基本資料
| 攤位 | Q6230 |
| 國別 | TW |
| 網站 | expo.semi.org/taiwan2026/Public/eBooth.aspx?BoothID=654215 |
公司簡介
汎銓科技股份有限公司提供專業材料分析服務，核心聚焦奈米結構分析，並將材料分析列為公司的主要服務內容之一。公司亦提供電性與物性故障分析的整體解決方案，將兩類故障分析工作納入其服務範圍。針對 Pilot 與 Production 階段，汎銓科技股份有限公司列有 turn-key service，可支援客戶在這些階段所需的整合服務。公司業務範圍還包括節能與散熱材料的合作開發及銷售。整體而言，奈米結構分析、電性與物性故障分析、Pilot／Production 的 turn-key service，以及材料合作開發與銷售，共同構成公司所描述的服務架構。在這套架構中，公司將分析服務與 Pilot／Production 的 turn-key 活動分開列示，同時把節能與散熱材料的合作開發及銷售列為另一項業務功能。汎銓科技股份有限公司因此形成從材料與故障分析、具名電路層級服務，到 Pilot／Production 支援，以及節能與散熱功能材料合作的完整服務範圍。公司明確將材料分析活動描述為專業的奈米結構分析，而 SEM、FIB 與 TEM 則出現在另一個材料分析服務項目中，作為具名方法。Electrical and Physical failure analysis 被共同呈現為 total solution；IC Circuit Repair、Laser Decap、Dopant & Impurity Analysis、Elemental Analysis、Failure-site Localization 與 Integrated Service 則分別列為具名服務項目。
展出產品
材料分析服務包括 SEM、FIB 與 TEM，三者被共同列在材料分析項目下，作為公司明確提供的具名分析方法。IC Circuit Repair 被列為獨立服務項目，將具名的電路層級修復工作加入材料分析及電性、物性故障分析活動之中。Laser Decap 也與 IC Circuit Repair 並列，作為分析、修復與故障調查服務組合中的另一項獨立服務。Dopant & Impurity Analysis 用於摻雜物與雜質相關分析；Elemental Analysis 則另列為元素分析服務。Failure-site Localization 被納入服務清單，用於故障調查中的故障位置定位。公司同時列有 Integrated Service，與前述材料分析、電路修復、Laser Decap、摻雜物與雜質分析、元素分析及故障位置定位等服務共同構成供應範圍。
能力與產品項目
- 奈米結構材料分析
- SEM／FIB／TEM 材料分析
- 電性與物性失效分析
- IC 電路修復
- 雷射去封裝
- 摻雜與雜質分析
- 元素分析
- 故障位置定位整合服務