기본 정보
| 부스 | K2037 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.keysight.com |
회사 소개
Keysight Technologies Taiwan Ltd.는 차세대 기술을 개발하고 배포하는 엔지니어와 기업을 위해 전자 설계 및 테스트 솔루션을 제공합니다. Keysight는 S&P 500 기업으로서 전체 제품 수명주기에서 엔지니어가 더 빠르고 더 낮은 위험으로 개발하고 배포하도록 설계, 에뮬레이션 및 테스트 솔루션을 제공합니다. Keysight의 기원은 1939년 Hewlett-Packard 설립까지 거슬러 올라가며 2014년부터 Agilent Technologies에서 분사된 회사로 운영되면서 수십 년의 측정 경험과 지속적인 연구개발을 결합하고 있습니다. 본사는 캘리포니아 Santa Rosa에 있으며 100개가 넘는 국가에서 30,000개 이상의 고객사를 지원합니다. 하드웨어와 소프트웨어 도구는 초기 설계와 검증부터 제조 및 배포까지 전체 제품 개발 주기를 포괄합니다. 반도체 개발에서 Keysight는 웨이퍼 레벨 및 패키지 레벨 테스트, 고속 디지털 검증, 신호 무결성 분석을 지원합니다. 이 기술은 첨단 IC, SoC, chiplet 및 고대역폭 메모리의 전원 무결성, 열 성능, 전자기 적합성을 평가하는 데 사용됩니다. Electrical Structural Test 도구는 와이어 본딩 및 첨단 패키징 구조의 인터커넥트 신뢰성을 평가하며 고속 디지털 및 광학 플랫폼은 차세대 데이터센터와 AI 인프라 개발을 지원합니다. 지원되는 인터커넥트 개발에는 112G, 224G, 신흥 448G와 함께 PCIe 6.0/7.0, USB4, CXL 및 PAM4 SerDes 인터페이스가 포함됩니다. Keysight는 업계 선도 기업과의 긴밀한 협업과 지속적인 R&D 투자를 측정 과학과 연결성, 컴퓨팅, 지능형 시스템의 발전을 추진하는 방식의 일부로 설명합니다.
전시 제품
반도체 워크플로는 IC 설계, 검증, 웨이퍼 테스트 및 포토닉스를 포괄하며 설계, 기능 테스트, 적합성 테스트, 시스템 검증, 제조 및 운영 단계에 사용 사례를 연결합니다. 반도체 계측 제품군에는 파라미터 분석기, 전류-전압 분석기, 파라메트릭 테스트 솔루션, Electrical Structural Tester, 전력 소자 분석기/커브 트레이서, femto/pico 전류계, 일렉트로미터, 저누설 스위치 매트릭스가 포함됩니다. 파라미터 분석기는 정밀 I-V, C-V, 펄스 측정 및 신뢰성 테스트를 모듈형 시스템에 통합해 첨단 소재부터 고전력 부품까지 다양한 소자의 특성 평가를 지원합니다. 전류-전압 분석기는 femtoamp 전류에서 고전압 스윕까지 다루는 저잡음 소싱 및 측정 기능을 제공하며 다채널 구성으로 소자 특성 평가, 소재 연구, 신뢰성 테스트 및 공정 최적화를 지원합니다. 파라메트릭 테스트 솔루션은 측정 장비와 자동화를 결합해 초기 개발부터 대량 생산까지 I-V, C-V 및 신뢰성 테스트를 제공하고 웨이퍼 프로버와 생산 환경에 통합할 수 있습니다. Electrical Structural Tester는 몰딩 후 IC 패키지용으로 nanoVTEP 정전용량 센싱과 Part Average Testing을 이용해 핀 사이의 전기적 결합을 측정하고 기능 전원을 켜지 않은 상태에서 wire bond 구조 결함을 식별합니다. EST 아키텍처는 확장 가능한 멀티사이트 및 병렬 테스트를 지원해 고처리량 반도체 조립 및 테스트 흐름에서 높은 검사 커버리지, test escape 감소, 수율 향상 및 장기 신뢰성을 목표로 합니다. 전력 소자 분석기와 커브 트레이서는 전력 트랜지스터, 다이오드, IGBT, SiC 및 GaN 소자를 포함한 고전압 고전류 반도체를 평가하며 확장 가능한 전압 및 전류 범위와 통합 안전 기능을 제공합니다. femto/pico 전류계와 일렉트로미터는 극저전류, 고저항 및 저전압을 0.01 fA까지 측정하며 누설 전류 테스트, 절연 저항 및 초저전류 특성 평가에 사용됩니다. 저누설 스위치 매트릭스는 femtoamp 수준의 자동 반도체 테스트에서 높은 절연을 유지하고 측정 정확도를 저하시키지 않으면서 여러 소자나 테스트 노드를 전환해 파라메트릭 테스트, 신뢰성 연구 및 웨이퍼 레벨 특성 평가를 지원합니다. PD1500A 더블 펄스 테스터는 더 높은 주파수, 전압 및 온도에서 동작하는 와이드 밴드갭 전력 반도체용으로 SiC와 GaN 소자의 특성 평가 및 모델링 과제를 다룹니다. 