전략적 신흥산업 육성기업, 국가급 전정특신 ‘작은 거인’ 기업으로 지정되어 있으며 Guangdong Semiconductor Integrated Circuit Packaging and Testing Equipment Engineering Technology Research and Development Center를 운영합니다. 회사는 R&D 인력이 200명 이상이라고 밝히며 반도체 테스트 기술의 독자 연구개발, 생산 및 제조 역량을 유지하고 있습니다. 자동 IC 테스트 시스템은 ON Semiconductor, Amkor, JCET, Tongfu Microelectronics, Huatian Technology 등에서 인정받아 사용되고 있으며, 미국, 일본, 유럽의 다국적 반도체 기업에 적용되는 반도체 IC 제조 장비를 수출한다고 설명합니다. 2022년 9월 22일 Shenzhen Stock Exchange의 ChiNext 시장에 주식 코드 301369로 상장했으며, 조달 자금은 반도체 패키징 및 테스트 장비 R&D와 생산능력 확대, 더 높은 전력 및 3세대 반도체 테스트, 집적회로 테스트 기술에 투입되었습니다. 개발 연혁에는 2001년 최초 레이저 마킹기, 2003년 QT-4000 series 개별 소자 테스터, 2006년 듀얼 헤드 레이저 마킹기, 2007년 광둥성 고신기술기업 인정, 2008년 국가 고신기술기업 인정이 포함됩니다. 2009년에는 광둥성 소프트웨어 기업 인정을 받고 포산에 반도체 패키징 테스트 장비 공정기술 R&D 센터를 설립했으며 ISO9001:2008 품질 시스템 인증을 통과하고 QT-6000 series 고속 개별 소자 테스트 시스템을 출시했습니다. 후속 이정표에는 2010년 메카트로닉스 영상 인식 시스템, 2012년 최초의 독자 개발 레이저와 QT-8100 series mixed-signal IC test system, 2013년 RG, avalanche, thermal resistance, DC, TRR, QRR 종합 테스트 플랫폼과 QT-8200 Direct Mount, 2014년 완전 자동 레이저 마킹 시스템이 포함됩니다. 2016년에는 광둥성 반도체 IC 패키징 테스트 장비 공정기술 연구센터와 LCR 테스트 모듈을 추가했고, 2017년에는 300A, 3KV, TRR 테스트 모듈, QT-9200 very-large-scale integrated-circuit test system, QT-9100 digital IC test system을 출시했습니다. 2018년에는 QT-7200 series IC test system, QT-8100EX high-power enhanced mixed-signal IC test system, IGBT/SiC double-pulse testing, QG, TRR, RF module을 개발했고 이후 2019년 RGCG module, 2020년 2000A/6KV module, 2021년 PIM과 QT-8400 series, 2022년 GaN 및 power-device CP/FT IPM test solutions을 추가했습니다. 회사는 500곳이 넘는 고객을 지원하며 중국 화동, 서남, 화남의 판매 및 서비스 센터와 다른 해외 지역을 지원하는 말레이시아 해외 판매 서비스 센터를 운영합니다.
전시 제품
PowerTech Co., Ltd.는 반도체 후공정 패키징 및 테스트 장비를 개발하고 판매하며 QT-3000, QT-4000, QT-6000, QT-8400 series power-device test systems, QT-8000 series digital/analog mixed-signal IC test systems, QT-9000 VLSI test systems 및 RF test-module options을 포함합니다. 자동화 장비에는 완전 자동 마킹 시스템과 고온 중력식 tube-to-tube test and sorting systems도 포함되며 QFN, SOP, SOT, TO series lead-frame package의 마킹 및 전기적 특성 테스트를 수행하고 모듈형 구성과 자동 패키지 전환으로 전후공정 생산 요구에 대응합니다. 반도체 레이저 마킹 분야에서는 100종이 넘는 산업용 레이저 마킹기 모델을 개발했으며 맞춤형 장비 방식을 적용해 국내외 반도체 패키징 테스트 생산 라인에 장비를 공급합니다. Prober 제품군에는 6-inch 및 8-inch wafer용 QP2000 series와 8-inch 및 12-inch wafer용 QP3000 series가 포함되어 반도체 웨이퍼 테스트를 지원합니다. PowerTech Co., Ltd.는 Prober와 자체 개발 고성능 power tester를 결합해 일체형 power-device wafer-testing solution을 제공하며 다양한 power-semiconductor 제조 환경에 대응하고 테스트 공정 최적화를 위한 맞춤 서비스도 제공합니다. 또한 애프터서비스를 제공하고 중국 내 및 말레이시아 서비스 네트워크를 통해 고객 요구에 맞춘 반도체 테스트 및 마킹 솔루션을 지속적으로 개발합니다. 현재 반도체 테스트 포트폴리오에는 IC test systems QT-9800EXA, QT-8100 Cable-Mount, QT-8200 Pro Hard-Docking, QT-8600RF, power-module and device systems QT-8400D, QT-8400GaN, QT-8409PIM, QT-8409IPM, QT-6000 high-speed discrete-device system, 그리고 QT-4100, KGD, QT-DRM101000, QT-3108, QT-3101, QT-3102, QT-3107, QT-3105TRR이 포함됩니다. QT-9800EXA SOC test system은 GPU, DPU, NPU, AI SoC 같은 대규모 연산 칩, 고성능 프로세서 및 FPGA/ASIC에 대해 DC parameter, 고속 AC signal, AI core computation, logic function, memory interface를 테스트하고 액체 냉각 대응 열특성 및 방열 성능 검증도 지원하며 chip R&D, wafer test, finished-device mass production까지 포괄해 automotive 및 industrial 요구에 대응합니다. QT-9800EXA는 고부하 테스트를 위해 액체 냉각 온도 제어를 사용하고 multi-channel parallel operation을 지원하며 다양한 소자 구조와 주류 플랫폼에 빠르게 대응하기 위한 공통 DUT interface와 software environment를 제공합니다. 