基本資料
| 攤位 | K2876 |
| 國別 | TW |
| 網站 | www.nhkspg.co.jp/eng/products/microcontactor/index.html |
公司簡介
NHK SPRING CO., LTD. 成立於1939年，是全球領先的彈簧製造商之一，並以超精密技術製造先進設備的關鍵零組件，包括採用全球最小線圈彈簧的微探針接觸件。NHK SPRING 亦參與半導體產業產品開發，並開發用於半導體測試與燒機應用的精密 Pogo pin。Pogo pin 的 pitch 範圍為 0. 120 mm 至 1. 00 mm，依規格具備 10GHz 以上高頻能力，提供穩定接觸電阻，並依 NHK SPRING 測試方法在常溫下具有超過 1 million touchdowns 的機械耐用度。NHK SPRING cleaning sheets 可支援簡易維護，並可進行離線與線上清潔。半導體測試產品包括 Fine Pitch RF Probe Card、High Pin Count High Speed Probe Card 與 WCSP Probe Card。產品亦包括 Logic Test and RF Test Socket for Manual and Handler Test、FSP High Reliability, Low Resistance Probe 與 High Frequency RF Test Contactors。其他方案包括 Kelvin Test Socket Solution、Package on Package Memory Socket Solution、Thermal Control Socket、Snap On Socket Strip Kelvin Test Socket、High Current Solution，以及 HDD High Precision and High Reliability Microtechnology。
展出產品
NHK SPRING 製造並銷售自行開發的新型接觸探針結構 Microcontactor，用於測試半導體晶圓與半導體封裝的電氣特性。Microcontactor 產品在自有工廠生產，並可依客戶需求客製產品設計。半導體測試會對半導體產品施加電力，依受測產品的測試程式產生輸入訊號，再與預期輸出訊號比較；測試涵蓋晶圓電路形成後的前段製程，以及產品組裝後的後段製程。半導體測試治具負責連接半導體產品與測試設備，NHK Spring 向全球半導體產品製造商與相關企業提供前段製程使用的 probe cards 或 probe heads，以及後段製程使用的 test sockets。接觸探針是半導體產品測試中的檢查端子，將測試設備輸出的電氣訊號傳送到半導體產品。Test sockets 則是在半導體產品組裝後進行最終檢查的治具，屬於半導體製造後段製程。檢查範圍包含 pitch 200 µm 以下的窄 pitch 單元與高頻量測。SCP Series 是半導體檢查設備用的 Microcontactor 接觸探針，透過 NHK SPRING 獨有的繞線技術實現低電阻。HCP Series 用於半導體檢查設備，可提升電氣穩定性。NIC Series 用於半導體檢查設備，具備高頻特性。AZT Series 用於半導體檢查設備，著重提升接觸位置精度。Microcontactor 探針尖端可依半導體產品加工為各種形狀，NHK SPRING 可在自有工廠完成從尖端形狀設計到加工的全流程，並可依客戶需求提出特殊形狀。
能力與產品項目
- 半導體測試與燒機 Pogo Pin 探針
- 細間距 RF 探針卡
- 高針數高速探針卡
- WCSP 探針卡
- 邏輯與 RF 測試插座
- 高頻 RF 測試接觸器
- Kelvin 測試插座（含條帶式）
- PoP 記憶體測試插座
- 溫控測試插座
- 卡扣式測試插座
- 高電流測試方案
- 接觸探針尖端形狀設計加工
- 探針清潔片