기본 정보
| 부스 | I2924 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.favite.com/?doing_wp_cron=1614320302.9542040824890136718750 |
회사 소개
FAVITE Inc.는 2000년에 설립되었고 2008년 1월 대만증권거래소에 상장되었습니다. 회사는 연구개발과 특허 구축을 지속적으로 중시해 왔으며 TFT LCD, LTPS 및 AMOLED 디스플레이 산업에서 판매 성과를 만들어 왔다고 설명합니다. 디스플레이 산업 외에도 FAVITE Inc.는 반도체, PCB, Mini LED 및 Micro LED 분야로 진출했습니다. 핵심 검사 제품은 자동 광학 검사인 AOI이며 고객에게 공장 생산라인의 결함 검출과 수율 모니터링을 위한 완전한 솔루션으로 제공됩니다. 회사는 TFT-LCD, OLED, Mini LED 및 Micro LED AOI와 Auto Image Capture Machine, CDOL Measurement Equipment를 제품으로 제시합니다. 추가 역량으로 FOPLP RDL AOI, PCB용 맞춤 AOI, CIS AOI, Post Dicing AOI, Multi Function Auto OM (HORUS-2000) 및 맞춤형 AOI 솔루션을 제시합니다. 반도체 첨단 패키징에서는 웨이퍼 레벨 패키징 FOWLP와 패널 레벨 패키징 FOPLP 공정을 위한 맞춤 검사 솔루션을 제공해 스마트 제조를 지원합니다.
전시 제품
Horus A Series Wafer AI Auto OM은 반도체 웨이퍼 검사를 위해 AI 실시간 검사와 결함 분류를 제공합니다. Horus A는 비주기적이고 다양한 패턴 및 복잡한 배경을 가진 제품의 결함 검사에 특히 적합합니다. 시스템은 하나의 검사 플랫폼에 Z-stacking, FOV stitching 및 2D Metrology 기능을 통합합니다. 관련 검사 제품에는 Multi Function Auto AI OM, Wallis M Series PCB 및 IC Substrate AI AOI, FOPLP RDL 미세 배선 결함 검사 또는 AI Auto Review 솔루션이 포함됩니다. Wallis L Series Glass Wafer Combo AOI는 라인 스캔 고처리량 검사와 고속 이미지 캡처를 제공합니다. Wallis L은 12인치 silicon wafer/metal frame 전면 검사와 12인치 Glass wafer 양면 및 에지 외관 검사를 지원합니다. Wallis L 구성에는 12인치 wafer/metal frame EFEM, AI 실시간 결함 분류 기능 및 수율 관리 시스템이 포함됩니다. 관련 반도체 계측 제품에는 웨이퍼 레벨 2.5D 첨단 패키징 및 칩렛 통합 Die shift 계측 장비와 패널 레벨 2.5D 첨단 패키징 고정밀 Die shift 계측 장비가 포함됩니다. Horus A와 Wallis L은 반도체 계측 및 웨이퍼 AOI 제품군으로 분류됩니다. FOWLP, FOPLP, PCB, CIS, Post Dicing 및 웨이퍼 검사 응용에서 FAVITE Inc.는 자동 이미지 캡처, 광학 검사, 계측, AI 분류 및 수율 관리를 결합해 생산라인 결함 제어를 지원합니다.
역량 및 제품
- 생산라인 AOI 결함 검사 및 수율 모니터링
- TFT-LCD/OLED/Mini & Micro LED AOI
- 자동 이미지 캡처 장비
- CDOL 측정 장비
- FOPLP RDL AOI
- PCB 맞춤형 AOI
- CIS AOI
- Post Dicing AOI
- FOWLP/FOPLP 맞춤형 검사
- 웨이퍼 AI 실시간 검사 및 결함 분류
- Z-stacking/FOV stitching/2D Metrology
- 12인치 실리콘 웨이퍼 전면 외관 검사
- 12인치 유리 웨이퍼 양면·에지 검사
- PCB/IC 기판 AI AOI
- 2.5D 첨단 패키징 Die shift 계측