日発電子股份有限公司

基本情報

会社概要

NHK SPRING CO., LTD.は1939年に設立され、世界有数のばねメーカーの一つとして、超精密技術を先端装置の重要部品に応用しており、世界最小のコイルばねを使用するマイクロプロービングコンタクタも含まれます。NHK SPRINGは半導体産業向け製品の開発にも取り組み、半導体テストおよびバーンイン用途向けの精密Pogo pinを開発しました。Pogo pinは0. 120 mm pitchから1. 00 mm pitchまでをカバーし、仕様に基づき10GHz超の高周波対応、安定した接触抵抗、さらにNHK SPRINGの試験方法により常温で機械的に1 million touchdownsを超える耐久性を備えます。NHK SPRING cleaning sheetsによりメンテナンスを容易にし、オフラインとオンラインの両方で清掃できます。半導体テスト向け製品にはFine Pitch RF Probe Card、High Pin Count High Speed Probe Card、WCSP Probe Cardがあります。さらにLogic Test and RF Test Socket for Manual and Handler Test、FSP High Reliability, Low Resistance Probe、High Frequency RF Test Contactorsを展開しています。その他にKelvin Test Socket Solution、Package on Package Memory Socket Solution、Thermal Control Socket、Snap On Socket Strip Kelvin Test Socket、High Current Solution、HDD High Precision and High Reliability Microtechnologyがあります。

展示製品

NHK SPRINGは、独自に開発した新しいコンタクトプローブ構造であるMicrocontactorを製造・販売しており、半導体ウェーハおよび半導体パッケージの電気特性試験に使用されます。Microcontactorは社内で生産し、顧客ニーズに合わせて製品設計をカスタマイズできます。半導体テストでは半導体製品に電気を加え、検査対象ごとのテストプログラムに基づいて入力信号を生成し、期待される出力信号と比較します。検査はウェーハ上に回路を形成した後の前工程と、半導体製品組立後の後工程で実施されます。半導体テスト治具は半導体製品とテスト装置を接続し、NHK Springは世界の半導体製品メーカーおよび関連企業に、前工程向けのprobe cardまたはprobe headと、後工程向けのtest socketを供給しています。コンタクトプローブは半導体製品試験に用いる検査端子で、テスト装置から出力された電気信号を半導体製品へ伝えます。Test socketは半導体製品組立後の最終検査に使用する治具で、半導体製造の後工程に用いられます。検査対象にはpitch 200 µm以下の狭ピッチユニットと高周波測定があります。SCP Seriesは半導体検査装置用のMicrocontactorで、独自のコイリング技術により低抵抗を実現します。HCP Seriesは半導体検査装置用コンタクトプローブで、電気的安定性の向上に役立ちます。NIC Seriesは半導体検査装置用コンタクトプローブで、高周波特性を備えます。AZT Seriesは半導体検査装置用コンタクトプローブで、接触位置精度の向上を図ります。Microcontactorの先端は半導体製品に合わせてさまざまな形状に加工でき、先端形状の設計から加工までを自社工場で行い、顧客要件に合わせた特殊形状も提案できます。

対応領域・製品

• 半導体テスト・バーンイン用 Pogo Pin プローブ
• 狭ピッチ RF プローブカード
• 多ピン高速プローブカード
• WCSP プローブカード
• ロジック・RF テストソケット
• 高周波 RF テストコンタクター
• Kelvin テストソケット（ストリップ型を含む）
• PoP メモリテストソケット
• 温度制御テストソケット
• スナップオン式テストソケット
• 大電流試験ソリューション
• コンタクトプローブ先端形状の設計・加工
• プローブクリーニングシート

関連する製品トピック

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