基本情報
| ブース | K2160 |
| 国 | JP |
| ウェブサイト | www.jeol.com |
会社概要
半導体検査用顕微鏡（TEM） 半導体検査用顕微鏡（SEM） 半導体の分野では、SiC や GaN などの新材料、先進的なトランジスタ構造、最先端の 3D パッケージング技術が、低消費電力化と高性能化を実現するために大きな注目を集めています。高い製造歩留まりとデバイスの信頼性を確保するには、精密な特性評価技術、ならびに前処理装置および分析装置の適切な選定が不可欠です。本ページでは、ますます高度化が進む各種分析装置とアプリケーションを紹介します。生体分子の内部まで観察できる分解能を持つクライオ電子顕微鏡、電子線回折・核磁気共鳴・質量分析などの分子構造解析装置は、分子生物学や創薬を支えています。 これらのページは、一般の方々に製品に関する情報を提供することを目的としたものではありませんのでご留意ください。 科学分野で利用される電子顕微鏡、核磁気共鳴分光計、質量分析計を紹介します。 半導体産業で利用される電子線描画装置、電子顕微鏡を紹介します。 薄膜形成や材料加工に利用される電子線源、プラズマ源、ならびに 3D プリンターを紹介します。 臨床化学分析装置、ラックハンドラー、ラボラトリー情報システムを紹介します。 タンパク質の 3D 構造の超高速解析——10 分でクライオ電顕（cryo-EM）用試料を作製—— 大阪大学 大学院薬学研究科 生体分子構造機能解析研究室 スマートフォンのような操作で電子顕微鏡を体験できるミュージアム
対応領域・製品
- 半導体分析装置
- 半導体前処理装置
- 半導体検査向け SEM 顕微鏡
- 半導体検査向け TEM 顕微鏡
- 半導体産業向け electron beam lithography システム
- 半導体産業向け electron microscopes
- 薄膜形成および材料加工向け electron beam sources
- 薄膜形成および材料加工向け plasma sources