기본 정보
| 부스 | I2406 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.hsopto.com/products/6/1.htm |
회사 소개
HIROSE OPTO CO., LTD.는 2014년에 설립되었고 중국 본토의 Wuhan Jingce Electronic Group Co., Ltd.의 투자를 받았으며 공장은 신베이시 싼샤구에 위치합니다. 회사는 다양한 기술 및 신흥 산업 생산 공정에서 지난 10여 년 동안 축적된 깊은 AOI(자동 광학 검사) 역량과 풍부한 경험을 이어받고 있습니다. 광학 검사 장비 분야의 전문 인력을 모아 AOI 장비 개발과 제조에 집중하는 전문 팀을 구성합니다. HIROSE OPTO CO., LTD.는 전문 자동 광학 검사(AOI) 장비 공급업체로 사업을 전개하며 제품 범위에 반도체 계측 장비도 포함합니다. TFT-LCD 산업에서는 AOI 장비가 Array, CF, PI, ODF, Module 각 공정에 대응하여 디스플레이 생산의 여러 단계에 걸친 검사 경험을 갖추고 있습니다. 회사는 TFT-LCD 각 공정의 요구에 맞는 제품을 제공하고 AOI를 통해 고객의 공정 품질 관리를 지원합니다. TFT-LCD 분야의 AOI 성과를 기반으로 연구개발 투자를 확대하고 제품 응용 범위를 넓혀 왔습니다. 확대된 제품 포트폴리오에는 FPD AOI, Micro/Mini LED AOI, Micro OLED AOI, 반도체 계측 장비가 포함됩니다. 디스플레이 공정 AOI 경험, 광학 검사 전문 인력, 반도체 계측 제품을 결합해 HIROSE OPTO CO., LTD.는 디스플레이 제조 검사와 반도체 계측을 함께 포괄하는 제품 기반을 갖추고 있습니다. TFT-LCD 생산에서는 열거된 각 공정에서 고객의 품질 관리를 지원하는 제품을 제공하며 주요 대형 고객사로부터 일관된 호평을 받았다고 밝힙니다.
전시 제품
반도체 응용 분야에서 HIROSE OPTO CO., LTD.는 「웨이퍼 자동 광학 검사 WAFER AOI」로 표시된 웨이퍼 자동 광학 검사 시스템을 제공합니다. WAFER AOI는 WAFER 전공정에서 웨이퍼의 합격 여부를 판정하는 자동 검사 장비입니다. 결함 검사 시스템은 공정 후 Pattern loss와 함께 웨이퍼의 오염 및 스크래치를 검출합니다. 같은 WAFER AOI의 검사 범위에는 Pin Hole, 범프, Particle 결함도 포함됩니다. 표면 상태 이상도 결함 검출 범위에 포함되어 개별 입자나 패턴 결함에만 한정되지 않는 검사를 수행합니다. 자동 합격 판정과 열거된 결함 검출을 결합하여 WAFER AOI는 웨이퍼 전공정에서 공정 품질과 효율에 대한 고객 요구에 대응합니다. 이에 따라 WAFER AOI는 HIROSE OPTO CO., LTD.의 디스플레이 공정 AOI 경험을 반도체 WAFER 전공정 웨이퍼 검사와 결함 검출로 확장합니다.
역량 및 제품
- 자동 광학 검사(AOI) 장비 제조
- TFT-LCD 다공정 AOI 검사
- FPD AOI 검사 장비
- Micro/Mini LED AOI 검사 장비
- Micro OLED AOI 검사 장비
- 반도체 계측 장비
- WAFER 전공정 자동 광학 결함 검사