基本資料
| 攤位 | K2882 |
| 國別 | CN |
| 網站 | www.powertechsemi.com |
公司簡介
佛山市聯動科技股份有限公司成立於 1998 年 12 月，專注於半導體組裝、後道封裝與測試設備的研發、生產與銷售，在半導體封裝測試領域深耕 20 多年。 公司開發 IC 與分立元件測試整體解決方案，以因應實際生產中的多層次需求與延伸應用；測試機研發團隊包含具測試經驗的工程人員、來自中國航太科技產業的專家，以及具碩士學位的資深工程師。 主要業務包括半導體自動化測試系統、雷射打標設備與其他機電一體化設備，並在更完整的產品組合中提供分選機、探針台與配套測試模組。 設備應用涵蓋電動汽車、光伏、風電、儲能等新能源，以及資料中心電源管理晶片與模組的功能和性能測試。 佛山市聯動科技股份有限公司為國家高新技術企業、廣東省戰略性新興產業培育企業、國家級「專精特新」小巨人企業，並設有廣東省半導體積體電路封裝測試設備工程技術研究開發中心。 公司表示其研發人員超過二百人，並維持半導體測試技術的自主研發、生產與製造能力。 公司的積體電路自動化測試系統已獲安森美集團、安靠集團、長電科技、通富微電、華天科技等半導體企業認可與採用，並將半導體積體電路製造裝備出口應用於美國、日本與歐洲的跨國半導體企業。 2022 年 9 月 22 日，公司在深圳證券交易所創業板上市，股票代碼 301369，募集資金主要投入半導體封測設備研發與產能建設、更高功率與第三代半導體測試能力，以及積體電路測試技術。 發展歷程包括 2001 年推出首台雷射打標機、2003 年推出 QT-4000 系列分立元件測試機、2006 年推出雙頭雷射打標機、2007 年通過廣東省高新技術企業認定，以及 2008 年通過國家高新技術企業認定。 2009 年，公司通過廣東省軟體企業認定，在佛山組建半導體封裝測試設備工程技術研究開發中心，通過 ISO9001:2008 品質體系認證，並推出 QT-6000 系列分立元件高速測試系統。 後續里程碑包括 2010 年的機電一體化視覺辨識系統、2012 年的首台自主研發雷射器與 QT-8100 系列數模混合 IC 測試系統、2013 年的 RG／雪崩／熱阻／DC／TRR／QRR 綜合測試平台與 QT-8200 Direct Mount 系統，以及 2014 年的全自動雷射打標系統。 公司於 2016 年組建廣東省半導體積體電路封裝測試設備工程技術研究中心並推出 LCR 測試模組，2017 年再推出 300A、3KV、TRR 測試模組、QT-9200 超大規模積體電路測試系統與 QT-9100 數位積體電路測試系統。 2018 年的開發包括 QT-7200 系列積體電路測試系統、QT-8100EX 大功率增強型混合訊號 IC 測試系統、IGBT/SiC 雙脈衝測試、QG、TRR 與 RF 模組；後續並於 2019 年推出 RGCG 模組、2020 年推出 2000A/6KV 模組、2021 年發展 PIM 與 QT-8400 series，2022 年再加入氮化鎵及功率元件 CP/FT IPM 測試方案。 公司表示服務超過 500 家客戶，並在華東、西南、華南設置銷售及服務中心，在馬來西亞設置海外銷售服務中心以支援其他海外地區。
展出產品
佛山市聯動科技股份有限公司研發與銷售半導體後道封裝測試設備，包括 QT-3000、QT-4000、QT-6000、QT-8400 系列功率元件測試系統，QT-8000 系列數位類比混合訊號 IC 測試系統、QT-9000 VLSI 大規模積體電路測試系統，以及 RF 測試模組選件。 自動化設備亦包括全自動打標系統與高溫重力式管對管測試分選系統，可對 QFN、SOP、SOT、TO 系列引線框架封裝執行標記與電性能測試，並以模組化配置及全自動封裝切換對應客戶前後道生產需求。 半導體雷射打標方面，公司表示已開發上百種半導體工業雷射打標機型，採客製化設備路線，產品應用於國內外封裝測試產線。 探針台產品包括適用 6 吋與 8 吋晶圓的 QP2000 系列，以及支援 8 吋與 12 吋晶圓的 QP3000 系列，用於半導體晶圓測試。 