PowerTech Co., Ltd.

基本情報

会社概要

PowerTech Co., Ltd. は 1998 年 12 月に設立され、半導体組立、後工程パッケージングおよびテスト装置の研究開発、製造、販売に注力し、半導体パッケージング・テスト分野で 20 年を超える活動実績があります。 同社は実生産における多層的な要求と拡張用途に対応する IC およびディスクリートデバイス試験のトータルソリューションを開発しており、テスタ R&D チームには試験経験を持つ技術者、中国の航空宇宙科学技術産業の専門家、修士号を持つシニアエンジニアが含まれます。 主な事業には半導体自動テストシステム、レーザーマーキング装置、その他のメカトロニクス装置があり、より広い製品群として Handler、Prober、関連テストモジュールも提供しています。 装置は電気自動車、太陽光発電、風力発電、エネルギー貯蔵などの新エネルギー用途、およびデータセンター向け電源管理チップとモジュールの機能・性能試験に使用されます。 PowerTech Co., Ltd. は国家ハイテク企業、広東省戦略的新興産業育成企業、国家級の専精特新『小巨人』企業として認定され、Guangdong Semiconductor Integrated Circuit Packaging and Testing Equipment Engineering Technology Research and Development Center を運営しています。 同社は R&D 人員が 200 名を超えるとし、半導体テスト技術について自主開発、生産、製造能力を維持しています。 自動 IC テストシステムは ON Semiconductor、Amkor、JCET、Tongfu Microelectronics、Huatian Technology などで認められ採用されており、米国、日本、欧州の多国籍半導体企業向けに半導体 IC 製造装置を輸出しているとしています。 2022 年 9 月 22 日に Shenzhen Stock Exchange の ChiNext 市場へ株式コード 301369 で上場し、調達資金を半導体パッケージ・テスト装置の R&D と生産能力拡張、より高出力の第三世代半導体試験、集積回路試験技術に投入しました。 開発沿革には、2001 年の初代レーザーマーキング機、2003 年の QT-4000 series ディスクリートデバイステスタ、2006 年のデュアルヘッドレーザーマーキング機、2007 年の広東省ハイテク企業認定、2008 年の国家ハイテク企業認定があります。 2009 年には広東省ソフトウェア企業認定を受け、佛山に半導体パッケージ・テスト装置の工程技術 R&D センターを設立し、ISO9001:2008 品質システム認証を取得して QT-6000 series 高速ディスクリートデバイステストシステムを投入しました。 その後の節目には、2010 年のメカトロニクス視覚認識システム、2012 年の初の自社開発レーザーと QT-8100 series mixed-signal IC test system、2013 年の RG、avalanche、thermal resistance、DC、TRR、QRR 総合テストプラットフォームと QT-8200 Direct Mount、2014 年の全自動レーザーマーキングシステムがあります。 2016 年には広東省の半導体 IC パッケージ・テスト装置工程技術研究センターと LCR テストモジュールを追加し、2017 年には 300A、3KV、TRR テストモジュール、QT-9200 very-large-scale integrated-circuit test system、QT-9100 digital IC test system を投入しました。 2018 年には QT-7200 series IC test system、QT-8100EX high-power enhanced mixed-signal IC test system、IGBT/SiC double-pulse testing、QG、TRR、RF module を開発し、その後 2019 年に RGCG module、2020 年に 2000A/6KV module、2021 年に PIM と QT-8400 series、2022 年に GaN と power-device CP/FT IPM test solutions を追加しました。 同社は 500 社を超える顧客に対応し、中国華東、西南、華南の販売・サービスセンターと、他の海外地域を支援するマレーシアの海外販売サービスセンターを運営しています。

