基本情報
| ブース | K2037 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | www.keysight.com |
会社概要
Keysight Technologies Taiwan Ltd. は、次世代技術を開発・導入するエンジニアや企業向けに電子設計・テストソリューションを提供しています。 Keysight は S&P 500 企業として、製品ライフサイクル全体でエンジニアがより速く、より少ないリスクで開発・展開できるよう、設計、エミュレーション、テストのソリューションを提供しています。 Keysight の源流は 1939 年の Hewlett-Packard 創業までさかのぼり、2014 年からは Agilent Technologies から分離した企業として、数十年の測定経験と継続的な研究開発を組み合わせています。 本社はカリフォルニア州 Santa Rosa にあり、100 か国を超える地域で 30,000 社以上の顧客にサービスを提供しています。 ハードウェアとソフトウェアのツールは、初期設計・検証から製造・展開まで、製品開発サイクル全体をカバーします。 半導体開発では、ウェハレベルおよびパッケージレベルのテスト、高速デジタル検証、シグナルインテグリティ解析を支援します。 同社の技術は、先進 IC、SoC、chiplet、高帯域幅メモリのパワーインテグリティ、熱性能、電磁適合性の評価に使用されます。 Electrical Structural Test ツールはワイヤボンドおよび先進パッケージ構造の相互接続信頼性を評価し、高速デジタル・光学プラットフォームは次世代データセンターと AI インフラの開発を支援します。 対応するインターコネクト開発には 112G、224G、新興の 448G に加え、PCIe 6.0/7.0、USB4、CXL、PAM4 SerDes インターフェースが含まれます。 Keysight は、業界リーダーとの緊密な協業と継続的な R&D 投資を、測定科学および接続、コンピューティング、インテリジェントシステムの発展を進める取り組みの一部としています。
展示製品
半導体ワークフローは IC 設計、検証、ウェハテスト、フォトニクスをカバーし、設計、機能テスト、コンプライアンステスト、システム検証、製造、運用の各段階にユースケースを対応させています。 半導体向け機器には、パラメータアナライザ、電流電圧アナライザ、パラメトリックテストソリューション、Electrical Structural Tester、パワーデバイスアナライザ／カーブトレーサ、femto／pico 電流計、エレクトロメータ、低リークスイッチマトリクスがあります。 パラメータアナライザは、精密 I-V、C-V、パルス測定、信頼性試験をモジュール式システムに統合し、先進材料から高出力部品までのデバイス特性評価に対応します。 電流電圧アナライザは、femtoamp 電流から高電圧スイープまでを扱う低ノイズのソース・測定機能を提供し、マルチチャネル構成でデバイス評価、材料研究、信頼性試験、プロセス最適化を支援します。 パラメトリックテストソリューションは、測定器と自動化を組み合わせ、初期開発から量産まで I-V、C-V、信頼性試験を行い、ウェハプローバや生産環境と統合できます。 Electrical Structural Tester はモールド後の IC パッケージ向けで、nanoVTEP 容量センシングと Part Average Testing によりピン間の電気結合を測定し、機能電源を入れずに wire bond の構造欠陥を検出します。 EST アーキテクチャは拡張可能なマルチサイト・並列テストに対応し、高スループットの半導体組立・テスト工程で高カバレッジのスクリーニング、test escape 低減、歩留まり向上、長期信頼性を狙います。 パワーデバイスアナライザとカーブトレーサは、パワートランジスタ、ダイオード、IGBT、SiC、GaN などの高電圧・大電流デバイスを評価し、拡張可能な電圧・電流範囲と安全機能を備えます。 femto／pico 電流計とエレクトロメータは、極低電流、高抵抗、低電圧を最小 0.01 fA まで測定し、リーク電流試験、絶縁抵抗、超低電流評価に使用されます。 低リークスイッチマトリクスは femtoamp レベルの自動半導体テストで高い絶縁を維持し、測定精度を損なわず複数デバイスやテストノードを切り替え、パラメトリックテスト、信頼性研究、ウェハレベル評価を支援します。 PD1500A ダブルパルステスタは、高周波、高電圧、高温で動作するワイドバンドギャップパワー半導体向けで、SiC と GaN デバイスの特性評価・モデリング課題に対応します。 