基本情報
| ブース | I2924 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Die Inspection; Die Shear · Microscopes: Scanning Electron Microscope (SEM); Focused Ion Beam (FIB), Transmission Electron Micr · Package Inspection; Lead Scanners · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Bumping Systems · FPD Test; Measurement; Repair Equipment · Linear Test Systems · Logic Test Systems · Package Test Systems · CAM or CIM - Computer Aided Manuf'g; Computer Integrated Manuf'g · Test Programs · Yield Mgmt; Process Control Software |
| ウェブサイト | www.favite.com/?doing_wp_cron=1614320302.9542040824890136718750 |
会社概要
FAVITE は 2000 年に設立され、2008 年 1 月に台湾証券取引所に上場しました。長年にわたり研究開発と特許取得を重視し続け、TFT LCD/LTPS/AMOLED ディスプレイ業界で優れた販売実績を上げてきました。近年、FAVITE は半導体、PCB、Mini/Micro LED などの専門分野へ進出を開始し、工場の生産ラインにおける欠陥検出と歩留まり管理の完全なソリューションとして、高精度・高品質の自動光学検査（AOI）をお客様に提供しています。1. TFT-LCD/OLED/Mini & Micro LED AOI 2. Auto Image Capture Machine、CDOL Measurement Equipment 3. FOPLP RDL AOI、Customized AOI for PCB 4. CIS AOI、Post Dicing AOI 5. Multi Function Auto OM(HORUS-2000) 6. カスタマイズ AOI ソリューション
対応領域・製品
- CIS AOI
- FOPLP RDL AOI
- PCB 向けカスタム AOI
- TFT-LCD、OLED、Mini LED、Micro LED AOI
- ダイシング後 AOI
- 欠陥検出と歩留まり監視向け automatic optical inspection (AOI)