展示製品

PowerTech Co., Ltd. は半導体後工程パッケージング・テスト装置を開発販売しており、QT-3000、QT-4000、QT-6000、QT-8400 series power-device test systems、QT-8000 series digital/analog mixed-signal IC test systems、QT-9000 VLSI test systems、RF test-module options を含みます。 自動化装置には全自動マーキングシステムと高温重力式 tube-to-tube test and sorting systems もあり、QFN、SOP、SOT、TO series の lead-frame package に対するマーキングと電気特性試験を行い、モジュール構成と自動パッケージ切替で前工程・後工程の生産要求に対応します。 半導体レーザーマーキングでは、100 種を超える産業用レーザーマーキング機モデルを開発し、カスタム装置方式を採用して、国内外の半導体パッケージ・テスト生産ラインに装置を供給しています。 Prober 製品には 6-inch、8-inch wafer 向け QP2000 series と、8-inch、12-inch wafer 向け QP3000 series があり、半導体ウェハ試験に対応します。 PowerTech Co., Ltd. は Prober と自社開発の高性能 power tester を組み合わせ、一体型 power-device wafer-testing solution として各種 power-semiconductor 製造環境に対応し、テスト工程最適化のためのカスタムサービスも提供します。 また、アフターサービスを提供し、中国国内とマレーシアのサービスネットワークを通じて顧客要求に応じた半導体テスト・マーキングソリューションを継続的に開発しています。 現在の半導体テスト製品群には IC test systems QT-9800EXA、QT-8100 Cable-Mount、QT-8200 Pro Hard-Docking、QT-8600RF、power-module and device systems QT-8400D、QT-8400GaN、QT-8409PIM、QT-8409IPM、QT-6000 high-speed discrete-device system、さらに QT-4100、KGD、QT-DRM101000、QT-3108、QT-3101、QT-3102、QT-3107、QT-3105TRR が含まれます。 QT-9800EXA SOC test system は GPU、DPU、NPU、AI SoC などの大規模演算チップ、高性能プロセッサ、FPGA/ASIC に対して DC parameter、高速 AC signal、AI core computation、logic function、memory interface の試験を行い、液冷対応の熱特性と放熱性能検証にも対応し、chip R&D、wafer test、finished-device mass production までをカバーして automotive と industrial 要求に適合します。 QT-9800EXA は高負荷試験向けに液冷温度制御を用い、multi-channel parallel operation に対応し、異なるデバイス構成と主要プラットフォームへ適応するための共通 DUT interface と software environment を備えます。 デジタルリソースは MAX 6912CH、800Mbps、vector depth 512M/pin で、LHead は MAX 27 slots を備えます。 DPU256 digital board は 256 channels、-1.5 to 6.5V levels、±12mA load current、±175ps edge accuracy、20ps resolution を提供し、DPS256 power board は 256 channels、-3 to 10V／2.0A V/I、±2A current range、gang mode で 1 board あたり最大 512A を提供します。 QT-9800EXA の resource table には DPU256 が -1.5 to 6.5V／±60mA、256 channels、maximum rate 800M、DPS256 が -3 to 10V／2.0A V/I、256 channels、AVI32 が -40V to +80V／±200mA、32 channels と AWG／Digitizer として記載され、development environment は standard Pattern file format、DUT interface は mainstream Load Board に対応します。 QT-8400 platform は test host と選択可能な Test Kit で構成され、Power Device Test Kit は MOSFET/SiC、diode、transistor の CP test、GaN Test Kit は gallium-nitride test requirements に対応します。 キャビネットには立位 105cm、座位 75cm の推奨キーボード高さが設定され、design company、laboratory、packaging-and-test plant など異なる環境を想定した ergonomic guidance design を備えます。 QT-8400 は 2、4、8、16 Site parallel testing に対応し、20A/100A、1KV/2KV multi-site configurations を提供し、高電圧・DC 拡張は 8KV、2000A まで、さらに avalanche、RGCG、dynamic RDson test module を拡張して third-generation-semiconductor testing に対応します。 QT-8400 GaN は GaN の dynamic and static electrical-parameter testing 専用で、QT-8400 D は MOSFET/SiC、diode、transistor、IGBT の CP testing を対象とし、floating V/I source range は GaN configuration で 1KV/2KV、20A/100A、power-device configuration で 1KV/2KV/3KV、20A/100A/200A です。 GaN Test Kit と Power Device Test Kit は nA-level と mΩ-level measurement 用の precision measurement circuit を備え、host は pluggable board architecture、four-quadrant V/I source、AWG、oscilloscope resources で I-V などの scanning test に対応し、QT-8400 PTS OS は test development、production、debugging、calibration workflow 向けに最適化されています。 QT-4100 power-device test system は SiC、Si MOSFET、IGBT、diode、transistor、thyristor、solid-state discharge tube、three-terminal regulator、optocoupler の電気特性試験に用い、DC、EAS、RGCG、thermal resistance、SW switching、short-circuit、TRR、QG の dynamic/static test と multi-station data merging に対応します。 