디지털 자원은 MAX 6912CH, 800Mbps, vector depth 512M/pin이며 LHead는 MAX 27 slots를 제공합니다. DPU256 digital board는 256 channels, -1.5 to 6.5V levels, ±12mA load current, ±175ps edge accuracy, 20ps resolution을 제공하며 DPS256 power board는 256 channels, -3 to 10V／2.0A V/I, ±2A current range, gang mode에서 board당 최대 512A를 제공합니다. QT-9800EXA resource table에는 DPU256이 -1.5 to 6.5V／±60mA, 256 channels, maximum rate 800M, DPS256이 -3 to 10V／2.0A V/I, 256 channels, AVI32가 -40V to +80V／±200mA, 32 channels와 AWG／Digitizer로 기재되며 development environment는 standard Pattern file format을 사용하고 DUT interface는 mainstream Load Board와 호환됩니다. QT-8400 platform은 test host와 선택 가능한 Test Kit로 구성되며 Power Device Test Kit는 MOSFET/SiC, diode, transistor의 CP test를, GaN Test Kit는 gallium-nitride test requirements를 지원합니다. 캐비닛은 서서 사용할 때 105cm, 앉아서 사용할 때 75cm의 권장 키보드 높이를 제공하며 design company, laboratory, packaging-and-test plant 등 다양한 환경을 고려한 ergonomic guidance design을 적용합니다. QT-8400은 2, 4, 8, 16 Site parallel testing을 지원하고 20A/100A, 1KV/2KV multi-site configurations을 제공하며 고전압 및 DC 확장은 8KV, 2000A까지 가능하고 avalanche, RGCG, dynamic RDson test module을 확장해 third-generation-semiconductor testing에 대응합니다. QT-8400 GaN은 GaN의 dynamic and static electrical-parameter testing 전용이며 QT-8400 D는 MOSFET/SiC, diode, transistor, IGBT의 CP testing을 대상으로 하고 floating V/I source range는 GaN configuration에서 1KV/2KV, 20A/100A, power-device configuration에서 1KV/2KV/3KV, 20A/100A/200A입니다. GaN Test Kit와 Power Device Test Kit는 nA-level 및 mΩ-level measurement용 precision measurement circuit를 갖추고 host는 pluggable board architecture, four-quadrant V/I source, AWG, oscilloscope resources로 I-V 등 scanning test를 지원하며 QT-8400 PTS OS는 test development, production, debugging, calibration workflow에 맞게 최적화되어 있습니다. QT-4100 power-device test system은 SiC 및 Si MOSFET, IGBT, diode, transistor, thyristor, solid-state discharge tube, three-terminal regulator, optocoupler의 전기적 특성 테스트에 사용되며 DC, EAS, RGCG, thermal resistance, SW switching, short-circuit, TRR, QG dynamic/static test와 multi-station data merging을 지원합니다. QT-4100에는 one-button calibration, lot-start self-check, 0.2mR까지의 Low RDON measurement, voltage/current limiting, form-based process setup, EAS, LCR, thermal resistance, SW, TRR, QG expansion, PAT capability 및 SECS/GEM standard interface가 포함됩니다. 