G.C MICRO TECHNOLOGY CO., LTD.

SEMICON Taiwan 2026 참가업체 · 부스 N1083

부스 N1083국가 TW제품 주제 7개
전시회 정보

기본 정보

부스N1083
국가TW
웹사이트www.gcmicro.com.tw
참가업체 정보

회사 소개

G.C MICRO TECHNOLOGY CO., LTD.는 2009년 대만 타오위안시에서 설립된 접촉 프로브, 고무 팁, 베이클라이트 콜릿, 이젝팅 니들, EFO tools, die-shear tools, wire-pull tools, 반도체 IC 조립 및 LED 칩 제조·패키징용 금속 도가니 전문 제조업체입니다. 또한 ToF 3D imaging용 optical diffuser lenses와 DOE, 열 방출용 고열전도 TCM/TIM 재료, 디바이스 전기 시험용 sockets 등 글로벌 첨단기술 기업의 제품을 대리합니다. 제조와 서비스 범위에는 Pd/Ag/Cu 및 BeCu 합금 접촉 프로브, 플라스틱과 금속 이젝팅 니들 및 모듈, 고무 팁, 베이클라이트 콜릿, 기타 금속 부품, ToF 3D imaging용 diffuser lenses가 포함됩니다. 고객 수요에 따라 제품을 개발하며 mini-LED 칩 선별용 ID < 0.05 mm 고무 팁을 양산한 사례를 제시합니다. 현지 고객 서비스를 위해 쑤저우와 샤먼에 sales/FAE 사무소를 두고 LED와 반도체 IC 테스트 및 조립용 소모재 R&D를 계속하고 있습니다. 2012년 쑤저우 사무소를 설립했고 2014년 ISO-9001을 도입해 인증을 획득했으며 2016년 샤먼 사무소를 설립했습니다. 2021년에는 4,000 m2 신공장을 완공했으며 2017~2020년에는 ID=0.03 mm BAC Vacuum Collets를 양산하고 LED alloy bent-pin probes와 Vacuum Collets 생산능력을 각각 250K/month로 확대했습니다. 2024년에는 반도체 IC 패키징 및 FT 테스트 스테이션용 Vacuum Collets를 개발해 여러 고객이 채택했다고 설명하고 multi-hole porous Vacuum Collets와 Utility Model Patent M667294도 제시합니다. 2025년에는 rhenium-tungsten cantilever probes를 >150K/month의 생산능력으로 양산하고 CoWoS bare-die packaging용 대형 이종재질 Vacuum Collets와 -90℃ 초저온 Vacuum Collets를 개발했으며 동남아시아 시장으로 판매 범위를 확대하고 Utility Model Patents M674460, M677059를 제시합니다. 2026년에는 alloy-material cantilever probes를 >60K/month의 생산능력으로 양산하고 Perimeter Wall-type Vacuum Collets도 양산에 투입했으며 Utility Model Patent M682127을 제시합니다.

참가업체 정보

전시 제품

반도체 및 LED 툴링 범위에는 접촉 프로브, cantilever probes, vertical probes, 텅스텐 카바이드 및 기타 금속 이젝팅 니들과 모듈, 고무 팁, 베이클라이트 콜릿, EFO tools, die-shear tools, wire-pull tools, 금속 도가니가 포함됩니다. Cantilever와 vertical probe needles는 웨이퍼가 다이로 분리되기 전 웨이퍼 레벨의 칩 프로빙과 테스트에 사용되며, 프로브 카드의 핵심 부품으로 웨이퍼 위 칩 패드에 접촉해 전기 시험을 수행합니다. 일반 cantilever probe 범위는 프로브 직경 50~500 um, 길이 38~102 mm, Sharp 또는 Flat Tip, 팁 직경 6~10 um를 제시합니다. Mechanical Grinding Probe는 P7, H3C, Pd Alloy 재료, 직경 50~250 um, 길이 50~102 mm, Flat Tip, 팁 직경 6~10 um, Semi Matte 표면을 사용합니다. Chemical-etching Probe는 Ni-W, Ni-ReW 재료, 직경 60~500 um, 길이 38~102 mm이며 1.5인치부터 4.0인치 버전을 포함하고 Sharp 또는 Flat Tip, Semi Matte 또는 Polished 표면을 선택할 수 있습니다. Insulation coating은 Ni-W, Ni-ReW, P7 프로브에 적용되며 Polyimide 코팅 두께는 2~5 um입니다. 텅스텐 카바이드 이젝팅 니들은 LED 칩 선별기와 반도체 IC die bonding 조립 공정에 주로 적용되며 다이를 손상시키지 않고 테이프에서 분리하는 데 사용됩니다. 대표적인 rounding type은 길이 17 mm, 직경 0.7 mm, tapering angle 10 degree, tip radius 22 um이고 top-flat type은 길이 17 mm, 직경 0.7 mm, tapering angle 10 degree, Tip SR 50 um입니다. 주요 규격 범위는 직경 0.7 mm(+/- 0.05 mm), 길이 12~17 mm(+/- 0.05 mm, 맞춤 설계 가능), tapering angle 10 degree(+/- 1 degree), tip radius R 12~300 um(맞춤 설계 가능)입니다. 재료는 tungsten carbide, WC: Co (8.3%)이고 경도는 >1600.0 HV3 및 91.5 HRA이며 모든 재료가 SGS RoHS 시험에 적합하다고 설명합니다. 데이터는 교정된 장비로 측정하며 고객 인증 후 상관 확인이 필요하고, 다이 크기와 종횡비 및 손상 방지 요구에 따라 tip radius와 구조 설계를 조정할 수 있습니다. 다수의 rounding type 부품번호는 서로 다른 길이, tapering angle, tip radius, Flat 옵션, color ring 옵션을 제공해 다양한 다이 핸들링 조건에 맞는 형상을 선택할 수 있게 합니다. alloy-material cantilever probes는 >60K/month, rhenium-tungsten cantilever probes는 >150K/month의 생산능력으로 양산됩니다. 더 넓은 범위에는 ToF 3D imaging용 diffuser lenses와 반도체 IC 조립 및 LED 칩 제조·패키징용 소모 부품도 포함됩니다.

참가업체 정보

역량 및 제품

주제 그룹

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