基本情報
| ブース | I2406 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | www.hsopto.com/products/6/1.htm |
会社概要
HIROSE OPTO CO., LTD.は2014年に設立され、中国本土のWuhan Jingce Electronic Group Co., Ltd.の出資を受け、工場は新北市三峡区に設けられています。同社は、各種技術分野および新興産業の製造工程で過去10数年にわたり蓄積されてきた、深いAOI（自動光学検査）の技術力と豊富な経験を継承しています。光学検査装置分野の専門人材を集め、その専門性をAOI装置の開発・製造に注力するチームとして組織しています。HIROSE OPTO CO., LTD.は専門的な自動光学検査（AOI）装置メーカーとして位置付けられ、製品分野には半導体計測装置も含まれます。TFT-LCD分野では、AOI装置がArray、CF、PI、ODF、Moduleの各工程に対応し、ディスプレイ製造の複数工程にわたる検査経験を持っています。TFT-LCDの各工程に適した製品を提供し、AOIによって顧客の工程品質管理を支援しています。TFT-LCD分野でのAOI実績を基盤として、研究開発への投入を増やし、製品の応用領域を拡大してきました。拡大した製品ポートフォリオには、FPD AOI、Micro/Mini LED AOI、Micro OLED AOI、半導体計測装置が含まれます。ディスプレイ工程のAOI経験、光学検査の専門人材、半導体計測製品を組み合わせることで、HIROSE OPTO CO., LTD.はディスプレイ製造検査と半導体計測の双方をカバーする製品基盤を持っています。TFT-LCDの生産では、各工程で顧客の品質管理を支える製品を提供し、大手工場の顧客から一貫して高い評価を得ているとしています。
展示製品
半導体用途向けに、HIROSE OPTO CO., LTD.は「ウェハー自動光学検査 WAFER AOI」として示されるウェハー自動光学検査システムを提供しています。WAFER AOIは、WAFER前工程においてウェハーの合否を判定する自動検査装置です。欠陥検査システムは、工程後のPattern lossに加え、ウェハー上の汚染や傷を検出します。同じWAFER AOIでは、Pin Hole、バンプ、Particleなどの欠陥も検出対象です。表面状態の異常も欠陥検出範囲に含まれ、粒子やパターンの個別欠陥だけに限定しない検査を行います。自動合否判定と各種欠陥検出を組み合わせることで、WAFER AOIはウェハー前工程における工程品質と効率に関する顧客要求への対応を目的としています。このWAFER AOIにより、HIROSE OPTO CO., LTD.はディスプレイ工程で培ったAOI経験を、半導体のWAFER前工程におけるウェハー検査と欠陥検出へ展開しています。
対応領域・製品
- 自動光学検査（AOI）装置製造
- TFT-LCD複数工程AOI検査
- FPD AOI検査装置
- Micro/Mini LED AOI検査装置
- Micro OLED AOI検査装置
- 半導体計測装置
- WAFER前工程自動光学欠陥検査