반도체 테스트 시스템의 부속 및 통합 옵션에는 저누설 케이블, triaxial 커넥터, 실드 스위치 익스텐더, 웨이퍼 프로브 인터페이스 및 응용별 소프트웨어가 포함됩니다. Keysight는 I-V, C-V, RF 및 신뢰성 측정을 함께 사용해 반도체를 평가하며 임계 전압, 누설 전류, on/off ratio, 도핑 프로파일, 산화막 두께, 접합 거동, 이득, noise figure, S-parameters, 선형성, 효율, 스위칭 속도, 열 성능, 수명, 항복 전압, electromigration 및 스트레스 내성을 다룹니다. 반도체 워크플로에는 회로 설계와 EDA 시뮬레이션 및 검증, 웨이퍼 제조, I-V와 C-V를 이용한 웨이퍼 전기 probing, 패키징과 조립, 최종 기능/파라메트릭/RF 테스트, stress, lifetime 및 thermal 신뢰성 테스트가 포함됩니다. 지원 소자에는 MOSFET, IGBT, 다이오드와 정류기, 아날로그/디지털/mixed-signal IC, SoC, 온도/압력/광학 센서, 고전압 고주파 고온 응용의 SiC와 GaN 와이드 밴드갭 소자가 포함됩니다. 저전력 민감 소자에서는 저누설 및 고절연 측정 경로를 사용해 센서, 와이드 밴드갭 소재, 장기 신뢰성 및 stress 테스트에서 기생 전류, 크로스토크, 잡음이 실제 소자 거동을 가리는 것을 줄입니다. 펄스 측정은 고전력 또는 열에 민감한 소자에 사용되며 Keysight가 설명하는 신뢰성 방법에는 HTOL, 열 사이클링, BTI, 과도 응답 분석, TDDB 및 응용에 따른 RF 특성 평가가 포함됩니다. 자동화는 프로브 스테이션, 로봇 핸들러 및 소프트웨어 기반 테스트 시퀀싱을 결합해 처리량과 측정 반복성을 높이고 작업자 오류를 줄이며 무인 웨이퍼 probing, 패키지 소자 배치 테스트, 연속 stress 모니터링 및 데이터 분석을 지원합니다. 모듈형 테스트 플랫폼은 소재, 소자 구조, 표준, 데이터 형식 및 자동화 프레임워크가 변함에 따라 스위칭 용량을 늘리고 측정 모듈을 추가하며 새로운 테스트 방법을 통합할 수 있습니다. SiC와 GaN이 전기차 및 재생에너지 시스템에서 확대되면 더 높은 전압, 더 빠른 스위칭 및 까다로운 열 조건을 다뤄야 하며 차세대 통신 및 컴퓨팅 소자는 고속 과도 분석과 RF 테스트 요구를 추가합니다. 반도체 플랫폼은 포토닉 및 광학 테스트, 고속 AWG, 오실로스코프, BERT, 디지털 프로토콜 분석기, 신호 및 스펙트럼 분석기, RF vector transceiver, 벡터 네트워크 분석기 및 RF power meter와도 연결됩니다. AI 데이터센터 검증에서 Keysight는 transceiver부터 interconnect까지의 엔드투엔드 1.6T 네트워크 신뢰성과 고속 AWG를 이용한 200 Gbaud 초과 다중 레벨 디지털 및 광학 표준 파형 생성을 강조합니다. 디지털 검증 제품에는 최대 33 GHz 대역폭의 멀티코어 12-bit 오실로스코프가 포함되며 RF 워크플로에는 듀얼 채널 및 초광대역 신호 분석이 포함됩니다. 112G, 224G, 신흥 448G interconnect와 PCIe 6.0/7.0, USB4, CXL, PAM4 SerDes 지원을 결합해 이러한 측정 워크플로는 첨단 컴퓨팅 인프라의 고속 디지털 및 광학 개발을 지원합니다. Keysight는 또한 지원 서비스, 테스트 시스템이 사양대로 동작하고 지역 및 글로벌 표준을 충족하도록 하는 교정, 강사 주도 교육과 eLearning, 소프트웨어 다운로드 및 업데이트, 구성된 지원 플랜을 제공합니다.
역량 및 제품
- 웨이퍼 레벨·패키지 레벨 반도체 테스트
- 고속 디지털 검증
- 신호 무결성 분석
- 첨단 패키지 인터커넥트 전기 구조 테스트
- 112G/224G/448G 인터커넥트 검증
- PCIe 6.0/7.0·USB4·CXL·PAM4 SerDes 검증
- 반도체 파라미터 분석기
- 저잡음 전류-전압 분석
- 자동 반도체 파라메트릭 테스트
- 패키지 와이어본드 구조 결함 전기 검사
- 고전압·대전류 전력소자 특성 분석
- fA/pA 초저전류 측정
- 저누설 고절연 스위치 매트릭스
- SiC/GaN 더블 펄스 테스트
- 포토닉·광학 테스트
- 오실로스코프·BERT 고속 측정
- LCR·임피던스 분석
- 신호·스펙트럼 분석
- 벡터 네트워크 분석
- RF 전력 측정
- RF 벡터 트랜시버 측정
- 신호원 생성
- 소스 측정 유닛(SMU)
- 고속 임의파형 생성