基本情報
会社概要
ENLI TECHNOLOGY CO., LTD.は、Enlitechブランドでも展開する台湾の人工光源、分光分析、光学センサー試験ソリューションのプロバイダーです。中核技術には人工光源と分光分析が含まれ、製品市場はimage sensor test solutions、advanced photodetector test systems、quantum efficiency test solutions、各種光シミュレータをカバーします。半導体、材料研究、航空宇宙、自動車、電子部品、太陽光発電などの産業に対応しています。製品分野にはsemiconductor testing solutionsとsilicon photonics measurementが含まれます。ウェーハレベルのシリコンフォトニクス試験ソリューションには、hyperspectral imagingによる欠陥特性評価と、30 dBm（1 W）を超える出力を提供するプラットフォームが含まれます。
展示製品
Night Jarは次世代SiPhソリューションで、WAT、CP、FT向けの正確で効率的なウェーハレベル光損失試験を提供し、主要プローバーと統合することで設計検証を加速し、サイクルを短縮し、PIC/EIC SOIC量産の品質を確保します。QFLS-Maperは3秒でQFLSマップを提供し、2分で材料効率を予測して、太陽光発電材料の可能性を迅速に評価します。SS-LED220EXは、大面積のClass A++可変スペクトルLEDソーラーシミュレータで、フルスペクトル範囲を1800 nmまで拡張し、PVおよび太陽電池デバイス向けのquantum efficiency/EQE/IQE/IPCE/SR試験機能を提供します。PD-QEは、光源不安定性<1%で正確なEQEおよびIV測定を提供します。ウェーハレベルのシリコンフォトニクス試験では、一方のプラットフォームがhyperspectral imagingを用いて欠陥の位置、分類、定量化を正確に行い、もう一方は30 dBm（1 W）を超える出力を提供して従来の26 dBm制限を上回ります。
対応領域・製品
- シリコンフォトニクスウェーハのWAT・CP・FT試験システム
- シリコンフォトニクスのハイパースペクトル欠陥位置特定・定量分析
- 電気プローブステーションの光学試験機能へのアップグレード
- シリコンフォトニクスPCMの光電パラメータ受入試験
- シリコンフォトニクスのウェーハレベルKGD選別
- シリコンフォトニクスの挿入損失測定
- シリコンフォトニクスの反射減衰量測定
- シリコンフォトニクスの偏波依存損失測定
- 導波路伝搬損失測定
- 光リンクのクロストーク診断
- シリコンフォトニクスウェーハの欠陥マップ生成
- サブミクロンGC・EC自動光結合
- O-to-O・O-to-E同時測定
- -40°Cから+125°Cの温度制御シリコンフォトニクス試験
- 1310nm連続波レーザーによるPICバーンイン試験
- PIC光損傷閾値測定
- PICの挿入損失時間曲線・長期信頼性測定
- ポアンカレ球全域の偏光状態制御
- CMOSイメージセンサーの非破壊光学検査
- イメージセンサーの全波長量子効率・分光応答解析
- イメージセンサーのシステムゲイン測定
- イメージセンサー感度解析
- イメージセンサーのダイナミックレンジ測定
- イメージセンサーの暗ノイズ・信号対雑音比解析
- イメージセンサー飽和容量解析
- イメージセンサー線形誤差評価
- イメージセンサーの暗信号・光応答の不均一性試験
- CMOSセンサーの主光線角度CRA測定
- 画面下指紋認証TFTイメージングモジュールの検査
- SPAD単一光子アバランシェダイオード統合試験システム
- SPADの全波長光子検出確率試験
- SPAD暗計数・ブレークダウン電圧測定
- SPADタイミングジッター・アフターパルス解析
- マイクロメートル級光センサーの全波長量子効率試験
- 光センサーの分光応答測定
- 光センサーのNEP・D*スペクトル解析
- 光センサーの周波数ノイズ解析
- 光センサーのフリッカー・熱・ショットノイズ解析
- 光センサーの照射時・暗時I-V試験
- 3端子・4端子Photo-FET試験
- 光センサー試験用プローブステーションのカスタム統合
- 一定光子束での分光試験
- ビームサイズ・光強度をカスタマイズした光源
- 光センサー分光測定・グローブボックス統合
- 10^-14 A分解能の光電流測定
- 20 Vから200 Vのバイアス電圧による光センサー試験
- ペロブスカイト・有機・量子ドット光センサーの特性解析
- 光センサー角度応答試験システム
- 150 dBダイナミックレンジの車載カメラ試験用光源
- LEDフリッカーシミュレーター
- -40°Cから80°Cの温度制御車載カメラ試験
- ALS環境光センサー用校正光源
- 光センサー光強度応答の直線性校正
- 画面下指紋センサー・LiDARの環境光干渉シミュレーション
- カスタムAM1.5Gソーラーシミュレーター
- AM0宇宙太陽光シミュレーター
- カスタム遮光・電磁シールド試験暗箱
- 擬フェルミ準位分裂QFLSマッピング・材料効率予測
- 大面積波長可変LEDソーラーシミュレーター
- シリコンフォトニクスの結合効率測定
- シリコンフォトニクスの結合角度応答測定
- 光リンク損失測定
- シリコンフォトニクスの周波数応答・帯域幅測定
- 光リンクの遅延・分散測定
- CIS・ALSのウエハーレベル光電統合試験
- 光センサーウエハーの温度制御試験
- ウエハーのDC・CV・RF統合測定
- 光センサーのウエハーマッピング・歩留まり検査
- ToFセンサー試験
- LiDARセンサー試験
- 星明かりレベルの低照度センサー試験用光源
- PDAF試験用高コリメーション光源
- ATE統合型大面積均一照明器
- コンピューター制御回転・XY移動試料ステージ
- 光センサー試験治具のカスタマイズ
- 300nm~1100nm全スペクトル放射照度計
- 光源の照度・CIE色度座標解析
- ソーラーシミュレーターのスペクトル測定・分類
- 屋内太陽光発電用光源の評価・Jsc（EQE）計算
- 太陽電池のEQE・IQE・IPCE・分光感度測定
- タンデム・多接合太陽電池試験
- 太陽電池の反射率測定
- 太陽電池のバンドギャップ解析
- 太陽電池のスペクトルミスマッチ係数計算・補正
- バルクヘテロ接合の相分離研究用測定
- 太陽電池のJsc・Voc・FF効率損失解析
- 暗室用光スポット位置特定・観察ツール
- 材料のPL・PLQY測定システム
- その場でのPLスペクトル経時変化解析
- フォトルミネッセンス用LED・レーザー励起光源
- 高感度エレクトロルミネッセンス効率試験システム
- 電圧依存エレクトロルミネッセンススペクトル測定
- ソーラーシミュレーター校正用基準太陽電池
- 基準太陽電池の再校正サービス
- 太陽光発電I-V測定・照射制御ソフトウェア
- 太陽電池のSun-Voc試験
- 太陽電池の理想係数測定・フィッティング
- 太陽電池量子効率測定システム・ソーラーシミュレーターのグローブボックス統合
- CISマイクロレンズ設計検証用測定