基本情報
| ブース | I2129 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · X-ray; XRF; 3-D X-Ray; LEXES Systems · Analytical Instrumentation Mixtures · Materials, Nanotechnology · Manufacturing Process Support and Development · Test Services or Consulting · Wafer Fab Operations and Design · Wafer Handling · Other |
| ウェブサイト | www.malvernpanalytical.com/tw |
会社概要
Malvern Panalytical は、構造・元素・表面のキャラクタリゼーションにわたる世界トップクラスの分析技術を、半導体開発向けに提供しています。世界中で 92,000 台を超える装置の導入実績を持つ同社のソリューションは、精密な測定、信頼できるデータ、深い応用知見を通じて、主要な半導体企業が材料を最適化し、プロセス制御を確保し、研究開発を加速できるよう支援します。統合されたポートフォリオは、より賢明な意思決定を可能にし、先進エレクトロニクスと次世代製造における持続可能な進歩を支えます。
対応領域・製品
- 半導体プロセス制御向け測定データ
- 半導体向け元素キャラクタリゼーション技術
- 半導体向け構造キャラクタリゼーション技術
- 半導体向け表面キャラクタリゼーション技術
- 半導体材料の精密測定