基本資料
| 攤位 | I2406 |
| 國別 | TW |
| 網站 | www.hsopto.com/products/6/1.htm |
公司簡介
宏瀨光電有限公司成立於 2014 年，由大陸武漢精測電子集團投資，工廠設立於新北市三峽區。公司承襲過去十多年在各科技與新興產業製程中累積的深厚 AOI（自動光學檢測）實力與豐富經驗。公司集合光學檢測設備領域的專業人才，將相關專業整合成專注於 AOI 設備開發與製造的團隊。宏瀨光電有限公司定位為專業自動光學檢測（AOI）設備供應商，產品範圍也包含半導體量測設備。在 TFT-LCD 產業中，其 AOI 設備可支援 Array、CF、PI、ODF 與 Module 各段製程，使公司的檢測經驗涵蓋顯示器生產中的多個製程階段。公司依 TFT-LCD 各段製程需求提供相應產品，並以 AOI 協助客戶進行製程品質把關。TFT-LCD 領域的 AOI 成果成為公司進一步投入研發並擴大產品應用範圍的基礎。擴展後的產品應用包含 FPD AOI、Micro/Mini LED AOI、Micro OLED AOI 與半導體量測設備。顯示器製程 AOI 經驗、光學檢測專業團隊與半導體量測產品共同構成宏瀨光電有限公司的產品基礎，使其業務同時涵蓋顯示器製造檢測與半導體量測。在 TFT-LCD 生產中，公司表示其產品可在所列各段製程協助客戶進行品質把關，並獲得各大廠客戶一致好評。
展出產品
在半導體應用方面，宏瀨光電有限公司提供「自動晶圓光學檢測 WAFER AOI」自動晶圓光學檢測系統。WAFER AOI 是用於 WAFER 前段製程中判定晶圓合格與否的自動檢查機。其缺陷檢測系統可檢出製程後的 Pattern loss，並可檢測晶圓上的汙染與刮傷。同一套 WAFER AOI 的檢測範圍也包含 Pin Hole、凸點與 Particle 等缺陷。表面狀態異常也納入缺陷檢測範圍，使檢查不只侷限於獨立的微粒或圖形缺陷。WAFER AOI 將自動合格判定與上述缺陷類別檢測結合，用於因應 WAFER 前段製造中客戶對製程品質與效率的需求。因此，WAFER AOI 將宏瀨光電有限公司在顯示器製程中的 AOI 經驗延伸至半導體 WAFER 前段的晶圓檢查與缺陷檢測。
能力與產品項目
- 自動光學檢測（AOI）設備製造
- TFT-LCD 多製程 AOI 檢測
- FPD AOI 檢測設備
- Micro/Mini LED AOI 檢測設備
- Micro OLED AOI 檢測設備
- 半導體量測設備
- WAFER 前段自動光學缺陷檢測