基本情報
| ブース | I2924 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | www.favite.com/?doing_wp_cron=1614320302.9542040824890136718750 |
会社概要
FAVITE Inc. は 2000 年に設立され、2008 年 1 月に台湾証券取引所へ上場しました。 同社は研究開発と特許構築を継続的に重視し、TFT LCD、LTPS、AMOLED ディスプレイ産業で販売実績を築いてきたとしています。 ディスプレイ産業に加え、FAVITE Inc. は半導体、PCB、Mini LED、Micro LED の分野へ展開しています。 中核の検査製品は自動光学検査である AOI で、顧客向けに工場生産ラインの欠陥検出と歩留まり監視のための包括的ソリューションとして提供されます。 製品として TFT-LCD、OLED、Mini LED、Micro LED 向け AOI、Auto Image Capture Machine、CDOL Measurement Equipment が挙げられています。 さらに FOPLP RDL AOI、PCB 向けカスタム AOI、CIS AOI、Post Dicing AOI、Multi Function Auto OM (HORUS-2000)、カスタム AOI ソリューションを提供します。 半導体先端パッケージングでは、ウェハレベルパッケージ FOWLP とパネルレベルパッケージ FOPLP 工程向けのカスタム検査ソリューションを提供し、スマート製造を支援します。
展示製品
Horus A Series Wafer AI Auto OM は、半導体ウェハ検査向けに AI リアルタイム検査と欠陥分類を提供します。 Horus A は、非周期・多様なパターンや複雑な背景を持つ製品の欠陥に特に対応します。 同一の検査プラットフォームに Z-stacking、FOV stitching、2D Metrology 機能を統合しています。 関連検査製品には Multi Function Auto AI OM、Wallis M Series の PCB・IC Substrate AI AOI、FOPLP RDL 微細配線欠陥検査または AI Auto Review ソリューションがあります。 Wallis L Series Glass Wafer Combo AOI は、ラインスキャンによる高スループット検査と高速画像取得を提供します。 Wallis L は、12 インチ silicon wafer/metal frame の表面検査と、12 インチ Glass wafer の両面およびエッジ外観検査に対応します。 Wallis L は 12 インチ wafer/metal frame EFEM、AI リアルタイム欠陥分類、歩留まり管理システムを備えます。 関連する半導体計測製品には、ウェハレベル 2.5D 先端パッケージング・チップレット統合 Die shift 計測装置と、パネルレベル 2.5D 先端パッケージング向け高精度 Die shift 計測装置があります。 Horus A と Wallis L は半導体計測およびウェハ AOI 製品群に分類されます。 FOWLP、FOPLP、PCB、CIS、Post Dicing、ウェハ検査の用途で、FAVITE Inc. は自動画像取得、光学検査、計測、AI 分類、歩留まり管理を組み合わせ、生産ラインの欠陥管理を支援します。
対応領域・製品
- 生産ラインAOI欠陥検出・歩留まり監視
- TFT-LCD/OLED/Mini & Micro LED AOI
- 自動画像取得装置
- CDOL計測装置
- FOPLP RDL AOI
- PCB向けカスタムAOI
- CIS AOI
- Post Dicing AOI
- FOWLP/FOPLP向けカスタム検査
- ウェハAIリアルタイム検査・欠陥分類
- Z-stacking/FOV stitching/2D Metrology
- 12インチシリコンウェハ表面検査
- 12インチガラスウェハ両面・エッジ検査
- PCB/IC基板AI AOI
- 2.5D先端パッケージDie shift計測