사양은 DC 2kV 200A에서 8kV 2kA까지의 확장, AC 1500V 600A, short-circuit 3000A, stray inductance Ls<30nH, protection under 300ns를 포함하며 complete SiC MOS/IGBT parameter-test flow와 100% online QA를 지원합니다. QT-8600RF mixed-signal RF test system은 RF12G test module을 사용해 high-power output, harmonic, switching-time, insertion-loss, isolation, S11, Ron, Coff, same-port loop, IP3, spurious, modulation/demodulation, MIPI, P0.1dB 및 P1dB test를 수행합니다. QT-8600RF는 12GHz RF measurement, 100MHz 이하 digital MIPI test, DC, digital, RF를 통합한 vector/scalar test, 8.5GHz 및 37dBm power capability, 2-station RF parallel 및 multi-station combined test, 자체 algorithm communication을 통한 최대 12K per hour throughput을 제공하며 RF switch, LNA, TUNER, filter, PA/FEM, Wifi6, wifi6e, wifi7 device에 대응합니다. QT-3101 UIL avalanche tester는 MOSFET, IGBT, diode의 avalanche-parameter testing용이며 dual DIE, rapid charging, failure-waveform storage 및 clamping function을 지원합니다. QT-3101은 VDD ON／VDD OFF energy-test mode, QT-4100B와 PC를 공유하는 program/data management, single-pulse, multi-pulse 및 dual-MOSFET test, IDMAX와 Energy의 real-time monitoring, oscilloscope, RPF, wafer-test protection, measured energy display, PVDROOP, PVCOLLAPSE를 지원하며 QT-UILM module은 ID output 400A, BVDSS measurement 5KV까지 확장합니다. QT-6000 high-speed discrete-device test system은 중소전력 diode, transistor, MOS용이며 internal capacitance DC+CAP, EAS, Vc, pA module과 external LCR, Scanbox expansion을 선택할 수 있고 wafer, FT mass production 및 laboratory testing에 사용됩니다. QT-6000은 four-quadrant circuitry, floating power supply, symmetrical structure를 적용하고 handler operation above UPH56K, test throughput above UPH40K, one-to-two 100% FT+QA parallel test, CAP+DC 및 DC+UIS same-station test, LCR capacitance 100fF, optional 1200V/600V 및 30A/10A/3A range를 지원합니다. QT-8100 Cable-Mount digital/analog mixed-signal IC test system은 conventional DC/AC parameter test와 mixed-signal 및 analog IC functional test를 지원하며 power-management device, digital-consumer device, motor driver, audio amplifier, operational amplifier에 적용됩니다. QT-8100은 floating source, 25.6MHz digital frequency, 64M vector depth, 18 bit high-precision sampling, 600+ mixed-signal test channels, multiple 1000V/20A high-voltage/high-current channels, ns-level multi-channel timing measurement 및 RF-module expansion을 제공합니다. QT-8409PIM high-power dynamic/static integrated test system은 IGBT 및 SiC power module용이며 4 DC/AC stations와 SW, TRR, ISC, QG, RBSOA test function을 지원해 mass production 또는 manual operation에 사용할 수 있습니다. QT-8409PIM 사양은 stray inductance LS<30nH, AC 4000A／2000V 및 ISC 16000, DC 3000A／2KV／3KV, short-circuit protection under 1uS이며 PIM IGBT module, SiC module, DBC 및 three-level product를 테스트 대상으로 합니다.
역량 및 제품
- GaN 동적·정적 전기 파라미터 테스트 시스템
- 전력 소자용 멀티 사이트 웨이퍼 CP 테스트 시스템
- IGBT/SiC 전력 모듈 동적·정적 파라미터 테스트 시스템
- 지능형 전력 모듈 테스트 시스템
- MOSFET, IGBT 및 다이오드 전력 소자 파라미터 테스트 시스템
- KGD 양품 다이 테스트 솔루션
- GaN 동적 RDON 테스트 장비
- IGBT/SiC 동적 스위칭 테스트 장비
- MOSFET, IGBT 및 다이오드 애벌랜치 테스트 장비
- 전력 소자 열저항 시험기
- 전력 소자 LCR RG/CG 테스트 장비
- 다이오드 역회복 TRR 테스트 장비
- 개별 반도체 소자 고속 테스트 시스템
- 혼합 신호 IC 테스트 시스템
- RF 혼합 신호 IC 테스트 시스템
- GPU/DPU/NPU/AI SoC 집적회로 테스트 시스템
- RF 테스트 모듈 옵션
- 6/8/12인치 반도체 웨이퍼 프로브 스테이션
- 전력 소자 웨이퍼 테스트 통합 솔루션
- 반도체 레이저 마킹 장비 제조
- 전자동 반도체 마킹 시스템
- 고온 중력식 튜브 간 테스트 선별 시스템
- 반도체 소자 테스트 핸들러
- 반도체 패키징 및 테스트 장비 사후 서비스