佛山市聯動科技股份有限公司把探針台與自研高性能功率測試機整合為一站式功率元件晶圓測試方案，面向各類功率半導體製造場景，並可搭配客製服務優化測試流程。 公司亦提供售後支援，並透過國內與馬來西亞的服務網路，依客戶需求持續開發半導體測試與打標方案。 目前半導體測試產品組合列有 IC 測試系統 QT-9800EXA、QT-8100 Cable-Mount、QT-8200 Pro Hard-Docking、QT-8600RF；功率模組與元件系統 QT-8400D、QT-8400GaN、QT-8409PIM、QT-8409IPM；QT-6000 分立元件高速測試系統；以及 QT-4100、KGD、QT-DRM101000、QT-3108、QT-3101、QT-3102、QT-3107、QT-3105TRR 等功率元件測試產品。 QT-9800EXA SOC 測試系統可對 GPU、DPU、NPU、AI SoC 等大算力晶片、高性能處理器與 FPGA/ASIC 執行直流參數、高速交流訊號、AI 核心運算、邏輯功能與記憶體介面等測試，並支援液冷適配的熱學特性與散熱效能驗證，涵蓋晶片研發、晶圓測試到成品量產，對應車規與工業級需求。 QT-9800EXA 採液冷控溫以支援高負載測試，支援多通道並行，並提供通用 DUT 介面與軟體環境，以快速適配不同元件架構與主流平台。 其數位資源最高為 6912CH、速度 800Mbps、向量深度 512M/pin，LHead 最高提供 27 個卡槽。 DPU256 數位板提供 256 通道，電平 -1.5 至 6.5V、負載電流 ±12mA、邊沿精度 ±175ps、分辨率 20ps；DPS256 電源板提供 256 通道的 -3 至 10V／2.0A V/I，電流量程 ±2A，並聯模式單板最高 512A。 QT-9800EXA 的資源表亦列出 DPU256 為 -1.5 至 6.5V／±60mA、256 通道、最高速率 800M，DPS256 為 -3 至 10V／2.0A V/I、256 通道，AVI32 為 -40V 至 +80V／±200mA、32 通道並具 AWG／Digitizer；開發環境採標準 Pattern 檔案格式，DUT 介面相容主流 Load Board。 QT-8400 平台由測試主機與可選 Test Kit 組成，其中 Power Device Test Kit 面向 MOSFET/SiC、二極體、三極體等 CP 測試，GaN Test Kit 面向氮化鎵測試需求。 機箱提供站姿 105cm、坐姿 75cm 的建議鍵盤高度，並以人體工學指引設計對應設計公司、實驗室與封測廠等不同環境。 QT-8400 支援 2、4、8、16 Site 並行測試，提供 20A/100A、1KV/2KV 多 Site 方案，可將高壓／直流模組擴展至 8KV、2000A，並可擴展雪崩、RGCG、動態 RDson 測試模組以對應第三代半導體測試。 QT-8400 GaN 專用於氮化鎵動靜態電參數測試，QT-8400 D 則面向 MOSFET/SiC、二極體、三極體、IGBT 等 CP 測試；所列懸浮 V/I 源範圍分別為 GaN 配置 1KV/2KV、20A/100A，以及功率元件配置 1KV/2KV/3KV、20A/100A/200A。 GaN Test Kit 與 Power Device Test Kit 內建精密測量電路，可進行 nA 級與 mΩ 級測量；主機採可插拔板卡架構、四象限 V/I 源，並配備 AWG 與示波器以支援 I-V 等掃描測試，QT-8400 PTS OS 則針對測試開發、生產、除錯與校準流程進行介面最佳化。 QT-4100 功率元件測試系統適用於 SiC 與 Si MOSFET、IGBT、二極體、三極體、可控矽、固態放電管、三端穩壓與光耦等電性參數測試，支援 DC、EAS、RGCG、熱阻、SW 開關特性、短路、TRR、QG 等動靜態參數及多工站資料合併。 QT-4100 功能包括一鍵校準、開批自檢、最低 0.2mR 的 Low RDON 測量、限壓限流、填表式製程設定、EAS／LCR／熱阻／SW／TRR／QG 擴展、PAT 功能，以及 SECS/GEM 標準介面。 