基本情報
| ブース | N1187 |
| 国 | KR |
| 製品カテゴリ | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection |
| ウェブサイト | www.nextinsol.com |
会社概要
NEXTINは、半導体の回路製造プロセス（フロントエンドライン）で発生する欠陥やパーティクルを検出するウェハー検査システムを製造・販売する半導体装置技術企業です。さらに、NEXTINは静電気を除去してEUVプロセスの歩留まりを高める静電気除去システムも製造しています。NEXTINは独自の2Dイメージング技術を基に、1*nm半導体デバイス製造プロセス向けの世界初のウェハー検査システムと、関連する製造プロセスに適した3Dウェハー検査装置を開発しました。NEXTINは、Hynix、CXMT、YMTCなどの最先端メモリデバイスメーカーや、Samsung Electronics、SK Key Foundry、SMICなどのグローバルファウンドリ企業に装置を供給し、お客様とともに日々成長を続けています。
対応領域・製品
- 1*nm半導体デバイス製造プロセス向けウェハ検査システム
- 3Dウェハ検査装置
- EUV歩留まり向上向け静電気除去システム
- ウェハ検査向け2Dイメージング技術
- 前工程の欠陥およびパーティクル検出向けウェハ検査システム
- 欠陥、パーティクル、バンプ、汚染の検査