基本資料
| 攤位 | K2160 |
| 國別 | JP |
| 網站 | www.jeol.com |
公司簡介
半導體檢測用顯微鏡（TEM） 半導體檢測用顯微鏡（SEM） 在半導體領域，SiC、GaN 等新材料、先進的電晶體結構，以及尖端的 3D 封裝技術，為了實現更低的功耗與更高的效能，正受到高度關注。為了確保高製造良率與元件可靠性，精密的特性分析技術，以及前處理與分析儀器的適當選擇，至關重要。本頁介紹各種分析儀器與應用，這些技術持續朝向更精密化發展。能觀察生物分子內部的低溫電子顯微鏡（Cryo electron microscope）、電子繞射（electron diffraction）等分子結構分析儀器、核磁共振（nuclear magnetic resonance）、質譜（mass spectrometry），皆支援著分子生物學與藥物開發。 敬請留意，這些頁面並非旨在向一般大眾提供有關產品的資訊。 介紹應用於科學領域的電子顯微鏡、核磁共振光譜儀、質譜儀。 介紹應用於半導體產業的電子束微影系統、電子顯微鏡。 介紹應用於薄膜形成、材料加工的電子束源、電漿源，以及 3D 列印機。 介紹臨床生化分析儀、試管架處理機（rack handler）、實驗室資訊系統。 蛋白質 3D 結構的超快速分析——10 分鐘內完成 cryo-EM 樣品製備—— 大阪大學藥學研究科 生物分子結構與功能分析研究室 可讓參觀者以類似智慧型手機的操作體驗電子顯微鏡的博物館
能力與產品項目
- 半導體分析儀器
- 半導體前處理儀器
- 用於半導體檢查的 SEM 顯微鏡
- 用於半導體檢查的 TEM 顯微鏡
- 用於半導體產業的 electron beam lithography 系統
- 用於半導體產業的 electron microscopes
- 用於薄膜形成與材料加工的 electron beam sources
- 用於薄膜形成與材料加工的 plasma sources