基本資料
公司簡介
光焱科技股份有限公司，品牌亦稱 Enlitech，是台灣的人工光源、光譜分析與光學感測器測試解決方案供應商。其核心技術包括人工光源與光譜分析，產品市場涵蓋 image sensor test solutions、advanced photodetector test systems、quantum efficiency test solutions 與各式 light simulators。其服務產業包括半導體、材料研究、航空航太、汽車、電子元件與光伏。其產品領域涵蓋 semiconductor testing solutions 與 silicon photonics measurement。其晶圓級矽光子測試解決方案包括利用 hyperspectral imaging 進行缺陷表徵，以及提供超過 30 dBm（1 W）輸出功率的平台。
展出產品
Night Jar 是新一代 SiPh 解決方案，可提供 WAT、CP 與 FT 的精準高效率晶圓級光損耗測試，並整合主流探針台，以加速設計驗證、縮短週期並確保 PIC/EIC SOIC 量產品質。QFLS-Maper 可在 3 秒內提供 QFLS 圖，並在 2 分鐘內預測材料效率，以快速評估光伏材料潛力。SS-LED220EX 是大面積 Class A++ 可調光譜 LED 太陽光模擬器，全光譜覆蓋延伸至 1800 nm，並提供 PV 與太陽能電池元件的 quantum efficiency/EQE/IQE/IPCE/SR 測試能力。PD-QE 可提供精準的 EQE 與 IV 量測，光源不穩定度為 <1%。在晶圓級矽光子測試方面，一個平台利用 hyperspectral imaging 精準定位與表徵缺陷，涵蓋位置、分類與量化，另一個平台則提供超過 30 dBm（1 W）的輸出功率，超越傳統 26 dBm 限制。
能力與產品項目
- 矽光子晶圓 WAT、CP 與 FT 測試系統
- 矽光子高光譜缺陷定位與定量分析
- 電性探針台光學測試升級
- 矽光子 PCM 光電參數允收測試
- 矽光子晶圓級 KGD 篩選
- 矽光子插入損耗量測
- 矽光子回波損耗量測
- 矽光子偏振相關損耗量測
- 波導傳播損耗量測
- 光學鏈路串擾診斷
- 矽光子晶圓缺陷分佈圖生成
- 亞微米 GC 與 EC 自動光耦合
- O-to-O 與 O-to-E 同步量測
- 矽光子 -40°C 至 +125°C 溫控測試
- 1310nm 連續波雷射 PIC 老化測試
- PIC 光損傷閾值量測
- PIC 插入損耗時間曲線與長期可靠度量測
- 全龐加萊球偏振態控制
- CMOS 影像感測器無損光學檢測
- 影像感測器全光譜量子效率與光譜響應分析
- 影像感測器系統增益量測
- 影像感測器靈敏度分析
- 影像感測器動態範圍量測
- 影像感測器暗雜訊與訊噪比分析
- 影像感測器飽和容量分析
- 影像感測器線性誤差評估
- 影像感測器暗訊號與光響應非均勻性測試
- CMOS 感測器主光線角度 CRA 量測
- 螢幕下指紋 TFT 影像模組檢測
- SPAD 單光子雪崩二極體整合測試系統
- SPAD 全光譜光子探測率測試
- SPAD 暗計數與崩潰電壓量測
- SPAD 時間抖動與後脈衝特性分析
- 微米級光感測器全光譜量子效率測試
- 光感測器光譜響應量測
- 光感測器 NEP 與 D* 光譜分析
- 光感測器頻率雜訊分析
- 光感測器閃爍、熱與散粒雜訊分析
- 光電感測器照光與暗態 I-V 測試
- 三端與四端 Photo-FET 測試
- 光感測器測試探針台客製整合
- 恆定光子通量光譜測試
- 客製光束尺寸與光強度光源
- 光電感測器光譜量測與手套箱整合
- 光電流 10^-14 A 解析度量測
- 20 V 至 200 V 偏壓光電感測器測試
- 鈣鈦礦、有機與量子點光感測器特性分析
- 光感測器角度響應測試系統
- 150 dB 動態範圍車用攝影機測試光源
- LED 閃爍模擬器
- 車用攝影機 -40°C 至 80°C 溫控測試
- ALS 環境光感測器校準光源
- 光感測器光強響應線性度校準
- 屏下指紋與 LiDAR 抗環境光干擾模擬
- 客製 AM1.5G 太陽光模擬器
- AM0 太空太陽光模擬器
- 客製遮光與電磁屏蔽測試暗箱
- 準費米能階分裂 QFLS 映射與材料效率預測
- 大面積可調光譜 LED 太陽光模擬器
- 矽光子耦合效率量測
- 矽光子耦合角度響應量測
- 光學鏈路損耗量測
- 矽光子頻率響應與頻寬量測
- 光學鏈路延遲與色散量測
- CIS 與 ALS 晶圓級光電整合測試
- 光感測器晶圓溫控測試
- 晶圓 DC、CV 與 RF 整合量測
- 光感測器晶圓映射與良率檢查
- ToF 感測器測試
- LiDAR 感測器測試
- 星光級低照度感測器測試光源
- PDAF 測試用高準直光源
- ATE 整合式大面積均勻照明器
- 電腦控制旋轉與 XY 位移樣品台
- 客製光感測器測試治具
- 300nm~1100nm 全光譜輻照度計
- 光源照度與 CIE 色座標分析
- 太陽光模擬器光譜量測與分級
- 室內光伏光源評估與 Jsc（EQE）計算
- 太陽能電池 EQE、IQE、IPCE 與光譜響應量測
- 串疊與多接面太陽能電池測試
- 太陽能電池反射率量測
- 太陽能電池能隙分析
- 太陽能電池光譜失配因子計算與校正
- 體異質接面相分離研究量測
- 太陽能電池 Jsc、Voc 與 FF 效率損失分析
- 暗室光斑定位觀察工具
- 材料 PL 與 PLQY 量測系統
- 原位時間變化 PL 光譜分析
- 光致發光用 LED 與雷射激發光源
- 高靈敏度電致發光效率測試系統
- 電壓相依電致發光光譜量測
- 太陽光模擬器校準用參考電池
- 參考太陽能電池重新校準服務
- 光伏 I-V 量測與光照控制軟體
- 太陽能電池 Sun-Voc 測試
- 太陽能電池理想因子量測與擬合
- 太陽能電池量子效率與太陽光模擬器手套箱整合
- CIS 微透鏡設計驗證量測