基本情報
| ブース | Q6230 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Acoustic Spectroscopy; Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA); Ultrasonic; Acoustical Mi · Line Width; Critical Dimension (CD) Measurement · Microscopes: Optical Microscopes · Microscopes: Scanning Electron Microscope (SEM); Focused Ion Beam (FIB), Transmission Electron Micr · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · X-ray; XRF; 3-D X-Ray; LEXES Systems · Deep RIE etching; Dry Etching · Equipment, Nanotechnology Tools · Other |
| ウェブサイト | www.msscorps.com |
会社概要
ナノ構造解析における専門的な材料分析サービスを提供します。電気的および物理的な故障解析サービスのトータルソリューションを提供します。試作／量産向けのターンキーサービス、省エネルギーおよび放熱材料の開発・販売における協業。サービス項目：材料分析：SEM／FIB／TEM IC回路修復／レーザーデキャップ ドーパントおよび不純物分析／元素分析 故障箇所の特定 統合サービス
展示製品
汎銓は、台湾、日本、米国のシリコンフォトニクス関連特許を活用し、「サービス＋設備＋ライセンス」の三軌道で事業を進める方針を示しています。シリコンフォトニクス光損失検出設備の特許に関して、同社は「IR OM＋IR画像センサー」の装置組合せ特許を技術的中核と説明しています。IR画像センサーでシリコンフォトニクスの光信号を受信する技術をめぐり、関連する事実と法的争点は司法手続きにより判断されます。12工場エリア、オングストローム世代プロセス材料分析、AI顧客専区、シリコンフォトニクス、グローバル展開の4大成長ドライバーにより、2026年の業績成長が期待されています。
対応領域・製品
- IC 回路修復および Laser Decap
- SEM、FIB、TEM 材料分析
- ドーパントおよび不純物分析
- ナノ構造材料分析サービス
- 元素分析
- 故障箇所特定統合サービス
- 電気的および物理的故障解析サービス