基本情報
| ブース | I2923 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | PV: Cells · Die Inspection; Die Shear · Package Inspection; Lead Scanners · Cells · Inspection and Metrology · Integration and Automation · Thin Film · Optical Test Systems · Package Test Systems · Parametric Test Systems · System on a Chip (SOC); Mixed Signal Test Systems · Materials, Nanotechnology · Gases & Liquid Chemicals · Sensors · Cameras - Still; CCD; Video & Monitors · Calibration & Reference Standards · Certification; Compliance; Independent Laboratories · Flat Panel Display (FPD) Design & Manufacturing · Nanotechnology Intellectual Property Development; Research · Package Materials; Interconnect; Subcomponent; Subassembly Design Services · Product Development; Software Design; Product Lifecycle Management · Software Programming; Software Development |
| ウェブサイト | enlitechnology.com |
会社概要
ENLI TECHNOLOGY CO., LTD. は Enlitech としても展開する台湾企業で、人工光源、分光分析、光学センサー試験ソリューションを提供しています。Enlitech は 2009 年 3 月に設立されました。コア技術は人工光源と分光分析であり、主要な 4 つの製品市場は image sensor test solutions、advanced photodetector test systems、quantum efficiency test solutions、各種 light simulators です。対象産業には半導体、材料研究、航空宇宙、自動車、電子部品、太陽光発電が含まれます。製品領域には semiconductor testing solutions と scientific research instruments が含まれ、semiconductor testing と silicon photonics measurement も含まれます。Enlitech の関連能力は、ウェハ、イメージセンサー、SiPh デバイス、関連半導体フォトニクス用途向けの光学、分光、センサー特性評価システムです。
対応領域・製品
- dToF フォトディテクター試験
- イメージセンサー試験ソリューション
- ウェハレベルのイメージセンサー特性評価
- シリコンフォトニクス測定システム
- 人工光源システム
- 先端フォトディテクター試験システム
- 光シミュレーター
- 光センサー試験ソリューション
- 分光分析システム
- 量子効率試験ソリューション