기본 정보
| 부스 | K2876 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.nhkspg.co.jp/eng/products/microcontactor/index.html |
회사 소개
NHK SPRING CO., LTD.는 1939년에 설립된 세계적인 스프링 제조업체 중 하나로, 초정밀 기술을 첨단 장비의 핵심 부품에 적용하며 세계에서 가장 작은 코일 스프링을 사용하는 마이크로 프로빙 컨택터도 포함합니다. NHK SPRING은 반도체 산업용 제품 개발에도 참여하며 반도체 테스트와 번인 응용을 위한 정밀 Pogo pin을 개발했습니다. Pogo pin은 0. 120 mm pitch부터 1. 00 mm pitch까지 지원하고 사양 기준 10GHz 초과 고주파 성능과 안정적인 접촉 저항을 제공하며, NHK SPRING 시험 방법에 따라 상온에서 기계적으로 1 million touchdowns를 초과하는 내구성을 갖습니다. NHK SPRING cleaning sheets는 간편한 유지보수를 지원하며 오프라인과 온라인 세정이 모두 가능합니다. 반도체 테스트 제품에는 Fine Pitch RF Probe Card, High Pin Count High Speed Probe Card, WCSP Probe Card가 포함됩니다. 또한 Logic Test and RF Test Socket for Manual and Handler Test, FSP High Reliability, Low Resistance Probe, High Frequency RF Test Contactors를 제공합니다. 추가 솔루션에는 Kelvin Test Socket Solution, Package on Package Memory Socket Solution, Thermal Control Socket, Snap On Socket Strip Kelvin Test Socket, High Current Solution, HDD High Precision and High Reliability Microtechnology가 포함됩니다.
전시 제품
NHK SPRING은 자체 개발한 새로운 접촉 프로브 구조인 Microcontactor를 제조·판매하며 반도체 웨이퍼와 반도체 패키지의 전기적 특성 시험에 사용합니다. Microcontactor 제품은 사내에서 생산하며 고객 요구에 맞춰 제품 설계를 맞춤화할 수 있습니다. 반도체 테스트는 반도체 제품에 전기를 인가하고 검사 제품별 테스트 프로그램에 따라 입력 신호를 생성한 뒤 예상 출력 신호와 비교하는 과정이며, 웨이퍼에 회로가 형성된 뒤의 전공정과 제품 조립 뒤의 후공정에서 수행됩니다. 반도체 테스트 지그는 반도체 제품과 테스트 장비를 연결하며 NHK Spring은 전 세계 반도체 제품 제조사와 관련 기업에 전공정용 probe card 또는 probe head와 후공정용 test socket을 제공합니다. 접촉 프로브는 반도체 제품 테스트에 쓰이는 검사 단자로서 테스트 장비가 출력한 전기 신호를 반도체 제품에 전달합니다. Test socket은 반도체 제품 조립 뒤 최종 검사에 사용하는 지그로 반도체 제조 후공정에 적용됩니다. 검사 범위에는 pitch 200 µm 이하의 협피치 유닛과 고주파 측정이 포함됩니다. SCP Series는 반도체 검사 장비용 Microcontactor 접촉 프로브로 독자적인 코일링 기술을 통해 저저항을 구현합니다. HCP Series는 반도체 검사 장비용 접촉 프로브로 전기적 안정성 향상에 기여합니다. NIC Series는 반도체 검사 장비용 접촉 프로브로 고주파 특성을 갖습니다. AZT Series는 반도체 검사 장비용 접촉 프로브로 접촉 위치 정밀도 향상에 중점을 둡니다. Microcontactor 프로브 팁은 반도체 제품에 맞춰 다양한 형상으로 가공할 수 있으며 NHK SPRING은 자체 공장에서 팁 형상 설계부터 가공까지 전 과정을 수행하고 고객 요구에 맞춘 특수 형상도 제안할 수 있습니다.
역량 및 제품
- 반도체 테스트 및 번인용 Pogo Pin 프로브
- 미세 피치 RF 프로브 카드
- 고핀수 고속 프로브 카드
- WCSP 프로브 카드
- 로직 및 RF 테스트 소켓
- 고주파 RF 테스트 컨택터
- Kelvin 테스트 소켓(스트립형 포함)
- PoP 메모리 테스트 소켓
- 온도 제어 테스트 소켓
- 스냅온 테스트 소켓
- 고전류 테스트 솔루션
- 접촉 프로브 팁 형상 설계 및 가공
- 프로브 세정 시트