其規格包括 DC 2kV 200A 並可擴展至 8kV 2kA，AC 1500V 600A、短路 3000A、雜散電感 Ls<30nH、保護時間低於 300ns，並支援 SiC MOS/IGBT 全參數測試流程與 100% 線上 QA。 QT-8600RF 混合訊號射頻測試系統採 RF12G 測試模組，可用於大功率輸出、諧波、開關時間、插損、隔離、S11、Ron、Coff、同端迴路、IP3、雜散、調變解調、MIPI、P0.1dB 與 P1dB 測試。 QT-8600RF 提供 12GHz 射頻量測，數位端支援 100MHz 以下 MIPI 測試，在同一平台整合向量與純量、DC、數位與 RF 測試；規格並列出 8.5GHz 與 37dBm 功率能力、2 站 RF 並行與多站複合測試，以及自研演算法通訊最高 12K per hour 的 UPH，應用元件包括 RF switch、LNA、TUNER、filter、PA/FEM 與 Wifi6、wifi6e、wifi7。 QT-3101 UIL 雪崩測試機適用於 MOSFET、IGBT 與二極體的雪崩參數測試，並支援雙 DIE、快速充電、失效波形保存與鉗壓功能。 QT-3101 支援 VDD ON 與 VDD OFF 能量測試模式，可與 QT-4100B 共用電腦統一管理程式與資料，支援單脈衝、多脈衝與雙 MOSFET 測試，實時監控 IDMAX 與 Energy，內建示波器，並支援 RPF、晶圓測試保護、實測能量顯示、PVDROOP、PVCOLLAPSE；QT-UILM 模組可把 ID 輸出提升至 400A，BVDSS 電壓量測至 5KV。 QT-6000 分立元件高速測試系統適用於中小功率二極體、三極體與 MOS，可選內建電容 DC+CAP、EAS、Vc、pA 模組，也能外接 LCR 與 Scanbox，應用於晶圓、FT 量產或實驗室測試。 QT-6000 採四象限電路、懸浮電源與全對稱結構，可支援 UPH56K 以上分選機與 UPH40K 以上高速測試，能以一拖二方式進行 100% FT+QA 並行，實現 CAP+DC、DC+UIS 同工位測試，LCR 最小電容量測值為 100fF，並提供 1200V/600V、30A/10A/3A 的可選電壓／電流範圍。 QT-8100 Cable-Mount 數位類比混合訊號 IC 測試系統支援常規 DC、AC 參數測試與混合類、類比類 IC 功能測試，應用包括電源管理、數位消費、馬達驅動、音訊放大器與運算放大器。 QT-8100 具懸浮源、25.6MHz 數位頻率、64M 向量深度、18 bit 高精密採樣、600+ 數模混合測試通道、多路 1000V/20A 高壓大電流通道、ns 級多通道高精度時間量測，並支援 RF 模組擴展。 QT-8409PIM 大功率動靜態綜合測試系統面向 IGBT 與 SiC 功率模組，支援 4 個 DC/AC 工位，測試功能包括 SW、TRR、ISC、QG、RBSOA，可用於量產或手動操作。 QT-8409PIM 規格包括雜散電感 LS<30nH、AC 4000A／2000V 且 ISC 16000、DC 3000A／2KV／3KV、短路保護低於 1uS，測試對象包括 PIM IGBT 模組、SiC 模組、DBC 與三電平產品。
能力與產品項目
- 液冷控溫 SoC 與 AI 大算力晶片測試系統
- 數位類比混合訊號 IC 測試系統
- 12 GHz 混合訊號射頻測試系統與模組
- 功率元件動靜態與多站並行測試系統
- GaN 動靜態電性測試系統
- GaN 動態導通電阻測試設備
- IGBT／SiC 動態測試設備
- 智能功率模組測試系統
- KGD 良品裸晶測試方案
- 半導體元件熱阻測試儀
- LCR 與 RG／CG 測試設備
- 二極體反向恢復測試設備
- MOSFET、IGBT 與二極體雪崩測試設備
- 分立元件高速晶圓與成品測試系統
- IGBT／SiC 功率模組動靜態測試系統
- 6／8／12 吋晶圓探針台
- 高溫重力式管對管測試分選系統
- 客製化半導體雷射打標設備