半導体テストシステムの付属・統合要素には、低リークケーブル、triaxial コネクタ、シールドスイッチエクステンダ、ウェハプローブインターフェース、用途別ソフトウェアがあります。 Keysight は I-V、C-V、RF、信頼性の相補的な測定で半導体を評価し、しきい値電圧、リーク電流、on/off ratio、ドーピングプロファイル、酸化膜厚、接合特性、利得、noise figure、S-parameters、線形性、効率、スイッチング速度、熱性能、寿命、破壊電圧、electromigration、ストレス耐性を扱います。 半導体ワークフローには、回路設計と EDA シミュレーション・検証、ウェハ製造、I-V・C-V によるウェハ電気 probing、パッケージ・組立、最終の機能・パラメトリック・RF テスト、stress・lifetime・thermal の信頼性試験が含まれます。 対象デバイスには MOSFET、IGBT、ダイオード、整流器、アナログ・デジタル・mixed-signal IC、SoC、温度・圧力・光学センサ、高電圧・高周波・高温用途の SiC・GaN ワイドバンドギャップデバイスがあります。 低電力で敏感なデバイスでは、低リーク・高絶縁の測定経路により、センサ、ワイドバンドギャップ材料、長期信頼性・stress 試験で迷走電流、クロストーク、ノイズが実際の挙動を隠すことを抑えます。 パルス測定は高出力または熱に敏感なデバイスで使用され、Keysight が挙げる信頼性手法には HTOL、熱サイクル、BTI、過渡応答解析、TDDB、用途に応じた RF 特性評価も含まれます。 自動化はプローブステーション、ロボットハンドラ、ソフトウェア駆動のテストシーケンスを組み合わせ、スループットと測定再現性を高め、作業者誤差を減らし、無人ウェハ probing、パッケージデバイスのバッチテスト、連続 stress 監視、データ解析を支援します。 モジュール式テストプラットフォームは、材料、デバイス構造、規格、データ形式、自動化フレームワークの変化に合わせて、スイッチ容量の拡張、測定モジュールの追加、新しいテスト手法の統合ができます。 SiC と GaN が EV や再生可能エネルギーシステムで増えるにつれ、より高い電圧、高速スイッチング、厳しい熱条件への対応が必要になり、次世代通信・コンピューティングデバイスでは高速過渡解析と RF テストの要求が高まります。 半導体プラットフォームは、フォトニクス・光テスト、高速 AWG、オシロスコープ、BERT、デジタルプロトコルアナライザ、信号・スペクトラムアナライザ、RF vector transceiver、ベクトルネットワークアナライザ、RF power meter にもつながります。 AI データセンター検証では、Keysight は transceiver から interconnect までのエンドツーエンド 1.6T ネットワーク信頼性と、高速 AWG による 200 Gbaud 超の多値デジタル・光規格波形生成を示しています。 デジタル検証では最大 33 GHz のマルチコア 12-bit オシロスコープを展開し、RF ワークフローにはデュアルチャネルおよび超広帯域の信号解析が含まれます。 112G、224G、新興 448G の interconnect と PCIe 6.0/7.0、USB4、CXL、PAM4 SerDes への対応を組み合わせ、これらの測定ワークフローは先進コンピューティングインフラの高速デジタル・光開発を支援します。 Keysight はさらに、サポートサービス、テストシステムを仕様どおりに保ち地域・国際規格に対応させる校正、講師による教育と eLearning、ソフトウェアのダウンロード・更新、構成されたサポートプランを提供します。
対応領域・製品
- ウェーハレベル・パッケージレベル半導体テスト
- 高速デジタル検証
- シグナルインテグリティ解析
- 先端パッケージ相互接続の電気構造テスト
- 112G／224G／448Gインターコネクト検証
- PCIe 6.0／7.0・USB4・CXL・PAM4 SerDes検証
- 半導体パラメータアナライザ
- 低ノイズ電流電圧解析
- 自動半導体パラメトリックテスト
- パッケージワイヤボンド構造欠陥の電気検査
- 高電圧・大電流パワーデバイス特性評価
- fA／pA超低電流測定
- 低リーク高絶縁スイッチマトリクス
- SiC／GaNダブルパルステスト
- フォトニクス・光学テスト
- オシロスコープ・BERT高速測定
- LCR・インピーダンス解析
- 信号・スペクトラム解析
- ベクトルネットワーク解析
- RFパワー測定
- RFベクトルトランシーバ測定
- 信号源生成
- ソースメジャーユニット（SMU）
- 高速任意波形生成