기본 정보
| 부스 | I2006 |
| 국가 | TW |
회사 소개
GAIN-TEK SEMICONDUCTOR MATERIAL CO., LTD.는 Gain-Tek Corporation으로도 소개되며 대만에서 반도체 패키징 및 테스트용 소재와 측정 제품을 공급하고 제조합니다. 1997년에 설립되어 Sensofar, 공초점 현미경, 백색광 간섭계와 반도체 패키징·테스트 공장의 주요 소재에 주력합니다. Sensofar는 Gain-Tek을 대만 독점 총대리점으로 지정해 반도체 전공정, 중간공정, 후공정 전반의 정밀 측정 수요를 지원합니다. 소재 공급 범위에는 IC packaging carrier boards, test wafers, wafer frames, BASF thermal caps가 포함되며 대리, 제조, 유통 기능을 결합해 패키징 및 테스트 작업을 지원합니다. 측정 사업은 반도체 및 인접 정밀 산업을 대상으로 3D profilometry, 공초점 측정, 백색광 간섭 관련 광학 측정 기술을 다룹니다. 따라서 패키징·테스트 소모재와 캐리어 소재, 정밀 측정 장비, 대만 유통 및 지원을 결합해 공정 개발과 생산 측정 수요에 대응합니다.
전시 제품
패키징 및 테스트 소재에는 IC packaging carrier boards, test wafers, wafer frames, BASF thermal caps가 포함되며 S neox는 3D optical profilometer로 제시됩니다. PCB, 반도체, 패널, 정밀 금형, 수동부품, AI, CPO 광학 모듈 등의 산업에 높이, roughness, R값 요구에 따라 밀리미터, 마이크로미터, 나노미터 범위의 측정 장비를 제공합니다. 3D 센서 헤드는 진동이나 부식성 재료로 측정이 어려워지는 생산 환경을 고려해 설계되었고 광학 부품에 이동 부품이 없으며 밀폐형 센서 헤드가 파편과 입자의 유입을 막습니다. 반도체 EFEM 외에도 PCB 또는 패널 고객을 위한 장거리 맞춤 서비스를 제공해 더 큰 범위의 치수 측정에 대응합니다. Smart 2는 간섭 방식과 공초점 측정을 하나의 헤드에 결합해 높은 횡방향 분해능, 정확성, 반복성이 필요한 면 측정에 적합합니다. S neox의 3D optical profilometry와 Smart 2의 간섭·공초점 방식은 3D 표면 특성 분석과 까다로운 면 측정 작업 모두에 선택지를 제공합니다. 패키징·테스트 소재, wafer-frame, test-wafer, BASF thermal-cap, Sensofar 대만 유통을 결합해 반도체 전공정, 중간공정, 후공정에서 소모재와 정밀 측정을 함께 지원합니다.
역량 및 제품
- 밀리미터~나노미터 높이·거칠기·R값 측정
- 밀폐형 3D 광학 센서 헤드
- PCB/패널 대행정 맞춤 측정
- 간섭+공초점 측정 헤드
- 3D 광학 프로파일러 공급(S neox)