GAIN-TEK SEMICONDUCTOR MATERIAL CO., LTD.

基本情報

会社概要

GAIN-TEK SEMICONDUCTOR MATERIAL CO., LTD. は Gain-Tek Corporation / 研德企業有限公司としても示され、台湾で半導体パッケージング・テスト向け材料と測定製品を供給・製造しています。1997年設立で、Sensofar、共焦点顕微鏡、白色干渉計、半導体パッケージング・テスト工場向け主要材料に注力しています。Sensofar は Gain-Tek を台湾の独占総代理店に指定し、半導体の前工程、中工程、後工程にわたる精密測定ニーズを支援しています。材料供給には IC packaging carrier boards、test wafers、wafer frames、BASF thermal caps があり、代理、製造、販売機能を組み合わせてパッケージング・テスト工程を支えます。計測事業は半導体および周辺の精密産業向けに、3D profilometry、共焦点測定、白色干渉関連の光学測定技術を扱います。これにより、パッケージング・テスト用消耗材とキャリア材料、精密計測装置、台湾での販売・支援を組み合わせ、プロセス開発と生産測定ニーズに対応します。

展示製品

パッケージング・テスト材料には IC packaging carrier boards、test wafers、wafer frames、BASF thermal caps が含まれ、S neox は 3D optical profilometer とされています。PCB、半導体、パネル、精密金型、受動部品、AI、CPO 光学モジュールなどの産業向けに、高さ、roughness、R値の要求に応じ、ミリ、マイクロ、ナノスケールの測定機種を提供します。3D センサーヘッドは、振動や腐食性材料によって測定が難しくなる生産環境を考慮して設計され、光学部品に可動部を含まず、密閉型センサーヘッドで破片や粒子の侵入を防ぎます。半導体 EFEM 以外にも、PCB やパネル顧客向けの長ストロークカスタマイズを提供し、より大きな範囲の寸法測定に対応します。Smart 2 は干渉方式と共焦点測定を一つのヘッドに統合し、高い横方向分解能、精度、再現性が必要な面測定に適しています。S neox の 3D optical profilometry と Smart 2 の干渉・共焦点方式により、3D 表面特性評価と高要求の面測定の双方に選択肢を提供します。パッケージング・テスト材料、wafer-frame、test-wafer、BASF thermal-cap、Sensofar の台湾販売を組み合わせ、半導体の前工程、中工程、後工程で消耗材と精密計測を支援します。

対応領域・製品

• ミリ～ナノスケールの高さ・粗さ・R値測定
• 密閉型3D光学センサヘッド
• PCB／パネル向け大ストロークカスタム計測
• 干渉＋共焦点測定ヘッド
• 3D光学プロフィロメータ供給（S neox）

関連する製品トピック

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