基本資料
| 攤位 | I2129 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · X-ray; XRF; 3-D X-Ray; LEXES Systems · Analytical Instrumentation Mixtures · Materials, Nanotechnology · Manufacturing Process Support and Development · Test Services or Consulting · Wafer Fab Operations and Design · Wafer Handling · Other |
| 網站 | www.malvernpanalytical.com/tw |
公司簡介
Malvern Panalytical 提供全球領先的分析技術，涵蓋結構、元素與表面特性分析，用於半導體開發。公司在全球安裝逾 92,000 台儀器，透過精確的量測、可信賴的數據與深厚的應用專業，協助領先的半導體公司優化材料、確保製程控制並加速研發。其整合的產品組合支援更明智的決策，並支持先進電子與下一代製造的永續進展。
能力與產品項目
- 半導體材料精密量測
- 半導體用元素表徵技術
- 半導體用結構表徵技術
- 半導體用表面表徵技術
- 半導體製程控制量測資料