기본 정보
| 부스 | K2276 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.jem-net.co.jp |
회사 소개
JEM TAIWAN PROBE CORP.는 1998년부터 Japan Electronic Materials Corp.의 대만 자회사이며 주요 생산품은 probe card입니다. 회사는 전문 probe card 공급업체로서 첨단 기술 제품과 서비스를 제공하며 Logic, Memory, LCD/Dr. 응용을 다룹니다. 2010년에는 Memory 및 Logic 소자의 wafer Al pad용 NP3 / XP probe 재료를 개발했고 낮은 probe force에서도 양호한 접촉 특성을 제공하면서 probe 청소 빈도를 줄인다고 설명합니다. 기술 범위에는 Memory DRAM / DDR / NAND-Flash의 미세 피치 소자용 advanced Vertical 및 MEMS 제품도 포함됩니다. JEM TAIWAN PROBE CORP.는 probe card 사업을 반도체 웨이퍼 테스트에 위치시키고 글로벌 관점, 기술 개발, Logic과 Memory 응용에서의 고객 사용을 강조합니다.
전시 제품
JEM TAIWAN PROBE CORP.는 주로 DRAM과 NAND 플래시 메모리 웨이퍼 테스트에 사용되는 probe card를 공급하며 MEMS 기술과 수직 접촉 구조로 고밀도 probe 배열에 대응하는 제품을 포함합니다. MC Series는 MEMS와 박막 다층 배선 기술로 제작한 MEMS probe card로 300mm 웨이퍼 full-wafer probing을 지원하고 DRAM과 NAND flash memory 소자에 적합합니다. JEM은 MC Series가 자사 제품 중 가장 많은 probe를 장착할 수 있는 제품이라고 설명하며 probe와 배선 기판 일부에 MEMS 기술을 적용해 고밀도 probe card를 구현합니다. MT Series는 Logic IC용 MEMS형 probe card로 수직 MEMS probe를 사용해 fine-pitch area array를 지원하고 Cu pillar bumps와 pads를 가진 flip-chip 측정용으로 개발되었습니다. VS Series는 micro spring pins를 사용하는 수직 접촉형 probe card로 스마트폰 등에 사용되는 MPU와 NAND flash memory의 웨이퍼 테스트를 주로 대상으로 하며 wire transformer, MLO, MLC, direct attachment 등의 장착 방식을 지원합니다. VS Series는 flip chip, area array, wafer-level CSP 응용에도 권장됩니다. VC Series는 수직 buckling structure를 사용해 12-inch wafer batch contact를 지원하며 NAND flash memory를 포함한 memory와 logic device의 고병렬 테스트용입니다. VC Series는 wafer batch measurement에서 많은 반도체 칩을 동시에 측정할 수 있고 memory IC 이외에서도 활용 실적과 노하우를 보유합니다. VT Series는 microcontroller와 SOC 등 Logic IC의 웨이퍼 테스트용 수직 접촉형 probe card로 수직 구조를 통해 cantilever probe card의 multi-DUT testing 제약을 해소하고 fine-pitch peripheral pads 소자에 대응합니다. 배선 기판 일부에 MEMS 부품을 사용해 VT Series는 동시 다소자 측정과 전기적 특성을 제공한다고 설명됩니다. VE Series는 vertical과 cantilever probe card의 특성을 결합하고 광원용 개구부를 확보하면서 CMOS imaging sensor의 고병렬 테스트와 다소자 동시 측정을 지원합니다. 응용은 스마트폰, 차량용 및 기타 카메라 시장의 CMOS와 CCD image sensor를 포함합니다. CE Series는 cantilever probe wires를 epoxy ring에 부착한 cantilever probe card로 고전류 자동차 소자, application processors, transistor devices를 포함한 다양한 Logic IC 시험에 사용됩니다. MC, MT, VS, VC, VT, VE, CE 제품군은 MEMS, 수직 접촉, spring-pin, hybrid, cantilever 방식을 아우르며 memory, logic, flip-chip, wafer-level CSP, image-sensor 웨이퍼 테스트를 포괄합니다.
역량 및 제품
- 반도체 프로브 카드 제조
- Memory/Logic용 NP3 / XP 프로브 소재
- 300mm DRAM/NAND용 MEMS 프로브 카드
- 미세 피치 Flip Chip용 수직 MEMS 프로브 카드
- 마이크로 스프링 핀 수직 접촉 프로브 카드
- CMOS 이미지 센서 고병렬 테스트용 프로브 카드
- Logic IC 테스트용 캔틸레버 프로브 카드