QT-4100 には one-button calibration、lot-start self-check、0.2mR までの Low RDON measurement、voltage/current limiting、form-based process setup、EAS、LCR、thermal resistance、SW、TRR、QG expansion、PAT capability、SECS/GEM standard interface があります。 仕様は DC 2kV 200A から 8kV 2kA への拡張、AC 1500V 600A、short-circuit 3000A、stray inductance Ls<30nH、protection under 300ns を含み、complete SiC MOS/IGBT parameter-test flow と 100% online QA に対応します。 QT-8600RF mixed-signal RF test system は RF12G test module を用い、high-power output、harmonic、switching-time、insertion-loss、isolation、S11、Ron、Coff、same-port loop、IP3、spurious、modulation/demodulation、MIPI、P0.1dB、P1dB test に対応します。 QT-8600RF は 12GHz RF measurement、100MHz 以下の digital MIPI test、DC・digital・RF を統合した vector/scalar test、8.5GHz・37dBm の power capability、2-station RF parallel と multi-station combined test、自社 algorithm communication による最大 12K per hour の throughput を備え、RF switch、LNA、TUNER、filter、PA/FEM、Wifi6、wifi6e、wifi7 device に対応します。 QT-3101 UIL avalanche tester は MOSFET、IGBT、diode の avalanche-parameter testing 向けで、dual DIE、rapid charging、failure-waveform storage、clamping function に対応します。 QT-3101 は VDD ON／VDD OFF energy-test mode、QT-4100B との PC 共用による program/data management、single-pulse、multi-pulse、dual-MOSFET test、IDMAX と Energy の real-time monitoring、oscilloscope、RPF、wafer-test protection、measured energy display、PVDROOP、PVCOLLAPSE に対応し、QT-UILM module は ID output 400A、BVDSS measurement 5KV まで拡張します。 QT-6000 high-speed discrete-device test system は中小電力の diode、transistor、MOS 向けで、internal capacitance DC+CAP、EAS、Vc、pA module の選択と external LCR、Scanbox expansion が可能で、wafer、FT mass production、laboratory testing に使用されます。 QT-6000 は four-quadrant circuitry、floating power supply、symmetrical structure を採用し、handler operation above UPH56K、test throughput above UPH40K、one-to-two 100% FT+QA parallel test、CAP+DC と DC+UIS の same-station test、LCR capacitance 100fF、optional 1200V/600V と 30A/10A/3A range に対応します。 QT-8100 Cable-Mount digital/analog mixed-signal IC test system は conventional DC/AC parameter test と mixed-signal・analog IC functional test に対応し、power-management device、digital-consumer device、motor driver、audio amplifier、operational amplifier を対象とします。 QT-8100 は floating source、25.6MHz digital frequency、64M vector depth、18 bit high-precision sampling、600+ mixed-signal test channels、multiple 1000V/20A high-voltage/high-current channels、ns-level multi-channel timing measurement、RF-module expansion を備えます。 QT-8409PIM high-power dynamic/static integrated test system は IGBT、SiC power module 向けで、4 DC/AC stations と SW、TRR、ISC、QG、RBSOA test function を備え、mass production と manual operation に対応します。 QT-8409PIM の仕様は stray inductance LS<30nH、AC 4000A／2000V と ISC 16000、DC 3000A／2KV／3KV、short-circuit protection under 1uS で、PIM IGBT module、SiC module、DBC、three-level product を試験対象とします。

対応領域・製品

• 液冷温度制御式SoC・高演算性能AIチップテストシステム
• デジタル・アナログ混合信号ICテストシステム
• 12 GHz混合信号RFテストシステム・モジュール
• パワーデバイスの静特性・動特性・マルチサイト並列テストシステム
• GaN静特性・動特性電気テストシステム
• GaN動的オン抵抗テスト装置
• IGBT／SiC動特性テスト装置
• インテリジェントパワーモジュールテストシステム
• 良品ベアダイ（KGD）テストソリューション
• 半導体デバイス用熱抵抗テスター
• LCR・RG／CGテスト装置
• ダイオード逆回復特性テスト装置
• MOSFET・IGBT・ダイオード用アバランシェテスト装置
• ディスクリートデバイス用高速ウェーハ・最終テストシステム
• IGBT／SiCパワーモジュール静特性・動特性テストシステム
• 6／8／12インチウェーハプローバー
• 高温重力式チューブ・ツー・チューブテストハンドラー
• カスタム半導体レーザーマーキング装置

関連する製品トピック

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